[發(fā)明專利]一次電源加擾儀

有效

• 申請(qǐng)?zhí)枺?/td>: 201010259986.6
• 申請(qǐng)日: 2010-08-23
• 公開（公告）號(hào): CN101943733A
• 公開（公告）日: 2011-01-12
• 發(fā)明（設(shè)計(jì)）人: 成渭民;張宏科;李智;馮亞青;馮喬
• 申請(qǐng)（專利權(quán)）人: 中國(guó)航天科技集團(tuán)公司第九研究院第七七一研究所
• 主分類號(hào): G01R31/00
• 分類號(hào): G01R31/00;G01R19/165;H02M9/02
• 代理公司: 西安通大專利代理有限責(zé)任公司 61200
• 代理人: 陸萬壽

技術(shù)領(lǐng)域：

本發(fā)明屬于電磁兼容預(yù)測(cè)試技術(shù)領(lǐng)域，涉及一種一次電源上疊加干擾電壓的電路結(jié)構(gòu)，尤其是一種一次電源加擾儀。

背景技術(shù)：

在一次電源上疊加一定的干擾電壓后給被測(cè)設(shè)備供電，測(cè)試并驗(yàn)證被測(cè)設(shè)備的抗干擾能力，是電磁兼容預(yù)測(cè)試的一項(xiàng)重要內(nèi)容。本發(fā)明所涉一次電源加擾儀可完成《航天系統(tǒng)電磁兼容性要求GJB3590-99》和《飛機(jī)供電特性GJB181A-2003》要求的一次電源浪涌電壓試驗(yàn)項(xiàng)目。

目前要進(jìn)行此類試驗(yàn)一般有兩種途徑：

一是使用數(shù)字可編程電源進(jìn)行一次電源疊加干擾的模擬測(cè)試。

由于受電源輸出電感、電容及環(huán)路參數(shù)的制約，數(shù)字可編程電源輸出電壓的上升/下降時(shí)間為毫秒級(jí)，這種毫秒級(jí)模擬測(cè)試往往不能全面滿足測(cè)試要求。

二是使用電磁兼容試驗(yàn)室的浪涌電壓專用設(shè)備。

由于此類專用設(shè)備一般需要與實(shí)驗(yàn)室專用工裝配合使用，所以使用場(chǎng)地有局限性，難于對(duì)生產(chǎn)過程中的半成品或處于生產(chǎn)、調(diào)試環(huán)節(jié)的產(chǎn)品進(jìn)行抗擾能力的預(yù)測(cè)試；此類專用設(shè)備價(jià)格昂貴，試驗(yàn)費(fèi)用高，一般只用于對(duì)產(chǎn)品性能做鑒定性測(cè)試，不適合對(duì)半成品或處于生產(chǎn)、調(diào)試環(huán)節(jié)的產(chǎn)品進(jìn)行多次摸底試驗(yàn)及預(yù)測(cè)試。

目前測(cè)試并驗(yàn)證被測(cè)設(shè)備的抗干擾能力一般使用數(shù)字可編程電源或用電磁兼容試驗(yàn)室專用的浪涌電壓設(shè)備，存在三個(gè)不足之處：

1)數(shù)字可編程電源的輸出電壓上升及下降時(shí)間過于緩慢，不能全面滿足測(cè)試要求；

2)電磁兼容實(shí)驗(yàn)室專用設(shè)備使用場(chǎng)地有局限性，難于對(duì)生產(chǎn)過程中的半成品或處于生產(chǎn)、調(diào)試環(huán)節(jié)的產(chǎn)品進(jìn)行抗擾能力的預(yù)測(cè)試；

3)電磁兼容實(shí)驗(yàn)室專用設(shè)備價(jià)格昂貴，試驗(yàn)費(fèi)用高，一般只適用于產(chǎn)品的鑒定性測(cè)試，不適合對(duì)半成品或處于生產(chǎn)、調(diào)試環(huán)節(jié)的產(chǎn)品進(jìn)行多次摸底試驗(yàn)及預(yù)測(cè)試。

發(fā)明內(nèi)容：

本發(fā)明所涉一次電源加擾儀就是針對(duì)上述問題而研制，構(gòu)思巧妙，結(jié)構(gòu)簡(jiǎn)單。能夠?qū)崿F(xiàn)如下功能和性能：

1)具有正常輸出、過電壓浪涌輸出、欠電壓浪涌輸出、微掉電輸出四種輸出模式。

每種輸出模式最大功率500W；

2)在一次電源疊加的電壓浪涌干擾波形的上升/下降時(shí)間達(dá)到微妙級(jí)；

3)疊加的過電壓浪涌或欠電壓浪涌的幅值可調(diào)節(jié)，滿足《航天系統(tǒng)電磁兼容性要求GJB3590-99》和《飛機(jī)供電特性GJB181A-2003》中對(duì)浪涌電壓幅值的要求；

4)疊加的過電壓浪涌或欠電壓浪涌的時(shí)間可調(diào)節(jié)，調(diào)節(jié)范圍為10μs到200ms，滿足試驗(yàn)一般電子系統(tǒng)過電壓/欠電壓浪涌試驗(yàn)要求；

5)增加了微掉電功能，掉電時(shí)間可調(diào)節(jié)，調(diào)節(jié)范圍為10μs到200ms，滿足試驗(yàn)一般電子系統(tǒng)抗掉電試驗(yàn)要求。

這種一次電源加擾儀在各項(xiàng)性能指標(biāo)上可以模擬電磁兼容實(shí)驗(yàn)室專用設(shè)備輸出的過電壓/欠電壓浪涌，能對(duì)半成品或處于生產(chǎn)、調(diào)試環(huán)節(jié)的產(chǎn)品進(jìn)行多次摸底試驗(yàn)及預(yù)測(cè)試，提高了測(cè)試的便利性和針對(duì)性，降低了測(cè)試成本。

本發(fā)明涉及一種在一次電源上疊加干擾電壓的電路結(jié)構(gòu)，旨在解決對(duì)半成品或處于生產(chǎn)、調(diào)試環(huán)節(jié)的產(chǎn)品的一次電源上疊加干擾電壓的問題。利用計(jì)算機(jī)控制，使得一次源疊加的干擾電壓的幅值、寬度可調(diào)，最終形成一種一次電源加擾儀。能夠驗(yàn)證單機(jī)設(shè)備和分系統(tǒng)設(shè)備，在研產(chǎn)過程中的EMC預(yù)測(cè)試，測(cè)試并驗(yàn)證被測(cè)設(shè)備的抗干擾能力。

本發(fā)明的目的在于克服上述現(xiàn)有技術(shù)的缺點(diǎn)，提供一次電源加擾儀，

所述電路結(jié)構(gòu)由電源模塊A、電源模塊B、電源模塊C、二極管D1、二極管D2、二極管D3、MOS管Q1、MOS管Q2、MOS管Q3、單片機(jī)控制模塊、驅(qū)動(dòng)模塊、電位器、LCD液晶顯示模塊以及鍵盤組成；

所述電源模塊A、電源模塊B、電源模塊C的輸入端共同連接220伏50赫茲的交流電源，電源模塊A的輸出正線連接二極管D1的陽(yáng)極，二極管D1的陰極連接MOS管Q1的漏級(jí)D，MOS管Q1的源級(jí)S連接輸出正線，電源模塊A的輸出地線連接輸出負(fù)線。電源模塊B的輸出正線連接二極管D2的陽(yáng)極，二極管D2的陰極接在MOS管Q2的源級(jí)S，MOS管Q2的漏級(jí)D接輸出正線，電源模塊B的輸出地線接輸出負(fù)線；電源模塊C的輸出正線連接二極管D3的陽(yáng)極，二極管D3的陰極接在MOS管Q3的源級(jí)S，MOS管Q3的漏級(jí)D連接輸出正線，電源模塊C的輸出地線連接輸出負(fù)線。電位器連接在電源模塊A、電源模塊B、電源模塊C電壓調(diào)節(jié)端；