[發明專利]用于循環調整器件的方法和電路

無效

• 申請號: 201010274774.5
• 申請日: 2010-07-29
• 公開（公告）號: CN101989462A
• 公開（公告）日: 2011-03-23
• 發明（設計）人: G·A·馬赫
• 申請（專利權）人: 快捷半導體有限公司
• 主分類號: G11C17/16
• 分類號: G11C17/16
• 代理公司: 中國國際貿易促進委員會專利商標事務所 11038
• 代理人: 馬景輝

技術領域

本發明涉及一種形成在芯片上的用于使其符合規范的調整電路部件，特別地，涉及用于使其符合規范的共享調整值或者代碼的網絡。

背景技術

芯片的制備過程中，微小的工藝改變就會引起變化，隨著時間的流逝和/或其它環境條件，這種變化造成芯片上的電路不能符合其規范。這樣的變化可能包括，但是不限于，化學和成分差異、芯片的物理差異、光刻的差異、壓力以及溫度的差異等。這些差異中的每一種都可能是微小的，但是它們會以這樣的方式累加而使電路超出規范。

用于恢復超出規范的芯片的一種方法是調整芯片上的部件。通常在有問題的芯片上測量一個參數，如電壓、電流、電阻或者頻率，并且，如果測量結果不符合規范，就對電路的部件中施加調整以使該參數符合其規范。調整通常通過金屬連接對電阻的串聯布置施加作用，或者對短路一些部件的熔絲施加作用。熔絲可以選擇性地被斷開來改變最終電阻。例如，一個VCO(電壓控制振蕩器)可具有一個RC(電阻/電容)延遲，其決定了VCO的頻率。可調整電阻以使VCO符合其頻率規范。

發明內容

本發明包括一個包含有并聯路徑的部件的網絡。每一個路徑包括通過一個或者多個熔絲使其長度的一部分物理短路的部件。該部件未被短路的部分的值可被測量并且與規范比較。如果超出規范，就通過選擇性地斷開熔絲來改變部件的值。

可通過代碼來識別要被斷開的特定的熔絲，稱為TRIM?CODE(調整代碼)。代碼可以是二進制代碼，但是其它的代碼也是可用的，如一對一的代碼，其中每個代碼比特標識一個熔絲，并且1可表示要被斷開的熔絲。

相同的代碼然后被用于并聯路徑中的部件，這樣并聯的部件的百分比改變與被首次調整的部件的百分比改變匹配。而且，相同的代碼還可用于相同的芯片上其它可調整的網絡。

作為例示，可測量一個不在網絡中的部件的值，當與規范比較時，該部件的值表示可對其它部件網絡中的熔絲應用的一個特定的調整代碼，使它們符合其規范。

一個或者多個可編程的開關可串聯設置在部件網絡的每個并聯路徑中，其中關閉開關使被調整部件互相并聯。

本發明可應用于電阻、FET、電容，事實上可以應用于由芯片上的物理長度所限定的任何的部件，其中通過可隨后斷開的熔絲把所述長度的一部分短路連接。

附圖說明

本發明的描述結合下述附圖來說明：

圖1是本發明的一個示例的示意圖；以及

圖2是圖1中的部件的詳細示意圖，以及

圖3示出了多組可調整網絡。

具體實施方式

本發明記載了一種開關并聯路徑的可調整部件網絡，其中每一個并聯路徑含有部件(典型地為電阻)，所述部件的一部分通過熔絲被旁路連接。對于并聯的路徑中每一個可調整部件，被旁路的部分表示該部件值的相同的百分比。部件被測量并與規范比較，如果不符合規范，規定數量的熔絲就被斷開，從而使該部件符合其規范。TRIM?CODE用于標識要被斷開的特定的熔絲，同樣也用于標識保持未斷開的熔絲。對并聯路徑中的部件采用相同的TRIM?CODE。

圖1是一個包含輸入IN、輸出OUT和三個并聯路徑(路徑A，路徑B和路徑C)的RC(電阻電容)延遲電路的示意圖。開關S0是可編程的，并且當連通時，路徑B與路徑A并聯。同樣開關S1使路徑C并聯于路徑A。當S0和S1都連通時，路徑A，B，和C都是并聯的。如圖所示，這些路徑在各自路徑的兩端連接在一起，但是這些路徑也可以只在一端連接，而另一端可與地或者其它節點連接。

雖然只有三個路徑A，B，和C會在下文中進一步討論，但是注意到可能存在額外的路徑(具有額外的開關Sn的路徑n)。

在路徑A中，電阻R1包括一個部分ΔR1，如圖2中所示，該部分通過熔絲破旁路。路徑B中的R2，路徑C中的R3也同樣分別具有被旁路的部分ΔR2和ΔR3。

在圖1的實施例中，在使用完好的熔絲將ΔR1短路的情況下從IN到OUT測量路徑A中的電阻R1。在這個實例中，S0和S1是斷開的，所測得的IN和OUT之間的電阻只是R1的未被旁路的部分2的電阻。測量可通過將一個隨著時間變化的信號引入IN節點，并且在OUT處測量輸出信號來實現。輸出信號所造成的時間延遲波形可能會顯示出R1，C1電路可能不符合規范。如果這樣，就可以許可改變從IN到OUT的電阻R1。在圖1中，電容C1可以被分開測量，這樣就可以確定R1值的百分比改變，來使電路符合規范。

需要指出，電阻R1可通過一個歐姆計或者本領域技術人員熟知的其它方法來測量。