[發明專利]降壓用耗盡型N型橫向雙擴散金屬氧化物半導體管有效
| 申請號: | 201010265890.0 | 申請日: | 2010-08-27 |
| 公開(公告)號: | CN101969072A | 公開(公告)日: | 2011-02-09 |
| 發明(設計)人: | 孫偉鋒;錢欽松;朱奎英;陸生禮;時龍興 | 申請(專利權)人: | 東南大學 |
| 主分類號: | H01L29/78 | 分類號: | H01L29/78;H01L29/06 |
| 代理公司: | 南京經緯專利商標代理有限公司 32200 | 代理人: | 黃雪蘭 |
| 地址: | 214135 江蘇*** | 國省代碼: | 江蘇;32 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 降壓 耗盡 橫向 擴散 金屬 氧化物 半導體 | ||
1.一種降壓用耗盡型N型橫向雙擴散金屬氧化物半導體管,包括:P型半導體襯底(1),在P型半導體襯底(1)上設置有N型埋層(2),在N型埋層(2)上設置有P型阱區(3),在P型阱區(3)的左右兩側分別設有構成PN結隔離的第一N型阱區(4)及第二N型阱區(19),在第一N型阱區(4)上設有第一N型歐姆接觸區(21),在第二N型阱區(19)上設有第二N型歐姆接觸區(22),在P型阱區(3)表面右側設置有漏端N型漂移區(6),在漏端N型漂移區(6)表面上設置有N型漏區(10),在P型阱區(3)表面左側設置有P型接觸區(7)、N型源區(8)和N型溝道注入區(9),在N型溝道注入區(9)上方設置有柵氧化層(12),在P型阱區(3)、第一N型阱區(41)及第二N型阱區(42)的表面的P型接觸區(7)、N型源區(8)、N型溝道注入區(9)、N型漏區(10)、第一N型歐姆接觸區(21)和第二N型歐姆接觸區(22)之外區域設置有場氧化層(11),在柵氧化層(12)的上方設置有多晶硅電極(13)且所述多晶硅電極(13)延伸至和柵氧化層(12)右側相鄰的場氧化層上方,在P型接觸區(7)和多晶硅電極(13)上方布有柵極金屬連線(14),在N型漏區(10)上方有漏極金屬連線(17),在N型源區(8)上方有源極金屬連線(16),在第一N型歐姆接觸區(21)上連接有第一金屬電極連線(18),在第二N型歐姆接觸區(22)上連接有第二金屬電極連線(20),在P型接觸區(7)、N型源區(8)、N型漏區(10)、場氧化層(11)、多晶硅電極(13)、第一N型歐姆接觸區(21)和第二N型歐姆接觸區(22)的表面的柵極金屬連線(14)、源極金屬連線(16)、漏極金屬連線(17)、第一金屬電極連線(18)和第二金屬電極連線(20)之外區域設置有介質隔離氧化層(15),其特征在于在P型阱區(3)內設有P型注入區(5),且P型注入區(5)的左端邊界位于N型源區(8)的下方,P型注入區(5)的右端邊界與漏端N型漂移區(6)相鄰。
2.根據權利要求1所述的降壓用耗盡型N型橫向雙擴散金屬氧化物半導體管,其特征在于P型注入區(5)距離N型溝道注入區(9)下方0.2~0.5μm。
3.根據權利要求1所述的降壓用耗盡型N型橫向雙擴散金屬氧化物半導體管,其特征在于P型注入區(5)的右端邊界延伸進入漏端N型漂移區(6)。
4.根據權利要求1所述的降壓用耗盡型N型橫向雙擴散金屬氧化物半導體管,其特征在于P型注入區(5)與漏端N型漂移區(6)之間相距0-0.2μm。
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