[發明專利]輥筒間距調節報警提示裝置

無效

• 申請號: 201010283686.1
• 申請日: 2010-09-13
• 公開（公告）號: CN101972681A
• 公開（公告）日: 2011-02-16
• 發明（設計）人: 王海艷
• 申請（專利權）人: 常州億晶光電科技有限公司
• 主分類號: B02C4/32
• 分類號: B02C4/32;G08B21/00
• 代理公司: 常州市維益專利事務所 32211
• 代理人: 周祥生

技術領域

本發明涉及一種電池片用銀漿的生產裝置，尤其涉及銀漿研磨設備的紅外控制裝置。

背景技術

導電銀漿是由高純度的(99.9％)金屬銀的微粒、粘合劑、溶劑、助劑所組成的一種粘稠狀的漿料。導電銀漿對其組成物質要求是十分嚴格的，金屬銀的粒徑大小、形狀及其含量的高低對銀漿性能都有著密切關系。

金屬銀的微粒是導電銀漿的主要成份，太陽能電池的導電特性主要是靠它來體現。金屬銀微粒在漿料中的含量直接與導電性能有關，從某種意義上講，金屬銀微粒的含量越高，對提高銀漿的導電性是有益的，但當它的含量超過臨界體積濃度時，其導電性并不能提高。一般含銀量在80～90％(重量比)時，其導電量就接近最高值，當含銀量繼續增加，銀漿的電性能將不再提高，電阻值反而呈上升趨勢；當含銀量低于60％時，銀漿的電阻變化不穩定。在具體應用過程中，銀漿中的銀微粒含量控制既要考慮到穩定的阻值，還要受固化特性、粘接強度、經濟性等因素制約，如銀微粒含量過高，被連結樹脂所裹覆的幾率低，固化成膜后銀導體的粘接力下降，有銀粒脫落的危險。故此，銀漿中的含銀量一般在60～70％是適宜的。

銀微粒的大小與銀漿的導電性能有關。在相同的體積、同等含銀量的條件下，銀微粒的粒徑越大，微粒間的接觸幾率偏低，并留有較大的空間，被非導體的樹脂所占據，從而對導體微粒形成阻隔，導電性能下降。反之，粒徑越細小，微粒間的接觸幾率提高，銀漿的導電性能得到改善。由此可見，銀微粒的粒徑大小對銀漿的導電性的影響極大。由于受加工條件和絲網印刷方式的影響，既要滿足微粒順利通過絲網的網孔，又要符合銀微粒加工的條件，銀微粒的粒徑要求控制在3～5μm，這種粒度要求僅相當于250目普通絲網網徑的1/10～1/5，能使導電微粒順利通過網孔，密集地沉積在承印物上，構成飽滿的導電圖形。

目前，在銀漿生產過程中，用于銀研磨設備是三輥研磨機，在三輥研磨機上安裝有三個輥筒，其中，中間一只輥筒可轉動地固定安裝在機架上，前后兩只輥筒與中間輥筒之間的間隙能夠調節，通過三個輥筒表面相互擠壓及不同線速度的摩擦，從而實現對銀漿的研磨。現有三輥研磨機上的研磨輥筒是中空的鋼質輥筒，兩端接入循環冷卻水冷卻，待研磨的銀漿從前輥和中輥之間加入，經研磨后從后輥流出。根據現有三輥研磨機的研磨原理，要想獲得理想的研磨，除了三個輥筒之間應該設計合理的旋轉速度外，還必須精確調節好三輥之間的間隙。三個輥筒之間滾壓間隙的大小影響到輥筒對銀漿的擠壓磨擦力和剪切力，直接影響到銀漿的研磨效果。目前，三個輥筒的轉速從后向前順次增大，其轉速比為1∶3∶9，這樣就產生很好的研磨效果。而三個輥筒之間的間隙通過左右兩只手動輪來調節，這種調節方式是通過試驗法來確定兩輥筒之間的距離，通過檢測銀漿中銀顆粒的大小，以銀顆粒的直徑大小達到預定值為好。由于現有三輥研磨機的三個輥筒之間的最佳研磨間隙無法一次精確控制，純粹靠操作者的調試經驗操作，對操作者的技術要求很高，人為因素對銀漿質量的影響較大，產品質量波動性大，這是現有三輥研磨機存在的最大缺陷，它直接影響到銀漿的質量。

發明內容

為了克服現有三輥研磨機存在的上述不足，本發明提供了一種輥筒間距調節報警提示裝置。采用這種紅外感應提示裝置，操作者通過轉動現有調節手輪能使三個輥筒快速而準確地達到最佳研磨間隙，無需靠人工經驗來反復調節。

本發明采用的技術方案是：

所述輥筒間距調節報警提示裝置，其特征是：它包括前輥筒、后輥筒、前左光電開關、前右光電開關、后左光電開關、后右光電開關和報警器，前左光電開關和前右光電開關分別設置在前輥筒的左右兩側；后左光電開關和后右光電開關分別設置在后輥筒的左右兩側，且前左光電開關、前右光電開關、后左光電開關和后右光電開關均安裝在機架上，前左光電開關和前右光電開關的安裝位置要求是：當前輥筒相對于中間輥筒處于最佳位置時，前左光電開關和前右光電開關的控測光束分別對準前輥筒的上圓弧的同側不同母線；后左光電開關和后右光電開關的安裝位置要求是：當后輥筒相對于中間輥筒處于最佳位置時，后左光電開關和后右光電開關的探測光束分別對準后輥筒的上圓弧的同側不同母線；前左光電開關、前右光電開關、后左光電開關和后右光電開關并聯后與報警器相連。