[發明專利]浪涌電流檢測裝置

有效

• 申請號: 201010299307.8
• 申請日: 2010-09-27
• 公開（公告）號: CN102072981A
• 公開（公告）日: 2011-05-25
• 發明（設計）人: 大川孝幸;山田康春;佐伯英良;大內拓也
• 申請（專利權）人: 株式會社山光社
• 主分類號: G01R19/00
• 分類號: G01R19/00;G01R19/04
• 代理公司: 北京市柳沈律師事務所 11105
• 代理人: 王冉

技術領域

本發明涉及設置在保護器中的浪涌電流檢測裝置，其保證和保護受保護的一塊設備例如通信電路單元、電力供應電路單元等免遭雷電等引起的并穿透進入與受保護的一塊設備相連的導體例如通信線路、供電線路等中的浪涌電流，更具體地，本發明涉及用于通過利用由于穿入它的浪涌電流而在導體周圍產生的磁場檢測浪涌電流的穿透狀態的浪涌電流檢測裝置。

背景技術

近來，盡管受保護的一塊設備例如通信電路單元、電力供應單元等的質量正在不斷提高，但是，其中受保護的一塊設備被雷電等損壞的損壞情形的數量正趨于不斷上升。例如，當雷電擊中建筑物的周邊設施時，浪涌電流在雷電擊中的位置周圍流動。當浪涌電流穿透進入周邊設施內部時，受保護的一塊設備會被損壞。這樣，需要一種用于檢測浪涌電流的穿透的浪涌電流檢測裝置。

為了受保護的一塊設備不遭受損壞，浪涌保護裝置(SPD)，其也可以稱作保護器，設置在設施中。但是，即使在具有保護受保護的一塊設備免遭雷電浪涌電流的功能的保護器中，保護元件(也就是，雷電保護元件)例如設置在保護器中的避雷器、變阻器等會受到損壞。這樣，類似于受保護的設施，用于檢測浪涌電流的穿透的浪涌電流檢測裝置對于保護器是需要的。

在保護器中，其中內部保護元件例如變阻器、避雷器等由于施加到其上的浪涌電流和浪涌電壓不可避免地受制于逐漸的劣化。因為劣化元件的各自的內在功能衰退，提前用一個新的保護器更換劣化的保護器是重要的。

作為用于解決上述問題的現有技術，現有技術的浪涌電流檢測裝置公開在例如下面的專利中：

文獻1-3：

[專利文獻1]：JP-2005-150657A

[專利文獻2]：JP-2006-244889A

[專利文獻3]：JP-2007-242569A

在公開在專利文獻1中的浪涌電流檢測裝置中，保護元件例如變阻器的劣化程度通過熱敏材料的顏色改變而被確定，它是利用由在雷擊時流動導體的浪涌電流引起的焦耳熱的。特別地，熱敏材料位于保護元件例如變阻器上，當浪涌電流流過保護元件時并且當保護元件運行時產生焦耳熱，從而改變熱敏材料的顏色。

在專利文獻2和3中公開的浪涌電流檢測裝置中，類似于上述的情形，確定方法使用焦耳熱，并且保護元件的劣化程度通過利用由能夠熱收縮的材料組成的金屬的收縮而確定。例如，當可收縮金屬材料由于浪涌電流的焦耳熱而縮小時，通過利用隨著收縮能力而露出隱藏的劣化標記并能夠被觀察到的機械機構進行劣化確定。

再者，在下面的專利文獻4中公開了磁性顯示介質的技術，它可以可視地確認卡的信息內容，但是其不屬于討論的保護器技術領域。

[專利文獻4]：JP-H05-016578A

公開在專利文獻4中的磁性顯示介質包括具有設置在其上的信息存儲部分和磁性顯示部分的基板。信息存儲部分由磁帶或者IC(集成電路)存儲器形成。磁性顯示部分包括設置在其上的記錄層和基板。記錄層通過直接用多個微囊體涂覆基板或者通過用多個微囊體借助于適當的中間層的介質而涂覆在基板上而形成。每一微囊體包含適當的液體、懸浮在液體中并易于受到磁場影響的多個磁性粒子。磁性顯示部分被組成為以使得一條信息可以根據存儲在信息存儲部分上的信息而可視地顯示在記錄層上，并且使得移位的一條信息可以從記錄層擦除，如果有必要的話。

進一步地，涉及這樣的微囊體的技術公開在下面的專利文獻5中：

[專利文獻5]：JP-H11-076801A

然而現有技術的浪涌電流檢測裝置，如在專利文獻1-3中公開的，具有下面的待解決問題(a)、(b)和(c)，如在下文提及的：

(a)現有技術的浪涌電流檢測裝置利用流過導體的浪涌電流的焦耳熱以為了確定保護元件例如變阻器、避雷器等的劣化程度。因為浪涌電流必須快速流過導體，所以必須使得導體的電阻非常小。由于該原因，浪涌電流在非常短的時間段內流動通過導體，這樣焦耳熱的量較小，從而導致劣化檢測的敏感度降低。

(b)因為現有技術的利用可收縮金屬材料的浪涌電流檢測裝置包括物理機構，其中可收縮金屬材料的收縮度被放大以能夠可視地顯示，這使得難以減小這些裝置的尺寸。

(c)在現有技術的利用熱敏材料和可收縮金屬材料的浪涌電流檢測裝置中，難以或者不可能再次使用這些材料，這樣使用過的材料與保護器一起被丟棄，從而浪費許多資源。

簡而言之，現有技術的浪涌電流檢測裝置中，存在劣化檢測的敏感度差，難以縮小裝置尺寸以及不可能重復使用所述裝置的問題。