[發明專利]單面快速調整探針高度的迫緊機構、方法及電阻測量設備

無效

• 申請號: 201010266467.2
• 申請日: 2010-08-27
• 公開（公告）號: CN102384990A
• 公開（公告）日: 2012-03-21
• 發明（設計）人: 鄭兆希;胡維彥
• 申請（專利權）人: 向熙科技股份有限公司
• 主分類號: G01R1/067
• 分類號: G01R1/067;G01R1/073;G01R27/02;G01R31/00
• 代理公司: 北京三友知識產權代理有限公司 11127
• 代理人: 任默聞

1.一種探針迫緊機構，用以固定探針于一探針板所預設的通孔中，其特征在于，所述的探針迫緊機構包括：

一固定元件，設有一緊配部及一第一斜面延伸部，所述固定元件以所述緊配部固設于所述通孔下半部；及

一定位元件，設有一帽檐及一第二斜面延伸部，固定所述探針時，對所述帽檐施力將所述定位元件壓入所述通孔，使所述第二斜面延伸部緊配于所述第一斜面延伸部，以對所述探針提供一徑向壓迫力來使探針固定。

2.如權利要求1所述的探針迫緊機構，其特征在于，所述定位元件固定所述探針后，所述帽檐與所述探針板之間具有一間隙，以方便組裝人員將工具伸入將所述定位元件扳起，來重新調整探針高度。

3.如權利要求1所述的探針迫緊機構，其特征在于，所述固定元件及所述定位元件的材質選自塑膠、橡膠或軟木其中的一種。

4.如權利要求1所述的探針迫緊機構，其特征在于，所述通孔內設有螺紋，所述固定元件具有一環型底座，藉由旋轉所述環型底座使所述緊配部螺入所述通孔，以將所述固定元件固定。

5.如權利要求1所述的探針迫緊機構，其特征在于，所述第二斜面延伸部填入所述第一斜面延伸部和所述通孔孔壁所形成的空間中，徑向緊配于所述第一斜面延伸部。

6.如權利要求1所述的探針迫緊機構，其特征在于，所述第二斜面延伸部填入所述第一斜面延伸部和所述探針所形成的空間中，徑向緊配于所述第一斜面延伸部。

7.一種電阻測量設備，用以對一已鍍金屬膜的塑料工件進行電阻值測量，其特征在于，所述電阻測量設備包括：

一探針板，預設多個通孔以放置多根探針，以形成多個電阻值測量點；及

多個探針迫緊機構，一一設置于所述通孔，用以固定所述探針，每一探針迫緊機構包括一固定元件及一定位元件，其中，所述固定元件，設有一緊配部及一第一斜面延伸部，所述固定元件以所述緊配部固設于所述通孔下半部，所述定位元件，設有一帽檐及一第二斜面延伸部，固定所述探針時，對所述帽檐施力將所述定位元件壓入所述通孔，使所述第二斜面延伸部緊配于所述第一斜面延伸部，以對所述探針提供一徑向壓迫力來使探針固定。

8.如權利要求7所述的測量設備，其特征在于，所述探針板系根據所述塑料工件的客制化需求而設立所述探針的位置，其中所述多根探針至少3根以上。

9.如權利要求7所述的測量設備，其特征在于，所述探針迫緊機構更包括一墊圈，所述墊圈固定于所述探針板和所述定位元件之間，以保護所述定位元件，并且所述墊圈、所述固定元件及所述定位元件的材質選自塑膠、橡膠或軟木其中的一種。

10.如權利要求7所述的測量設備，其特征在于，所述定位元件固定所述探針后，所述帽檐與所述探針板之間具有一間隙，以方便組裝人員將工具伸入以將所述定位元件扳起，來重新調整探針高度。

11.一種單面微調探針高度并固定的方法，用以對一工件進行電性測量，其特征在于，所述的方法包括：

提供一探針迫緊機構，包括一固定元件及一定位元件，其中，所述固定元件，設有一緊配部及一第一斜面延伸部，所述定位元件，設有一帽檐及一第二斜面延伸部；

將所述固定元件以所述緊配部固設于所述通孔下半部；

將所述探針插入所述固定元件中，并依照所述工件表面的待測點的高度將探針調整至一預定位置；及

對所述帽檐施力將所述定位元件壓入所述通孔，使所述第二斜面延伸部緊配于所述第一斜面延伸部，以對所述探針提供一徑向壓迫力來使探針固定。

12.如權利要求11所述的方法，其特征在于，所述定位元件固定所述探針后，所述帽檐與所述探針板之間具有一間隙，所述方法更包括利用一工具伸入所述間隙以將所述定位元件扳起，重新調整探針位置。