[發明專利]分析位置的方法與裝置

有效

• 申請號: 201010502660.1
• 申請日: 2010-10-08
• 公開（公告）號: CN102043511A
• 公開（公告）日: 2011-05-04
• 發明（設計）人: 張欽富;李政翰;唐啟豪;何順隆
• 申請（專利權）人: 禾瑞亞科技股份有限公司
• 主分類號: G06F3/041
• 分類號: G06F3/041
• 代理公司: 北京中原華和知識產權代理有限責任公司 11019
• 代理人: 壽寧;張華輝

1.一種分析位置的方法，其特征在于包括：

取得一感測資訊；

依據一正門檻判斷該感測資訊中是否存在大于正門檻的正值；

依據一負門檻判斷該感測資訊中是否存在小于負門檻的負值；以及

當存在大于正門檻的正值與小于負門檻的負值時判斷位于大于正門檻的正值與小于負門檻的負值間的零交會處。

2.如權利要求1所述的分析位置的方法，其特征在于該零交會處為觸碰的位置。

3.如權利要求2所述的分析位置的方法，其特征在于零交會處的數量為觸碰的數量。

4.如權利要求1所述的分析位置的方法，其特征在于該零交會處的判斷是判斷位于一第一對正值與負值間的零交會處，該第一對正值與負值是先正值再負值。

5.如權利要求1所述的分析位置的方法，其特征在于該零交會處的判斷包括不判斷位于一第二對正值與負值間的零交會處，該第二對正值與負值是先負值再正值。

6.如權利要求1所述的分析位置的方法，其特征在于該零交會處是位于一第一對正值與負值間，該第一對正值與負值是先負值再正值。

7.如權利要求1所述的分析位置的方法，其特征在于該零交會處的判斷包括不判斷位于一第二對正值與負值間的零交會處，該第二對正值與負值是先正值再負值。

8.如權利要求1所述的分析位置的方法，其特征在于該感測資訊是依據多個感測器的信號產生，并且該些感測器的每一個值是分別依據該些感測器中的一對感測器的信號產生。

9.如權利要求1所述的分析位置的方法，其特征在于該感測資訊是依據多個信號值產生，并且該些信號值是依據多個感測器的信號產生。

10.如權利要求1所述的分析位置的方法，其特征在于該感測資訊是依據多個雙差值產生，并且每一個雙差值是依據多個感測器的三個感測器的信號產生。

11.一種分析位置的裝置，其特征在于包括一控制器或一主機，執行下列作業：

取得一感測資訊；

依據一正門檻判斷該感測資訊中是否存在大于正門檻的正值；

依據一負門檻判斷該感測資訊中是否存在小于負門檻的負值；以及

當存在大于正門檻的正值與小于負門檻的負值時判斷位于大于正門檻的正值與小于負門檻的負值間的零交會處。

12.如權利要求11所述的分析位置的裝置，其特征在于該零交會處為觸碰的位置。

13.如權利要求12所述的分析位置的裝置，其特征在于零交會處的數量為觸碰的數量。

14.如權利要求11所述的分析位置的裝置，其特征在于該零交會處的判斷是判斷位于一第一對正值與負值間的零交會處，該第一對正值與負值是先正值再負值。

15.如權利要求11所述的分析位置的裝置，其特征在于該零交會處的判斷包括不判斷位于一第二對正值與負值間的零交會處，該第二對正值與負值是先負值再正值。

16.如權利要求11所述的分析位置的裝置，其特征在于該零交會處是位于一第一對正值與負值間，該第一對正值與負值是先負值再正值。

17.如權利要求11所述的分析位置的裝置，其特征在于該零交會處的判斷包括不判斷位于一第二對正值與負值間的零交會處，該第二對正值與負值是先正值再負值。

18.如權利要求11所述的分析位置的裝置，其特征在于該感測資訊是依據多個感測器的信號產生，并且該些感測器的每一個值是分別依據該些感測器中的一對感測器的信號產生。

19.如權利要求11所述的分析位置的裝置，其特征在于該感測資訊是依據多個信號值產生，并且該些信號值是依據多個感測器的信號產生。

20.如權利要求11所述的分析位置的裝置，其特征在于該感測資訊是依據多個雙差值產生，并且每一個雙差值是依據多個感測器的三個感測器的信號產生。