[發明專利]一種讀取測試載體上化驗結果的設備

有效

• 申請號: 201010280225.9
• 申請日: 2010-09-09
• 公開（公告）號: CN102401796A
• 公開（公告）日: 2012-04-04
• 發明（設計）人: 詹應安;劉威;吳銀飛;高飛
• 申請（專利權）人: 艾博生物醫藥(杭州)有限公司
• 主分類號: G01N21/77
• 分類號: G01N21/77;G01N21/78;G01N33/543
• 代理公司: 浙江杭州金通專利事務所有限公司 33100
• 代理人: 徐關壽

1.一種讀取測試載體上化驗測試結果的設備，包括：

發光元件，發出光并照射到測試載體上相應的一個或多個區上；

擋光元件，阻擋來自測試載體上的鏡面反射的光照射到光電檢測器上。

2.根據權利要求1所述的設備，其中，所述的設備還包括窗口，發光元件發出的光通過窗口照射到測試載體上。

3.根據權利要求2所述的設備，其中，所述的發光元件、擋光元件以及窗口的位置滿足以下函數關系：S3≥2×S7-S7×S2÷S1，其中，S1表示發光元件與窗口之間的垂直距離；S2表示擋光元件的垂直高度；S3表示擋光元件與發光元件之間的垂直距離；S7表示窗口的長度。

4.根據權利要求3所述的設備，其中，所述的發光元件、擋光元件以及窗口的位置滿足以下函數關系：S3＝2×S7-S7×S2÷S1。

5.一種讀取測試載體上測試結果的設備，包括：

測試載體，測試載體包括一個或多個區；

發光元件，發出光并照射到測試載體上相應的一個或多個區上；

光電檢測器，接收來自測試載體上一個或多個區上的光擋光元件，阻擋來自測試載體上的鏡面反射的光照射到光電檢測器上。

6.根據權利要求5所述的設備，其中，所述的發光元件、擋光元件以及測試載體上區之間的位置滿足以下函數關系：S3≥2×S7-S7×S2÷S1，其中，S1表示發光元件與測試載體上區之間的垂直距離；S2表示擋光元件的垂直高度；S3表示擋光元件與發光元件的垂直距離；S7表示發光元件發出的光照射到測試載體上形成光區的長度。

7.根據權利要求6所述的設備，其中，所述的發光元件、擋光元件以及測試載體上區之間的位置滿足以下函數關系：S3＝2×S7-S7×S2÷S1。

8.根據權利要求1或5所述的設備，其中，擋光元件位于測試載體上的區所產生的鏡面反射光的區域內。

9.根據權利要求1或5所述的設備，其中，擋光元件的垂直高度小于發光元件距離所述測試載體或窗口的垂直距離。

10.根據權利要求1-9之一所述的設備，其中，擋光元件阻擋來自測試載體上的液面所形成的鏡面反射光照射到光電檢測器上。

11.根據權利要求1-9之一所述的設備，其中，所述的載體為多孔載體。