[發明專利]不導電電鍍涂布外殼的測試裝置及利用該裝置的測試系統

無效

• 申請號: 201010500633.0
• 申請日: 2010-09-29
• 公開（公告）號: CN102374998A
• 公開（公告）日: 2012-03-14
• 發明（設計）人: 金賢德
• 申請（專利權）人: 株式會社宇田桓檀
• 主分類號: G01N22/02
• 分類號: G01N22/02;G01R29/12
• 代理公司: 北京路浩知識產權代理有限公司 11002
• 代理人: 張晶

1.一種不導電電鍍涂布外殼的測試裝置，其特征在于，所述測試裝置包括：

具備裝載形成不導電電鍍涂層的攜帶終端用外殼的RF耦合器的支撐座；以及

對所述RF耦合器施加RF信號并對所輸出的感應RF信號進行分析，從而對所述不導電電鍍涂層的RF特性進行測試進而判斷所述外殼的好壞的主體部，

其中，所述主體部包括：

生成RF信號信號而施加至所述RF耦合器的RF源產生部；

檢測在RF耦合器中根據所述施加的RF信號而感應得到的感應RF信號的感應RF檢測部；

生成與所述檢測到的感應RF信號相關的測定值，并將所述生成的測定值與預設的臨界值進行比較，從而判斷所述外殼的好壞的控制部；以及

從所述控制部接收所述外殼的好壞結果及所述生成的測定值而進行輸出的顯示部。

2.如權利要求1所述的不導電電鍍涂布外殼的測試裝置，其特征在于，所述測試裝置還包括：

接收所述檢測到的感應RF信號并將其轉換為電壓信號而進行輸出的對數檢測器；以及

從所述對數檢測器接收所述電壓信號并將其轉換為數字信號而輸出至所述控制部的模數轉換器，

所述控制部從所述模數轉換器接收數字信號并根據所述測定值生成電壓值。

3.如權利要求2所述的不導電電鍍涂布外殼的測試裝置，其特征在于，所述控制部對在所述RF耦合器上未搭載外殼的狀態下生成的參照值與預設的基準值進行比較來進行校準操作。

4.如權利要求3所述的不導電電鍍涂布外殼的測試裝置，其特征在于，所述控制部在所述生成的電壓值在所述預設的臨界值范圍內的情況下判斷為良品，在所述生成的電壓值超過所述預設的臨界值范圍的情況下判斷為不良品，并將所述生成的電壓值以及所述好壞結果顯示在所述顯示部上。

5.如權利要求4所述的不導電電鍍涂布外殼的測試裝置，其特征在于，所述測試裝置還包括：用于存儲所述預設的基準值、所述預設的臨界值、所述生成的電壓值以及所述好壞結果的存儲部。

6.如權利要求4所述的不導電電鍍涂布外殼的測試裝置，其特征在于，所述顯示部包括用于顯示所述生成的電壓值及所述好壞結果的顯示窗。

7.如權利要求6所述的不導電電鍍涂布外殼的測試裝置，其特征在于，所述顯示部還包括不同的顏色顯示所述好壞結果的燈。

8.如權利要求4所述的不導電電鍍涂布外殼的測試裝置，其特征在于，所述測試裝置還包括：

用于輸入使用者的選擇信號的輸入部；以及

用于與外部設備進行通信的通信接口部；

所述控制部根據通過所述輸入部得到的使用者的選擇信號或者通過所述通信接口得到的控制信號來對所述預設的基準值或者所述預設的臨界值進行再設定，通過所述通信接口將所述存儲部所存儲的信息向所述外部設備進行傳送。

9.如權利要求1所述的不導電電鍍涂布外殼的測試裝置，其特征在于，所述RF源產生部將從100MHz-300MHz頻帶內選擇的頻率的RF信號施加至所述RF耦合器。

10.如權利要求9所述的不導電電鍍涂布外殼的測試裝置，其特征在于，所述支撐座包括：

底板；

設置于所述底板上方，且與所述外殼的不導電電鍍涂層相接觸的所述RF耦合器；以及

設置于所述底板上方，對與所述RF耦合器一同搭載的所述外殼進行支撐的支撐板。

11.如權利要求10所述的不導電電鍍涂布外殼的測試裝置，其特征在于，所述RF耦合器包括：

從所述RF源產生部施加的RF信號的第1天線耦合器；以及

與所述第1天線耦合器鄰近設置，并與施加了所述RF信號的所述第1天線耦合器相耦合，用于輸出感應RF信號的第2天線耦合器。

12.如權利要求11所述的不導電電鍍涂布外殼的測試裝置，其特征在于，在所述支撐板及所述RF耦合器上分別形成對所述外殼的輪廓進行支撐的支撐架。

13.如權利要求1所述的不導電電鍍涂布外殼的測試裝置，其特征在于，所述測試裝置還包括：

在所述控制部的控制下以導向語音或音頻方式輸出好壞結果的音源輸出部。

14.一種不導電電鍍涂布外殼的測試系統，其特征在于，所述測試系統包括：

承載待測試的形成了不導電電鍍涂層的攜帶終端用外殼的外殼承載箱；

將所述外殼承載箱內承載的外殼依次裝載的外殼裝載器；

與所述外殼承載箱鄰近設置，用于搭載所述外殼裝載器所裝載的外殼，并對所述外殼的不導電電鍍涂層的RF特性進行測試的測試裝置；

根據所述測試裝置的測試結果，從所述測試裝置上對所述測試裝置上搭載的所述外殼進行卸載的外殼卸載器；以及

與所述測試裝置鄰近設置，根據測試結果收集所述外殼卸載器所卸載的外殼的良品收集箱及不良品收集箱，

所述測試裝置包括：

具備裝載形成了不導電電鍍涂層的攜帶終端用外殼的RF耦合器的支撐座；以及

對所述RF耦合器施加RF信號并對所輸出的感應RF信號進行分析，從而對所述不導電電鍍涂層的RF特性進行測試來判斷所述外殼的好壞的主體部，

其中，所述主體部包括：

生成RF信號并施加至所述RF耦合器的RF源產生部；

檢測在所述RF耦合器中根據所述施加的RF信號而感應得到的感應RF信號的感應RF檢測部；

生成與所述檢測到的感應RF信號相關的測定值，并將所述生成的測定值與預設的臨界值進行比較，從而判斷所述外殼的好壞的控制部；以及

從所述控制部接收所述外殼的好壞結果及所述生成的測定值的顯示部。