[發(fā)明專利]基于馬赫-澤德爾光纖干涉儀的相干相位檢測方法

無效

• 申請?zhí)枺?/td>: 201010270088.0
• 申請日: 2010-09-02
• 公開（公告）號: CN101957238A
• 公開（公告）日: 2011-01-26
• 發(fā)明（設(shè)計(jì)）人: 吳戈;田小建;高博;汝玉星;單江東
• 申請（專利權(quán)）人: 吉林大學(xué)
• 主分類號: G01J9/02
• 分類號: G01J9/02
• 代理公司: 長春吉大專利代理有限責(zé)任公司 22201
• 代理人: 王恩遠(yuǎn)

1.一種基于馬赫-澤德爾光纖干涉儀的相干相位檢測方法，采用的裝置包括：激光光源(1)、第一光纖耦合器(2)、第二光纖耦合器(3)、第一光纖干涉臂(4)、第二光纖干涉臂(5)，激光光源(1)發(fā)出的光經(jīng)第一光纖耦合器(2)分為兩路，分別由第一光纖干涉臂(4)、第二光纖干涉臂(5)傳輸；將第一光纖干涉臂(4)和第二光纖干涉臂(5)同時放入同一恒溫度控制系統(tǒng)中；其特征在于，第一光纖干涉臂(4)和第二光纖干涉臂(5)的初相位差檢測方法有三個步驟：

第一步，經(jīng)第二光纖耦合器(3)將第一光纖干涉臂(4)和第二光纖干涉臂(5)的兩路激光合并為一路，用光電二極管探測器探測合并激光的光電流強(qiáng)度記為I₀；

第二步，斷開第二光纖耦合器(3)，再用光電二極管探測器分別探測第一光纖干涉臂(4)和第二光纖干涉臂(5)輸出的光電流強(qiáng)度，記為I₁和I₂；

第三步，利用公式：

計(jì)算出馬赫-澤德爾光纖干涉儀第一光纖干涉臂(4)和第二光纖干涉臂(5)的初相位差；式中K₁、K₂是常數(shù)，大小由第一光纖耦合器(2)兩臂的損耗決定，損耗與K的換算關(guān)系為：

2.按照權(quán)利要求1所述的基于馬赫-澤德爾光纖干涉儀的相干相位檢測方法，其特征在于，所述的第一光纖干涉臂(4)和第二光纖干涉臂(5)均是單模光纖；所述的光電二極管探測器是尾纖型YSPD715探測器。