[發(fā)明專利]嵌入式設(shè)備燒機(jī)測試方法

無效

• 申請?zhí)枺?/td>: 201010300308.X
• 申請日: 2010-01-14
• 公開（公告）號: CN102129403A
• 公開（公告）日: 2011-07-20
• 發(fā)明（設(shè)計）人: 田志海;曹朝杰;董華
• 申請（專利權(quán)）人: 鴻富錦精密工業(yè)（深圳）有限公司;鴻海精密工業(yè)股份有限公司
• 主分類號: G06F11/36
• 分類號: G06F11/36
• 代理公司: 暫無信息
• 代理人: 暫無信息

技術(shù)領(lǐng)域

本發(fā)明涉及一種測試方法，尤其涉及一種嵌入式設(shè)備燒機(jī)測試方法。

背景技術(shù)

提高和保證嵌入式設(shè)備的產(chǎn)品質(zhì)量，是嵌入式設(shè)備生產(chǎn)企業(yè)的重要工作內(nèi)容。在嵌入式設(shè)備產(chǎn)品出廠之前，對嵌入式設(shè)備各項性能進(jìn)行測試、查找出問題點，能有效地保證嵌入式設(shè)備的品質(zhì)，避免不良品流入市場。

嵌入式設(shè)備的各項性能測試中，包含一項燒機(jī)測試，即對嵌入式設(shè)備長時間開機(jī)，并檢測在該長時間開機(jī)過程中嵌入式設(shè)備是否能夠正常運行。然而，在以往的燒機(jī)測試中，需要通過計算機(jī)將嵌入式設(shè)備燒機(jī)測試程序拷貝到嵌入式設(shè)備中，且需要作業(yè)員定期通過計算機(jī)的顯示器查看嵌入式設(shè)備的測試狀態(tài)。若嵌入式設(shè)備通過測試，還需要將嵌入式設(shè)備燒機(jī)測試程序從嵌入式設(shè)備中移除，降低了測試效率。

發(fā)明內(nèi)容

鑒于以上內(nèi)容，有必要提出一種嵌入式設(shè)備燒機(jī)測試方法，其可以使嵌入式設(shè)備燒機(jī)測試程序在嵌入式設(shè)備的內(nèi)存中獨立運行，且當(dāng)嵌入式設(shè)備通過測試時，該嵌入式設(shè)備燒機(jī)測試程序會自動從嵌入式設(shè)備的內(nèi)存中清除，提高了燒機(jī)測試效率。

一種嵌入式設(shè)備燒機(jī)測試方法，該嵌入式設(shè)備燒機(jī)測試方法包括：于計算機(jī)中設(shè)置測試時間并啟動外置存儲設(shè)備中的嵌入式設(shè)備燒機(jī)測試程序，使該嵌入式設(shè)備燒機(jī)測試程序在嵌入式設(shè)備的內(nèi)存中運行；斷開計算機(jī)與嵌入式設(shè)備間的連接，并將外置存儲設(shè)備與嵌入式設(shè)備斷開；在上述設(shè)置的測試時間內(nèi)對該嵌入式設(shè)備進(jìn)行測試；標(biāo)識測試結(jié)果并將嵌入式設(shè)備斷電，使得嵌入式設(shè)備燒機(jī)測試程序在嵌入式設(shè)備的內(nèi)存中被清除。

相較于現(xiàn)有技術(shù)，所述的嵌入式設(shè)備燒機(jī)測試方法，可以將外置存儲設(shè)備與嵌入式設(shè)備斷開，使嵌入式設(shè)備燒機(jī)測試程序在嵌入式設(shè)備的內(nèi)存中獨立運行，且當(dāng)嵌入式設(shè)備通過測試時，嵌入式設(shè)備燒機(jī)測試程序會自動從嵌入式設(shè)備的內(nèi)存中清除，提高了燒機(jī)測試效率。

附圖說明

圖1是本發(fā)明嵌入式設(shè)備燒機(jī)測試方法較佳實施例的架構(gòu)圖。

圖2是本發(fā)明嵌入式設(shè)備燒機(jī)測試方法較佳實施例的流程圖。

圖3是圖2步驟S20中嵌入式設(shè)備燒機(jī)測試程序?qū)η度胧皆O(shè)備進(jìn)行測試的具體作業(yè)流程圖。

主要元件符號說明

??測試設(shè)備??1

??嵌入式設(shè)備??2??計算機(jī)??3??外置存儲設(shè)備??4??內(nèi)存??10??嵌入式設(shè)備燒機(jī)測試程序??40

具體實施方式