[發明專利]光學記錄介質、制造光學記錄介質的方法、記錄方法及再現方法

無效

• 申請號: 201010271123.0
• 申請日: 2010-09-01
• 公開（公告）號: CN102013260A
• 公開（公告）日: 2011-04-13
• 發明（設計）人: 藤田五郎;齊藤公博
• 申請（專利權）人: 索尼公司
• 主分類號: G11B7/0065
• 分類號: G11B7/0065;G11B7/24
• 代理公司: 北京東方億思知識產權代理有限責任公司 11258
• 代理人: 王安武;南霆

1.一種光學記錄介質，包括：

記錄層，其包括具有預定光柵間距的衍射光柵，通過將透明且折射率略微不同的第一層和第二層交替層疊來獲得所述衍射光柵；以及

中間層，其是透明的且具有比所述記錄層更大的厚度，所述記錄層與所述中間層被交替層疊。

2.根據權利要求1所述的光學記錄介質，

其中，所述中間層具有與所述第一層及所述第二層中任一者的折射率等值的折射率。

3.根據權利要求1所述的光學記錄介質，

其中，所述中間層由光固化樹脂制成。

4.根據權利要求1所述的光學記錄介質，

其中，所述中間層具有10μm或更大的厚度。

5.一種制造光學記錄介質的方法，在所述光學記錄介質中，記錄層與中間層被交替層疊，所述方法包括：

制造包括衍射光柵的記錄層，通過多次將透明且折射率略微不同的第一材料和第二材料交替地層疊成為預定厚度，來提供具有預定光柵間距的所述衍射光柵；并且

制造所述中間層，所述中間層是透明的且具有比所述記錄層更大的厚度。

6.一種記錄方法，用于根據記錄信息在光學記錄介質上記錄刪除標記，包括以下步驟：

根據所述記錄信息發出激光束，使得所述激光束的焦點位置與所述光學記錄介質的作為記錄目標的記錄層一致，并且使作為所述記錄目標的所述記錄層上的折射率分布平坦化，其中，所述光學記錄介質是通過將所述記錄層和中間層交替層疊而構成的，所述記錄層包括通過將透明且折射率彼此略有不同的第一層和第二層交替層疊而提供的具有預定光柵間距的衍射光柵，所述中間層是透明的且具有比所述記錄層更大的厚度。

7.一種用于光學記錄介質的再現方法，包括以下步驟：

向所述光學記錄介質發出激光束，使得所述激光束被聚焦在所述光學記錄介質的作為再現目標的記錄層上，其中，在所述光學記錄介質處，在所述光學記錄介質的所述記錄層上形成有與記錄信息對應的刪除標記，所述光學記錄介質是通過將所述記錄層和中間層交替層疊而構成的，所述記錄層包括通過將透明且折射率彼此略有不同的第一層和第二層交替層疊而提供的具有預定光柵間距的衍射光柵，所述中間層是透明的且具有比所述記錄層更大的厚度；

對在發出激光束步驟發出的所述激光束的反射光進行檢測；并且

基于在檢測反射光步驟對所述反射光的檢測結果，來對在作為所述再現目標的所述記錄層上記錄的信息進行再現。