[發明專利]一種形位公差測量方法

無效

• 申請號: 201010285871.4
• 申請日: 2010-09-19
• 公開（公告）號: CN101922907A
• 公開（公告）日: 2010-12-22
• 發明（設計）人: 陳凡
• 申請（專利權）人: 陳凡
• 主分類號: G01B7/00
• 分類號: G01B7/00
• 代理公司: 暫無信息
• 代理人: 暫無信息

1.一種形位公差測量方法，其特征在于：具有線性輸出的霍爾效應傳感器布置于被測鐵磁性零件與磁鐵之間；使霍爾傳感器和被測零件表面發生相對移動或轉動；除零件表面形貌的變化外，其它可能引起霍爾傳感器輸出電壓信號變化的因素都被消除；記錄霍爾傳感器輸出電壓信號，根據霍爾傳感器的校準數據和形位公差計算方法計算霍爾傳感器信號對應的公差值，該值即為被測零件的形位公差。

2.根據權利1要求的形位公差測量方法，其特征還在于包括：用于安裝被測零件的工作臺；具有線性輸出的霍爾效應傳感器；用于產生磁場的永久磁鐵或電磁鐵；用于固定并能調整傳感器和磁鐵位置的殼體和調整螺釘；用于調整和固定霍爾傳感器位置的保持架以及保持架支座；用于采集霍爾傳感器輸出電壓并能完成傳感器校準數據存儲、公差計算和顯示功能的信號處理與顯示單元；用于為傳感器和信號處理與顯示單元供電的電源。

3.根據權利1要求的形位公差測量方法，其特征還在于：所能測量的形位公差包括直線度、平面度、圓柱度、垂直度、平行度、徑向圓跳動和端面圓跳動。