[發明專利]觸碰事件的探測方法與探測電路有效
| 申請號: | 201010277942.6 | 申請日: | 2010-09-03 |
| 公開(公告)號: | CN102385450A | 公開(公告)日: | 2012-03-21 |
| 發明(設計)人: | 張仕勤;周世宗;吳東格 | 申請(專利權)人: | 瑞鼎科技股份有限公司 |
| 主分類號: | G06F3/041 | 分類號: | G06F3/041 |
| 代理公司: | 北京康信知識產權代理有限責任公司 11240 | 代理人: | 李丙林;張英 |
| 地址: | 中國臺*** | 國省代碼: | 中國臺灣;71 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 事件 探測 方法 電路 | ||
技術領域
本發明涉及觸控技術,尤其是涉及一種用以決定觸控面板上的觸碰點的探測方法及其相關裝置。
背景技術
在現代化電子商品當中,電容式觸控面板由于簡單易操作的特性而常被用來作為使用者與機器的溝通接口,其中投射式電容(projective?capacitive)因具有支持多點觸控(multi?touch)、較高的透光率以及省電等特性而被廣泛地應用在手機、車用導航器等可攜式裝置上。然而,投射式電容在用于觸控面板的測量時,通常在橫軸方向或是縱軸方向僅有數個到數十個感測電極(sensingelectrode),而該觸控面板的這些感測電極會依據其上的一觸碰事件來分別產生復數個感測信號,并依據兩兩相鄰的感測電極所產生的感測信號之間的差量,來分別產生復數個感測輸出。在現有技術中,觸碰點的計算通常是用內插的方式,經由計算出的感測輸出所決定的預估峰值,或是以計算出的感測輸出值與極值的比例來預估測量點與極值的距離。請參照圖1,其為于已知的觸控面板100上探測一觸碰事件TEa的示例性示意圖。如圖所示,已知的觸控面板100在X軸與Y軸上各具有六個感應軸X1~X6與Y1~Y6,而感應軸X1~X6、Y1~Y6分別具有相對應的感測輸出值SX1a~SX6a、SY1a~SY6a。舉例來說,對感應軸X1~X6而言,其中僅有感測輸出值SX3a~SX5a為有效數值(即非零的數值),感測輸出值SX3a經由一探測電路比較感應軸X3所探測到的感測信號以及感應軸X2所探測到的感測信號后計算而得到,同樣地,感測輸出值SX4a與感測輸出值SX5a經由該探測電路比較感應軸X4、X5與X5、X6所探測到的感測信號后計算而分別得到的數值。經由內插的方式來計算這些有效數值,便可計算出觸碰事件TEa的觸碰點位在感應軸X3與X4之間的位置。同理,經過計算對應感應軸Y1~Y6的有效數值(即SY3a~SY5a),可得出觸碰事件TEa的觸碰點位在感應軸Y4的位置。
請再參照圖2,其為已知觸控面板100上探測另一觸碰事件TEb的示例性示意圖。相比于觸碰事件TEa,觸碰事件TEb的觸碰點較小,其范圍并無法涵蓋其中探測電極的面積,而有效數值也因此減少。在圖2的范例中,僅有感測輸出值SX3b~SX4b以及SY4b為有效數值,因此后續在作計算時,無法利用內插法來精確地得到觸碰點的位置。再者,當觸碰事件TEb為一動態的觸碰點時,例如使用者應用一觸碰筆(touch?pen)劃過觸碰面板100,由于缺乏足夠的有效數值,其所探測到的觸碰點軌跡會呈現非線性的特性,因此導致較差的系統效能。
所以,如何增加觸控面板100上所探測到的有效數據,進而增加探測數據的線性度仍是此領域有待解決的一大問題。
發明內容
有鑒于此,本發明提供了一種可增加有效探測數據的探測方法與探測電路,進而改善探測數據的線性度。
依據本發明的一實施方案,其提供了一種觸碰事件的探測方法,用以在觸控面板上探測觸碰事件,其中該觸控面板分別在第一維度與第二維度上包含有復數個第一感應軸與復數個第二感應軸,該探測方法包含有:針對每一個第一感應軸來選擇不與該第一感應軸相鄰的第一感應軸以作為第一參考軸,應用該第一感應軸以及該第一參考軸來得到對應該第一感應軸的第一感測數據;應用這些第二感應軸來得到對應每一個第二感應軸的第二感測數據;以及依據所有這些第一感應軸所對應的復數筆第一感測數據以及所有這些第二感應軸所對應的復數筆第二感測數據來得到觸碰事件探測結果。
根據該實施方案所述的探測方法,其中所述第一參考軸與所述第一感應軸之間僅相隔有一第一感應軸。
根據該實施方案所述的探測方法,其中應用所述第二感應軸來得到對應每一個第二感應軸的所述第二感測數據的步驟包含:針對每一個第二感應軸:選擇不與所述第二感應軸相鄰的第二感應軸來作為第二參考軸,應用所述第二感應軸以及所述第二參考軸來得到對應所述第二感應軸的所述第二感測數據。
優選地,在該探測方法中,所述第一參考軸與所述第一感應軸之間僅相隔有一第一感應軸,以及所述第二參考軸與所述第二感應軸之間僅相隔有一第二感應軸。
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