[發明專利]一種快速的玻璃圖像缺陷檢測及分類方法及其裝置

有效

• 申請號: 201010266615.0
• 申請日: 2010-08-30
• 公開（公告）號: CN101996405A
• 公開（公告）日: 2011-03-30
• 發明（設計）人: 陳熙霖;柴秀娟;崔振;武斌;鄭媛;陳海峰
• 申請（專利權）人: 中國科學院計算技術研究所;圣戈班研發（上海）有限公司
• 主分類號: G06T7/00
• 分類號: G06T7/00;G06K9/62
• 代理公司: 北京律誠同業知識產權代理有限公司 11006
• 代理人: 祁建國;梁揮

1.一種快速的玻璃圖像缺陷檢測及分類方法，其特征在于，包括：

步驟1，對于輸入的玻璃圖像進行窗口掃描，根據窗口內灰度分布的均衡性度量，得到候選缺陷窗口；

步驟2，根據所述候選缺陷窗口的位置關系，合并相鄰的所述候選缺陷窗口，得到候選缺陷區域；

步驟3，獲取所述候選缺陷區域的背景信息，并按照所述候選缺陷區域的灰度分布模式提取缺陷域；

步驟4，將所述缺陷域按照尺度進行歸一化，并提取特征向量，根據所述特征向量進行缺陷分類，得到缺陷分類結果。

2.根據權利要求1所述的玻璃圖像缺陷檢測及分類方法，其特征在于，

所述步驟1中，進一步包括：

用窗口區域的灰度方差作為窗口內灰度分布的均衡性度量，以判斷所述窗口是否可能包含缺陷，灰度方差公式如下：

v=Σx∈W(x-x‾)(x-x‾)]]>

其中，

v是灰度方差，x是窗口W中像素對應的亮度值，是窗口內所有像素亮度的均值，T_W是灰度方差的經驗閾值，若v＞T_w，則認為窗口區域可能包含有缺陷，否則認為此窗口區域為背景區域。

3.根據權利要求1所述的玻璃圖像缺陷檢測及分類方法，其特征在于，

所述步驟3中，進一步包括：

以如下公式獲取所述候選缺陷區域的背景灰度值：

IB=1nΣi=1nIi,(HIi>HIi+1,]]>且T_B-δ＜I_i＜T_B+δ)

其中，

I_B是候選缺陷區域的背景灰度值，i是符合條件的灰度值的索引，n是符合條件的灰度值的總數，δ是經驗值，為一正數，是對應第i個符合條件的灰度值I_i的直方圖，T_B是經驗背景灰度值。

4.根據權利要求3所述的玻璃圖像缺陷檢測及分類方法，其特征在于，

所述步驟3中，進一步包括：

根據缺陷/未定義缺陷的特征和所述背景灰度值，將所述灰度分布模式分成如下模式：

第一灰度分布模式，具有均衡的背景和明顯的暗區；

第二灰度分布模式，具有均衡的背景和暗區以及明顯的高亮區域。