[發明專利]一種納米工藝標準單元延遲參數提取方法

無效

• 申請號: 201010272042.2
• 申請日: 2010-09-03
• 公開（公告）號: CN101944146A
• 公開（公告）日: 2011-01-12
• 發明（設計）人: 羅小華;嚴曉浪;丁勇
• 申請（專利權）人: 浙江大學
• 主分類號: G06F17/50
• 分類號: G06F17/50
• 代理公司: 杭州求是專利事務所有限公司 33200
• 代理人: 韓介梅

1.一種納米工藝標準單元延遲參數提取方法，包括以下步驟：

(1)窮舉標準單元輸入組合，將各輸入組合經布爾運算獲得標準單元真值表；兩兩比較真值表各行，將只有一個變量值不同、且輸出不同的兩行形成邏輯激勵波形組合。對所有邏輯激勵波形組合，分別將組合中對應真值表行的各輸入值輸出，對比另一行輸入組合值中不同的輸入端，該輸入端從“0”變化到“1”則對應位為“r”，從“1”變化到“0”則對應位為“f”，其他位不變輸出，形成測試激勵波形；

(2)通過反向器單元驅動標準單元的輸入，由設置反向器輸出端負載電容控制標準單元輸入端信號斜率：通過二分迭代的方法由spice仿真確定反向器最大輸出負載；以輸入信號斜率為確定值，反向器輸出負載在0到最大輸出負載之間均勻取900個測試點，提取反向器的1×900的延遲參數表；通過線性插值計算目標斜率輸入信號對應的反向器負載控制電容值；

(3)標準單元各輸入端由反向器驅動，通過設置反向器輸出負載獲得特定斜率的輸入信號，搭建高仿真測試電路；確定標準單元的最小驅動負載、最大驅動負載、最小輸入信號斜率和最大輸入信號斜率，在最小驅動負載與最大驅動負載之間按2的冪指數分布選擇7個輸出驅動負載，在最小輸入信號斜率和最大輸入信號斜率之間按2的冪指數分布選擇7個輸入信號斜率，將每個輸出驅動負載和各個輸入信號斜率組合，構成7×7的測試點組合表；輸入信號斜率經步驟(2)線性插值轉換成對應驅動反向器的輸出負載值；在spice仿真時，輸出信號到達電源電壓50％的時刻點與輸入信號到達電源電壓50％的時刻點之間的時間差，就是標準單元在特定輸入信號斜率和特定輸出負載情況下的延遲參數；

(4)對各組激勵波形重復步驟(3)，提取標準單元所有組合情況下的延遲參數。