[發明專利]質譜儀無效
| 申請號: | 201010289329.6 | 申請日: | 2010-09-21 |
| 公開(公告)號: | CN102412109A | 公開(公告)日: | 2012-04-11 |
| 發明(設計)人: | 田禾;王后樂;張小華;張華;王傳博 | 申請(專利權)人: | 北京普析通用儀器有限責任公司 |
| 主分類號: | H01J49/42 | 分類號: | H01J49/42;H01J49/02;G01N27/62 |
| 代理公司: | 隆天國際知識產權代理有限公司 72003 | 代理人: | 闞梓瑄 |
| 地址: | 101200*** | 國省代碼: | 北京;11 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 質譜儀 | ||
1.一種質譜儀,包括離子源,所述離子源包括依次安裝在同一中軸線上的推斥電極、引入電極、聚焦電極和引出電極,所述引入電極、聚焦電極和引出電極中央分別具有供離子束穿過的中央通孔,其特征在于,所述推斥電極為具有一敞口的罩殼,且該敞口朝向所述引入電極。
2.如權利要求1所述的質譜儀,其特征在于,所述推斥電極包括圓形底部和由該圓形底部向外延伸的弧形部。
3.如權利要求1所述的質譜儀,其特征在于,所述推斥電極為球面形罩殼、橢球面形罩殼、拋物面形罩殼、錐形罩殼或者錐臺形罩殼。
4.如權利要求1所述的質譜儀,其特征在于,所述引出電極為具有一敞口的罩殼,且該敞口朝向所述聚焦電極。
5.如權利要求4所述的質譜儀,其特征在于,所述引出電極包括圓形底部和由該圓形底部向外延伸的弧形部。
6.如權利要求4所述的質譜儀,其特征在于,所述引出電極是球面形罩殼、橢球面形罩殼、拋物面形罩殼、錐形罩殼或者錐臺形罩殼。
7.如權利要求1~6之任一所述的質譜儀,其特征在于,所述推斥電極、引入電極和聚焦電極上分別施加49伏、-74伏、-7伏電壓,所述引出電極的電壓為0。
8.如權利要求1~6之任一項所述的質譜儀,其特征在于,所述聚焦電極呈圓筒形,包括具有中央通孔的筒底和圓周壁。
9.如權利要求8所述的質譜儀,其特征在于,所述推斥電極、引入電極和聚焦電極上分別施加50伏、-70伏、-7伏電壓,所述引出電極的電壓為0。
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