[發明專利]折射率測量裝置

無效

• 申請號: 201010300122.4
• 申請日: 2010-01-08
• 公開（公告）號: CN101750399A
• 公開（公告）日: 2010-06-23
• 發明（設計）人: 邵朵;陳險峰;田凌浩;陳婧非
• 申請（專利權）人: 上海交通大學
• 主分類號: G01N21/41
• 分類號: G01N21/41
• 代理公司: 上海交達專利事務所 31201
• 代理人: 王錫麟;王桂忠

技術領域

本發明涉及的是一種光學測量技術領域的裝置，具體是一種基于光纖端面后向反射法的 折射率測量裝置。

背景技術

流體折射率測量對于醫藥，化工，食品以及科研方面等領域有很廣泛的應用。近幾十年 來測量流體折射率的方法主要分為兩類：折射技術和反射技術。折射率計被廣泛應用于折射 率的測量，其主要是基于光的折射原理，但是折射率計只能測量透明流體的折射率，而且測 量折射率有一定的范圍限制。當待測量流體是半透明、非透明狀態或是強烈吸收性的流體時 ，只能用光的反射原理來測量。

經過對現有技術的檢索發現，2002年，Yang等人在Appl.Phys.Lett(應用物理快報) 上發表了“Magnetically-modulated?refractive?index?of?magnetic?fluid?films”，( 磁流體薄膜磁性調制的折射率)，該文中提出了用全反技術實現流體折射率的測量，但是其 技術要求精密苛刻的光學儀器以及很好的準直性，很難在實際中有太多的應用。

發明內容

本發明針對現有技術存在的上述不足，提供一種折射率測量裝置，該裝置不需要進行復 雜的光路調節，易于操作。同時，該發明對流體折射率沒有限制，且具有很高的精度。

本發明是通過以下技術方案實現的，本發明包括：光源輸出裝置、耦合器、環形器、探 測裝置、存儲裝置以及樣品池，其中：光源輸出裝置的輸出端與耦合器相連接，耦合器的輸 出端分別與探測裝置的第一輸入端和環形器相連接，環形器的輸出端分別與探測裝置的第二 輸入端及樣品池相連接，探測裝置的輸出端與存儲裝置相連接。

所述的光源輸出裝置為通信C波段可調諧激光器。

所述的耦合器為通信C波段耦合器。

所述的環形器為通信C波段環形器。

所述的探測裝置為通信C波段光功率計。

本發明通過以下方式實現折射率的測量：

第一步、校準過程：將光纖端面直接浸泡在待測流體中，由于折射率測量裝置存在本征 反射，具體為：

P2-P0P1-P0=(nfc-n2nfc+n2)2(nfc-n1nfc+n1)2---(1)]]>

其中：P₀是本征反射功率，P₁和P₂分別是當光纖端面分別浸泡在第一種和第二種 流體的反射功率，n₁和n₂分別是第一種和第二種流體的折射率。