[發明專利]自適應光學設備和包括該自適應光學設備的成像設備

有效

• 申請號: 201010515587.1
• 申請日: 2010-10-22
• 公開（公告）號: CN102038488A
• 公開（公告）日: 2011-05-04
• 發明（設計）人: 廣瀨太;齊藤賢一
• 申請（專利權）人: 佳能株式會社
• 主分類號: A61B3/14
• 分類號: A61B3/14
• 代理公司: 中國國際貿易促進委員會專利商標事務所 11038
• 代理人: 楊小明

1.一種自適應光學設備，包括：

第一轉換單元，所述第一轉換單元被構造為將光的兩個偏振分量中的一個的偏振方向轉換為所述偏振分量中的另一個的偏振方向，所述光由光源發射；

光調制單元，所述光調制單元被構造為在經轉換的偏振方向上對通過第一轉換單元轉換的光的兩個偏振分量進行調制；

第二轉換單元，所述第二轉換單元被構造為將通過所述光調制單元調制的光的各偏振分量的方向轉換為彼此交叉的方向；和

照射單元，所述照射單元被構造為用被所述光調制單元轉換的光照射物體。

2.根據權利要求1所述的自適應光學設備，還包括：

像差測量單元，所述像差測量單元被構造為測量所述物體的像差，

其中，所述光調制單元基于所述像差測量單元獲取的測量結果對與所述像差測量單元光學共軛的位置處的被第一轉換單元轉換的光進行調制。

3.根據權利要求2所述的自適應光學設備，

其中，所述物體為被檢者眼睛，

其中，所述像差在被檢者眼睛的眼前節中產生，以及

其中，所述光調制單元設在與所述眼前節光學共軛的位置處。

4.根據權利要求2所述的自適應光學設備，

其中，所述像差測量單元用于測量像差的光和用于獲取物體圖像的光是由彼此不同的光源發射的。

5.根據權利要求1所述的自適應光學設備，

其中，第二轉換單元將返回光束的兩個偏振分量中的一個的偏振方向轉換為所述兩個偏振分量中的另一個的偏振方向，所述返回光束是從被所述照射單元用光照射的所述物體返回的，

其中，所述光調制單元在經轉換的偏振方向上對被第二轉換單元轉換的光進行調制，以及

其中，第一轉換單元將通過所述光調制單元調制的光的兩個偏振分量的方向轉換為彼此交叉的方向。

6.根據權利要求1所述的自適應光學設備，還包括：

偏振光束劃分單元，所述偏振光束劃分單元被構造為將由所述光源發射的光劃分成兩個偏振分量；和

偏振光束組合單元，所述偏振光束組合單元被構造為組合被第二轉換單元轉換的光。

7.根據權利要求6所述的自適應光學設備，

其中，第一轉換單元和第二轉換單元分別為第一半波板和第二半波板，

其中，第一補償板設在所述偏振光束劃分單元和所述光調制單元之間，第一補償板對第一半波長板補償光路或偏差，以及

其中，第二補償板設在所述偏振光束組合單元和所述光調制單元之間，第二補償板對第二半波長板補償光路或偏差。

8.一種用于拍攝物體的圖像的成像設備，該成像設備包括：

根據權利要求1所述的自適應光學設備；和

獲取單元，所述獲取單元被構造為基于從被照射單元用光照射的物體返回的返回光束獲取所述物體的圖像。

9.根據權利要求8所述的成像設備，還包括：

劃分單元，所述劃分單元被構造為將光源發射的光劃分成參考光束和進入第一轉換單元的光束，

其中，圖像獲取單元基于由返回光束和參考光束之間的干涉而產生的干涉光束來獲取所述物體的斷層圖像，返回光束是從被所述照射單元用光照射的所述物體返回的。

10.一種自適應光學方法，包括：

將光的兩個偏振分量中的一個的偏振方向轉換為所述偏振分量中的另一個的偏振方向的第一轉換步驟，所述光是由光源發射的；

在經轉換的偏振方向上對在第一轉換步驟中轉換的光的兩個偏振分量進行調制的光調制步驟；

將在所述光調制步驟中調制的光的各偏振分量的方向轉換為彼此交叉的方向的第二轉換步驟；和

用通過所述光調制步驟轉換的光照射物體的照射步驟。