[發明專利]一種掩膜擴散法制備N型太陽能電池的方法無效
| 申請號: | 201010298904.9 | 申請日: | 2010-10-08 |
| 公開(公告)號: | CN102097527A | 公開(公告)日: | 2011-06-15 |
| 發明(設計)人: | 張學玲 | 申請(專利權)人: | 常州天合光能有限公司 |
| 主分類號: | H01L31/18 | 分類號: | H01L31/18 |
| 代理公司: | 常州市維益專利事務所 32211 | 代理人: | 王凌霄 |
| 地址: | 213031 江蘇省*** | 國省代碼: | 江蘇;32 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 一種 擴散 法制 太陽能電池 方法 | ||
1.一種掩膜擴散法制備N型太陽能電池的方法,其工藝流程如下:
1)、N型直拉單晶硅片(1)正面經過清洗及正金字塔織構化處理;
2)、N型直拉單晶硅片(1)通過BBr3液態硼擴散源制備P型發射結(2);
3)、使用HF/HNO3混合液刻蝕掉背面的P型發射結(2)及同時用HF去除硼硅玻璃;
4)、N型直拉單晶硅片(1)正面P型發射結(2)面沉積致密的氮化硅掩膜層,氮化硅掩膜層厚度為80~100nm;
5)、N型直拉單晶硅片(1)背面通過使用POCl3液態磷擴散源制備背面場N型發射結(6);
6)、使用熱的濃磷酸去除氮化硅掩膜層;
7)、使用等離子體刻蝕去除邊緣P-N結;
8)、使用濃度2~10%HF去除磷硅玻璃;
9)、正面場P型發射結(2)面先沉積10~50nm的Al2O3鈍化膜(3),然后正面場再沉積厚度為40~80nm的氮化硅減反射膜(4),Al2O3鈍化膜(3)和氮化硅減反射膜(4)的總厚度為70~80nm;
10)、背面場N型發射結(6)面沉積厚度為70-100nm的氮化硅鈍化膜(7);
11)、正面場印刷銀鋁漿,烘干成銀鋁金屬柵線(5);
12)、背面場印刷銀漿,燒結成銀金屬柵線(8)。
2.根據權利要求1所述的一種掩膜擴散法制備N型太陽能電池的方法,其特征是工序2)中:所述的BBr3液態硼擴散源制備P型發射結(2),擴散溫度900~950℃,時間為40~60min,方塊電阻為60ohm/Sq。
3.根據權利要求1所述的一種掩膜擴散法制備N型太陽能電池的方法,其特征是工序5)中:POCl3液態磷擴散源制備背面場N型發射結(6),擴散溫度800~900℃,時間為30~50min,方塊電阻為40ohm/Sq。
4.根據權利要求1所述的一種掩膜擴散法制備N型太陽能電池的方法,其特征是工序9)中:正面場P型發射結(2)面先沉積20nm的Al2O3鈍化膜(3),并在400℃下退火5min,用PECVD法沉積55nm的SiNx:H減反射膜(4)。
5.根據權利要求1所述的一種掩膜擴散法制備N型太陽能電池的方法,其特征是工序10)中:背面場N型發射結(6)面用PECVD法沉積厚度為70-100nm的SiNx:H鈍化膜(7)。
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H01L31-00 對紅外輻射、光、較短波長的電磁輻射,或微粒輻射敏感的,并且專門適用于把這樣的輻射能轉換為電能的,或者專門適用于通過這樣的輻射進行電能控制的半導體器件;專門適用于制造或處理這些半導體器件或其部件的方法或
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H01L31-04 .用作轉換器件的
H01L31-08 .其中的輻射控制通過該器件的電流的,例如光敏電阻器
H01L31-12 .與如在一個共用襯底內或其上形成的,一個或多個電光源,如場致發光光源在結構上相連的,并與其電光源在電氣上或光學上相耦合的





