[發明專利]薄層熒光檢測儀

無效

• 申請號: 201010500896.1
• 申請日: 2010-10-09
• 公開（公告）號: CN102445440A
• 公開（公告）日: 2012-05-09
• 發明（設計）人: 舒咬根;張志遠;毛德操;羅永濤
• 申請（專利權）人: 北京網新易尚科技有限公司
• 主分類號: G01N21/64
• 分類號: G01N21/64
• 代理公司: 北京市惠誠律師事務所 11353
• 代理人: 雷志剛

1.一種薄層熒光檢測儀，其特征在于，所述薄層熒光檢測儀包括一測試臺、一可被水平推入和抽出所述測試臺的玻璃器皿、一安裝在所述測試臺上的光探測裝置以及安裝在所述測試臺中的一光源和一反射鏡，沿所述玻璃器皿的上表面開設有一放置待檢測樣品的凹槽，當所述玻璃器皿被抽出所述測試臺時，所述凹槽露出所述測試臺，當所述玻璃器皿被推入所述測試臺時，所述凹槽處于所述光探測裝置的正下方以及所述反射鏡的正上方，并處于所述光源的側上方，所述光源向所述凹槽發出一激發光線并在所述凹槽的底壁處產生全內反射以激發所述待檢測樣品在厚度為百納米級的薄層區域產生熒光，所述反射鏡反射所述熒光，所述光探測裝置同時接收所述熒光以及所述反射鏡對熒光的反射光，并將接收的光轉化為電信號。

2.如權利要求1所述的薄層熒光檢測儀，其特征在于，沿所述測試臺的一側水平開設有一裝設所述玻璃器皿的開槽，所述玻璃器皿沿所述開槽被推入或抽出所述測試臺。

3.如權利要求1所述的薄層熒光檢測儀，其特征在于，所述光探測裝置為一光電倍增管。

4.一種薄層熒光檢測儀，其特征在于，所述薄層熒光檢測儀包括一測試臺、一可被水平推入和抽出所述測試臺的玻璃器皿、一安裝在所述測試臺上的光探測裝置以及安裝在所述測試臺中的一光源和一反射鏡，沿所述玻璃器皿的上表面開設有一放置待檢測樣品的凹槽，當所述玻璃器皿被推入所述測試臺時，所述凹槽處于所述光探測裝置的正下方以及所述反射鏡的正上方，并處于所述光源的側上方，所述光源向所述凹槽發出一激發光線并在所述凹槽的底壁處產生全內反射以激發所述待檢測樣品在厚度為百納米級的薄層區域產生熒光，所述反射鏡反射所述熒光，所述光探測裝置同時接收所述熒光以及所述反射鏡對熒光的反射光，并將接收的光轉化為電信號，所述薄層熒光檢測儀還包括一根據所述光探測裝置產生的電信號計算所述待檢測樣品所發出熒光的數量的信號處理裝置、以及一顯示所述熒光的數量的顯示裝置，所述測試臺、光探測裝置及信號處理裝置封裝在一封裝箱中，所述顯示裝置設于所述封裝箱的外表面上，當所述玻璃器皿被抽出所述測試臺時，所述凹槽露出所述測試臺和所述封裝箱。

5.如權利要求4所述的薄層熒光檢測儀，其特征在于，沿所述測試臺的一側水平開設有一裝設所述玻璃器皿的開槽，所述玻璃器皿沿所述開槽被推入或抽出所述測試臺。

6.如權利要求4所述的薄層熒光檢測儀，其特征在于，所述光探測裝置為一光電倍增管。

7.如權利要求4所述的薄層熒光檢測儀，其特征在于，所述封裝箱上具有一連接外部計算機的接口。

8.如權利要求7所述的薄層熒光檢測儀，其特征在于，所述接口為USB接口或IEEE1394接口。