[發明專利]觸控點檢測方法有效
| 申請號: | 201010284941.4 | 申請日: | 2010-09-16 |
| 公開(公告)號: | CN101950228A | 公開(公告)日: | 2011-01-19 |
| 發明(設計)人: | 洪春龍;張勝云;許育民;鄭詠澤 | 申請(專利權)人: | 友達光電股份有限公司 |
| 主分類號: | G06F3/044 | 分類號: | G06F3/044 |
| 代理公司: | 隆天國際知識產權代理有限公司 72003 | 代理人: | 姜燕;陳晨 |
| 地址: | 中國臺*** | 國省代碼: | 中國臺灣;71 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 觸控點 檢測 方法 | ||
技術領域
本發明涉及一種觸控檢測技術,尤其涉及一種用于電容式觸控面板的觸控點檢測方法。
背景技術
于各類消費性電子產品中,觸控面板已被廣泛使用作為輸入裝置。使用者透過手指或觸控筆等裝置在觸控面板上的點觸、滑動、書寫等動作,可對觸控面板上所顯示的物件或選單直接下指令及操作,以提供更方便的人機操作界面。以不同感測技術來區分,觸控面板可分為電容式、電阻式、光學式等。請參考圖1,圖1為說明現有技術的電容式觸控面板100的示意圖。電容式觸控面板100包括有感測電容C11~CMN、電極X1~XM與Y1~YN,其中感測電容C11~CMN與電極X1~XM以及電極Y1~YN之間的耦接關系如圖1所示,故不再贅述。以下將說明在現有技術中,用于電容式觸控面板100的觸控點檢測方法的工作原理。
在電容式觸控面板100中,當透過電極Y1~YN掃描各行感測電容時,可透過電極X1~XM讀取感測電容C11~CMN所產生的感測信號SSEN1_11~SSEN1_MN。當透過電極X1~XM掃描每列感測電容時,可透過電極Y1~YN讀取感測電容C11~CMN所產生的感測信號SSEN2_11~SSEN2_MN。此外,借由平均感測電容C11~CMN于電容式觸控面板100尚未被觸碰時所產生的感測信號SSEN1_11~SSEN1_MN,可產生一基準值BASE來表示一感測電容于未被觸碰時所產生的感測信號。如此,于檢測觸控點時,可將感測信號SSEN1_11~SSEN1_MN與基準值BASE相減,以得到可反映出感測信號SSEN1_11~SSEN1_MN的變化的差異信號SDIFF1_11~SDIFF1_MN。舉例而言,第A個感測電容的差異信號SDIFF1_A可由下式計算:
SDIFF1_A=abs(SSEN1_A-BASE)...(1);
其中abs表示取絕對值,SSEN1_A表示第A個感測電容所產生的感測信號,BASE表示基準值。同理,依據式(1)將感測信號SSEN2_11~SSEN2_MN與基準值BASE相減,可得到可反映出感測信號SSEN2_11~SSEN2_MN的變化的差異信號SDIFF2_11~SDIFF2_MN。此時,借由檢測差異信號SDIFF1_11~SDIFF1_MN與差異信號SDIFF2_11~SDIFF2_MN,可判斷感測電容所產生的感測信號的變化的程度,并據以判斷觸控點的位置。更明確地說,現有技術的觸控點檢測方法將對應于感測電容CA的差異信號SDIFF1_A以及SDIFF2_A與一觸控閾值THTOUCH比較。當差異信號SDIFF1_A與SDIFF2_A皆大于觸控閾值THTOUCH時,現有技術的觸控點檢測方法判斷感測電容CA為一觸控點。
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