[發(fā)明專利]一種用于防止LCD Monitor DDC資料錯燒的方法無效
| 申請?zhí)枺?/td> | 201010300311.1 | 申請日: | 2010-01-14 |
| 公開(公告)號: | CN101739994A | 公開(公告)日: | 2010-06-16 |
| 發(fā)明(設計)人: | 張新華;林麗和;王惠振 | 申請(專利權)人: | 福建捷聯電子有限公司 |
| 主分類號: | G09G3/36 | 分類號: | G09G3/36;G06F11/32 |
| 代理公司: | 福州元創(chuàng)專利商標代理有限公司 35100 | 代理人: | 蔡學俊 |
| 地址: | 350301 福建省福*** | 國省代碼: | 福建;35 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 一種 用于 防止 lcd monitor ddc 資料 方法 | ||
技術領域
本發(fā)明涉及顯示器生產線的DDC燒錄領域,特別是一種用于防止LCD?Monitor?DDC資料錯燒的方法。?
背景技術
液晶顯示屏一般包括影像圖形數組或數字視頻接口,高端的液晶顯示器可以同時包括兩個接口,這兩個接口都是通過DDC(顯示數據通道)與主機進行數據通訊。在使用DDC之前,需要將EDID(擴展顯示標識數據)燒錄到液晶顯示器上,EDID包含顯示設備的基本參數,如制造廠商、產品名稱、最大行場頻、可支持的分辨率等,在現有的技術中,Monitor的EDID資料是以數據庫的形式存放在產線PC中,產線作業(yè)員在EDID燒錄軟體中輸入該款機器的Manufacture?name,Product?code,Model?Name信息,手動選取所要燒取的EDID資料進行燒錄?,F有的技術中,Monitor的EDID資料是以數據庫的形式存放在產線PC中,產線作業(yè)員在EDID燒錄軟體中輸入該款機器的Manufacture?name,Product?code,Model?Name信息,手動選取所要燒取的EDID資料進行燒錄,該方法需作業(yè)員手動選擇EDID資料,如有選擇錯誤,并不能及時發(fā)現此錯誤,容易導致EDID資料燒錯。
發(fā)明內容
鑒于上述技術的不足,本發(fā)明目的是提出一種針對MCU軟體上具有制造廠商、產品編號、產品名稱三項信息的液晶顯示器進行資料防錯燒的方法,該方法能具有極強的糾錯能力,能快速反應出產線作業(yè)員選擇的EDID資料是否正確,并給出提示,有效的解決現有手動燒錄錯誤的情況發(fā)生,提高了生產效率。
本發(fā)明是這樣實現的,一種用于防止LCD?Monitor?DDC資料錯燒的方法,包括MCU軟體上具有制造廠商、產品編號、產品名稱三項信息的液晶顯示器,其特征在于:在燒錄擴展顯示標識數據到所述液晶顯示器時,所述液晶顯示器的MCU軟體在接受到擴展顯示標識數據燒錄軟體發(fā)出的燒錄指令后,回傳所述三項信息給燒錄軟體,燒錄軟體接收信息后與所選擇的擴展顯示標識數據中的該三項信息進行比對,如果錯誤燒錄軟體則提示擴展顯示標識數據選擇錯誤,如果正確就進行燒錄。
本發(fā)明無需對設備硬件進行更改,只要在軟體上實現信息比對,即可實現,改造成本低,而且糾錯能力強,具有一定的使用價值。
附圖說明
?圖1是本發(fā)明的方法流程示意圖。
具體實施方式
下面結合附圖及實施例子對本發(fā)明做進一步說明。
如圖1所示,本發(fā)明提供一種用于防止LCD?Monitor?DDC資料錯燒的方法,包括MCU軟體上具有制造廠商、產品編號、產品名稱三項信息的液晶顯示器,其特征在于:在燒錄擴展顯示標識數據到所述液晶顯示器時,所述液晶顯示器的MCU軟體在接受到擴展顯示標識數據燒錄軟體發(fā)出的燒錄指令后,回傳所述三項信息給燒錄軟體,燒錄軟體接收信息后與所選擇的擴展顯示標識數據中的該三項信息進行比對,如果錯誤燒錄軟體則提示擴展顯示標識數據選擇錯誤,如果正確就進行燒錄。?操作人員根據上述的提示,在確認選擇的EDID資料是正確的情況下,可判斷液晶顯示器MCU軟體燒錯了,進而采取相應措施。
具體的,在燒錄ASUS?VK266H機種時,EDID燒錄軟體發(fā)送命令?RDDCINF0給MCU,MCU接受到后回傳命令:?6E?95?02?00?FE?41?43?49?32?36?41?33?41?53?55?53?20?56?4B?32?36?36?48?39,該命令轉化為字符為字符為:6E?95?02?00?FE?A?C?I?2?6?A?3?A?S?U?S???V?K?2?6?6?H?39,與所選擇的EDID資料中的Manufacture?name,Product?code,Model?Name三項信息進行比對,?不一致燒錄軟體就提示”EDID資料錯誤”;一致就發(fā)送EDID資料進行正常燒錄。
以上所述僅為本發(fā)明的較佳實施例,凡依本發(fā)明申請專利范圍所做的均等變化與修飾,皆應屬本發(fā)明的涵蓋范圍。
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