[發(fā)明專利]一種現(xiàn)場測試設(shè)備的校準(zhǔn)方法及校準(zhǔn)系統(tǒng)有效
| 申請?zhí)枺?/td> | 201010276584.7 | 申請日: | 2010-09-06 |
| 公開(公告)號: | CN101915902A | 公開(公告)日: | 2010-12-15 |
| 發(fā)明(設(shè)計)人: | 陳明奎;譚利紅;蘇理;李小文;李進進 | 申請(專利權(quán))人: | 株洲南車時代電氣股份有限公司 |
| 主分類號: | G01R35/00 | 分類號: | G01R35/00 |
| 代理公司: | 北京集佳知識產(chǎn)權(quán)代理有限公司 11227 | 代理人: | 逯長明;王寶筠 |
| 地址: | 412001*** | 國省代碼: | 湖南;43 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 一種 現(xiàn)場 測試 設(shè)備 校準(zhǔn) 方法 系統(tǒng) | ||
1.一種現(xiàn)場測試設(shè)備的校準(zhǔn)方法,其特征在于,包括校驗設(shè)備、測試設(shè)備、接線轉(zhuǎn)換裝置、標(biāo)準(zhǔn)信號源,使用標(biāo)準(zhǔn)USB線連接校驗設(shè)備和測試設(shè)備,測試線連接測試設(shè)備和接線轉(zhuǎn)換裝置,接線轉(zhuǎn)換裝置和標(biāo)準(zhǔn)信號源連接;該方法包括:
測試設(shè)備采集標(biāo)準(zhǔn)信號源發(fā)送的標(biāo)準(zhǔn)正弦波;
校驗設(shè)備檢測測試設(shè)備N個通道的采樣值;
用標(biāo)準(zhǔn)電壓除以N個通道的采樣值,得到N個通道的校準(zhǔn)系數(shù);
測試設(shè)備工作時,獲取N個通道采集的原始數(shù)據(jù);
將N個通道的原始數(shù)據(jù)均乘以對應(yīng)的校準(zhǔn)系數(shù),得到校準(zhǔn)采樣值。
2.如權(quán)利要求1所述的方法,其特征在于,若采用一個數(shù)據(jù)點校準(zhǔn),用標(biāo)準(zhǔn)電壓除以N個通道的采樣值,得到N個通道的校準(zhǔn)系數(shù)為:
用1V除以N個通道的采樣值,得到N個通道的校準(zhǔn)系數(shù);
J為N個通道校準(zhǔn)系數(shù)構(gòu)成的矢量,a1,a2,...,aN分別為各通道采樣值。
3.如權(quán)利要求1所述的方法,其特征在于,若采用多個數(shù)據(jù)點校準(zhǔn),用標(biāo)準(zhǔn)電壓除以N個通道的采樣值,得到N個通道的校準(zhǔn)系數(shù)為:
分別用1V、2V、3V、4V、5V除以N個通道的采樣值,得到N個通道的校準(zhǔn)系數(shù);
aij中表示第i次校準(zhǔn)、第j個通道的采樣值;
校準(zhǔn)系數(shù)為:
Jz=(J1+J2+J3+J4+J5)/5
=[(1/a11+2/a21+3/a31+4/a41+5/a51)/5,...,(1/a1N+2/a2N+3/a3N+4/a4N+5/a5N)/5]
=[j1,j2,...,jN]
4.如權(quán)利要求1、2或3所述的方法,其特征在于,所述校驗設(shè)備為PC機。
5.如權(quán)利要求1所述的方法,其特征在于,所述PC機保存N個通道的校準(zhǔn)系數(shù)。
6.如權(quán)利要求1、2或3所述的方法,其特征在于,所述測試線與被測設(shè)備連接,測試線的接頭與被測設(shè)備接頭相適配。
7.一種現(xiàn)場測試設(shè)備的校準(zhǔn)系統(tǒng),其特征在于,包括校驗設(shè)備、測試設(shè)備、接線轉(zhuǎn)換裝置、標(biāo)準(zhǔn)信號源,使用標(biāo)準(zhǔn)USB線連接校驗設(shè)備和測試設(shè)備,測試線連接測試設(shè)備和接線轉(zhuǎn)換裝置,接線轉(zhuǎn)換裝置和標(biāo)準(zhǔn)信號源連接;
所述測試設(shè)備,用于采集標(biāo)準(zhǔn)信號源發(fā)送的標(biāo)準(zhǔn)正弦波;工作時,獲取N個通道采集的原始數(shù)據(jù);
所述校驗設(shè)備,用于檢測測試設(shè)備N個通道的采樣值,用標(biāo)準(zhǔn)電壓除以N個通道的采樣值,得到N個通道的校準(zhǔn)系數(shù);將N個通道的原始數(shù)據(jù)均乘以對應(yīng)的校準(zhǔn)系數(shù),得到標(biāo)準(zhǔn)采樣值。
8.如權(quán)利要求7所述的系統(tǒng),其特征在于,若采用一個數(shù)據(jù)點校準(zhǔn),用標(biāo)準(zhǔn)電壓除以N個通道的采樣值,得到N個通道的校準(zhǔn)系數(shù)為:
用1V除以N個通道的采樣值,得到N個通道的校準(zhǔn)系數(shù);
J為N個通道校準(zhǔn)系數(shù)構(gòu)成的矢量,a1,a2,...,aN分別為各通道采樣值。
9.如權(quán)利要求7所述的系統(tǒng),其特征在于,若采用多個數(shù)據(jù)點校準(zhǔn),用標(biāo)準(zhǔn)電壓除以N個通道的采樣值,得到N個通道的校準(zhǔn)系數(shù)為:
分別用1V、2V、3V、4V、5V除以N個通道的采樣值,得到N個通道的校準(zhǔn)系數(shù);
aij中表示第i次校準(zhǔn)、第j個通道的采樣值;
校準(zhǔn)系數(shù)為:
Jz=(J1+J2+J3+J4+J5)/5
=[(1/a11+2/a21+3/a31+4/a41+5/a51)/5,...,(1/a1N+2/a2N+3/a3N+4/a4N+5/a5N)/5]
=[j1,j2,...,jN]
10.如權(quán)利要求7、8或9所述的系統(tǒng),其特征在于,所述測試線與被測設(shè)備連接,測試線的接頭與被測設(shè)備接頭相適配。
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