[發明專利]物鏡和包括該物鏡的光學拾取器

有效

• 申請號: 201010260307.7
• 申請日: 2010-08-20
• 公開（公告）號: CN101996651A
• 公開（公告）日: 2011-03-30
• 發明（設計）人: 斯蒂芬·納普曼;喬基姆·尼特爾;于爾根·莫斯納
• 申請（專利權）人: 湯姆森特許公司
• 主分類號: G11B7/09
• 分類號: G11B7/09;G02B13/00
• 代理公司: 北京市柳沈律師事務所 11105
• 代理人: 馬高平

1.一種物鏡(2)，其包括被布置于共用光軸(A)的固體浸沒透鏡(4)和變焦透鏡(6)，其中所述變焦透鏡(6)包括中心區(8)和圍繞所述中心區(8)的周邊區(10)，其特征在于：所述周邊區(10)適于構成用于遠場模式的光學系統，并且所述變焦透鏡(6)的中心區(8)與所述固體浸沒透鏡(4)一起適于構成用于近場模式的光學系統，所述固體浸沒透鏡(4)和所述變焦透鏡(6)適于一體地移動。

2.根據權利要求1所述的物鏡(2)，其特征在于，所述固體浸沒透鏡(4)和所述變焦透鏡(6)的所述中心區(8)構成近場光學系統。

3.根據權利要求1或2所述的物鏡(2)，其特征在于，所述變焦透鏡(6)的所述周邊區(10)被設計成允許光學遠場操作。

4.根據先前權利要求中的一項所述物鏡(2)，其特征在于，所述中心區(8)的焦距比所述周邊區(10)的焦距短。

5.根據先前權利要求中的一項所述的物鏡(2)，其特征在于，環形孔徑(12)被布置在所述變焦透鏡(6)的所述中心區(8)和所述周邊區(10)之間。

6.一種用于在遠場模式和近場模式中操作的光學拾取器(24)，其特征在于，所述光學拾取器(24)包括根據權利要求1至5中任一項所述的物鏡(2)。

7.根據權利要求6所述的光學拾取器，其特征在于，信號光束(42)的第一部分被引導進入第一分析光束路徑(44)，所述信號光束(42)的第二部分被引導進入第二分析光束路徑(46)，其中所述第一分析光束路徑(44)被設置為用于對焦控制。

8.根據權利要求6所述的光學拾取器(24)，其特征在于，通過所述固體浸沒透鏡(4)和所述變焦透鏡(6)的所述中心區(8)的信號光束(42)的第一部分耦合入第一分析光束路徑(44)，通過所述變焦透鏡(6)的所述周邊區(10)的所述信號光束(42)的第二部分耦合入第二分析光束路徑(46)，其中所述第二分析光束路徑(46)被設置為用于對焦控制。

9.一種用于操作光學拾取器(24)的方法，所述光學拾取器(24)包括根據權利要求至5中的一項所述的物鏡(2)，所述方法包括如下步驟：

-基于使用用于在遠場模式中工作的光學系統進行的對焦控制使所述物鏡(2)接近光存儲介質(22)的面(21)以達到所述物鏡(2)和所述光存儲介質(22)的所述面(21)之間的遠場工作距離(DF)，其中所述遠場工作距離(DF)至少近似地等于所述變焦透鏡(6)的所述周邊區(10)的焦距；和

-使所述物鏡(2)接近所述光存儲介質(22)的所述面(21)以達到近場工作距離(NF)，其中所述近場工作距離(NF)比所述遠場工作距離(DF)短。

10.根據權利要求9所述的方法，其特征在于，使所述物鏡(2)接近所述近場工作距離(NF)的步驟通過使所述物鏡(2)移動離開所述遠場工作距離(DF)預定的值來實現。

11.根據權利要求10所述的方法，其特征在于，所述預定的值至少近似地等于所述變焦透鏡(6)的所述周邊區(10)的焦距與所述近場工作距離(NF)之間的差。

12.根據權利要求9至11中的一項所述的方法，其特征在于，還具有以下步驟：

-使信號光束(42)的第一部分耦合至第一分析光束路徑(44)，所述第一分析光束路徑(44)被設置為用于對焦控制；和

-將所述信號光束(42)的第二部分耦合至第二分析光束路徑(46)；

其中使所述光存儲介質(22)的所述面(21)接近所述遠場工作距離(DF)的步驟通過使用所述第一分析光束路徑(44)的對焦控制來實現。

13.根據權利要求12所述的方法，其特征在于，在遠場操作期間，所述第一分析光束路徑被用于控制所述遠場工作距離(DF)，而在近場操作期間，所述第二分析光束路徑被用于控制所述近場工作距離(NF)，并且所述第一分析光束路徑(44)被用于獲取數據。