[發明專利]一種檢測半導體發光二極管封裝結構有效散熱性的方法

無效

• 申請號: 201010285365.5
• 申請日: 2010-09-17
• 公開（公告）號: CN102004028A
• 公開（公告）日: 2011-04-06
• 發明（設計）人: 俞立明;程立文;陸衛;張波;羅向東;郭少令;何素明;傅雷;陳效雙;楊衛橋;郭延生
• 申請（專利權）人: 中國科學院上海技術物理研究所;阿旺賽鍍膜技術(上海)有限公司;上海宇豪光電技術有限公司;上海半導體照明工程技術研究中心
• 主分類號: G01M11/00
• 分類號: G01M11/00
• 代理公司: 上海新天專利代理有限公司 31213
• 代理人: 郭英

1.一種檢測半導體發光二極管封裝結構有效散熱性的方法，其特征在于包括以下步驟：

(1)采用具有脈沖功能和直流輸出功能的電源驅動發光二極管燈具，將封裝好的半導體LED燈具接上該工作電源，讓電源處于脈沖供電狀態，其中脈沖電源功能是脈沖寬度在10微秒以下，脈沖周期在1秒以上，脈沖電流幅度與燈具正常工作時的直流電流值相同；將LED燈具的發光面聚焦到常規的可見光光譜儀的入射狹縫中，使得LED燈具能夠作為光譜儀的一種光源，這樣光譜儀就能夠在LED燈具發出光時獲得LED燈具的發光光譜，利用脈沖電源供電方式獲得參考光譜；

(2)將具有脈沖功能和直流輸出功能的電源處于直流供電狀態，使得LED燈具能夠按正常工作模式工作，初始時電源開關處于關斷狀態，同時光譜儀處在可以隨時獲取LED燈具發光光譜的工作狀態；

(3)開啟LED燈具的工作電源，使得LED燈具開始正常發光，光譜儀就記錄下自燈具開始發光起往后各個時刻的燈具發光光譜，按記錄的時間序列給記錄的光譜編號，每個光譜都有對應著的測量時間記錄，測量時間延續60秒左右，即保證封裝好的LED燈具達到了正常工作狀態下的結溫穩定狀態，這樣可以保證LED燈具由于加了工作電流后LED結溫上升的全部過程都被記錄下來了；

(4)采用中國發明專利“一種LED照明燈具中芯片結溫的檢測方法”中提出的光譜處理方法，獲得步驟3中每條光譜相對步驟1中獲得的參考光譜測量每個時刻結溫，其中參考光譜對應的結溫就是環境溫度；

(5)由步驟4獲得的每個時刻對應的結溫為縱坐標，時間上對應的時刻為橫坐標，形成了封裝結構中LED器件結溫的溫升曲線，該溫升曲線是一種典型的指數飽和特征的形狀；

(6)對曲線用公式T＝Ae^-Dt+B進行擬合計算，其中T和t表示結溫和時間，A、D和B是擬合參量；通過常規的最小二乘法擬合獲得，其中得到擬合參量D為該封裝結構有效散熱系數。