[發(fā)明專利]一種檢測手機是否校準的方法

無效

• 申請?zhí)枺?/td>: 201010257758.5
• 申請日: 2010-08-19
• 公開（公告）號: CN102013926A
• 公開（公告）日: 2011-04-13
• 發(fā)明（設計）人: 林建優(yōu)
• 申請（專利權(quán)）人: 上海聞泰電子科技有限公司
• 主分類號: H04B17/00
• 分類號: H04B17/00;H04M1/725
• 代理公司: 上海漢聲知識產(chǎn)權(quán)代理有限公司 31236
• 代理人: 胡晶

技術(shù)領(lǐng)域

本發(fā)明涉及移動終端領(lǐng)域，特別涉及一種檢測手機是否校準的方法。

背景技術(shù)

隨著移動電話的日益普及，移動電話在人們生活中發(fā)揮著越來越重要的作用。手機的通話質(zhì)量，信號的強弱，多媒體的音質(zhì)等問題將直接影響人們的生活質(zhì)量。而這些問題在很大程度上是因為手機沒有校準引起的。手機必須校準的原因是：現(xiàn)在生產(chǎn)的相同型號手機雖然使用都是相同器件，但這相同器件還是有的一定的偏差，由此組合的手機就必然存在著差異，但這差異是在一定的范圍，超出了就視為手機不良，從而造成手機通話質(zhì)量，屏幕顯示效果等問題。這些問題將直接影響到人們的日常工作、學習和生活。

而在實踐中，手機被漏校準的事情時有發(fā)生，所以提供一種檢測手機是否校準的方法就比較迫切了。

發(fā)明內(nèi)容

本發(fā)明的目的是提供一種檢測手機是否校準的方法，實現(xiàn)方便快捷的甄別手機是否經(jīng)過校準。

本發(fā)明一種檢測手機是否校準的方法，其特征在于，包括以下步驟：

1.1、在手機校準時將校準參數(shù)寫入所述手機存儲器的指定地址；

1.2、再將預設的約定值寫入所述存儲器的指定地址；

1.3、啟動經(jīng)過上述兩步驟處理的手機并讀取其存儲器存儲的所述約定值；

1.4、判斷所述步驟1.3讀取的約定值是否等于所述步驟1.2中預設的約定值，若等于則所述手機已經(jīng)校驗，若不等于則所述手機未經(jīng)校驗。

所述手機存儲器為手機閃存。

所述步驟1.1中寫入的校準參數(shù)包括射頻校準參數(shù)。

所述步驟1.4中判斷的結(jié)果為等于，則向所述手機顯示屏輸出正常的待機界面；若判斷結(jié)果為不等于，則向所述手機顯示屏輸出異常的待機界面。

所述異常的待機界面是指待機界面非等間距顯示時間信息。

所述正常的待機界面是指待機界面等間距顯示時間信息。

采用本發(fā)明所述的一種檢測手機是否校準的方法，其首先在手機校準時將預設的約定值加入手機閃存的指定地址，手機開機時對其進行是否校準的檢測時，首先讀取所述手機閃存的指定地址，若讀取的值為預設的約定值時，則認為所述手機已經(jīng)校準，此時手機顯示屏顯示正常的待機界面；若讀取的值不為預設的約定值時，則認為所述手機未經(jīng)校準，此時手機顯示屏顯示異常的待機界面。

附圖說明

圖1是所述方法的原理框圖；

圖2是所述方法的流程圖；

圖3是所述方法判斷約定值是否匹配的流程圖；

圖4是將檢測結(jié)果通過手機界面顯示的流程圖。

具體實施方式

下面結(jié)合附圖和實施例進一步說明本發(fā)明的技術(shù)方案。

本發(fā)明所述的一種檢測手機是否校準的方法，包括以下步驟：

1.1、在手機校準時將校準參數(shù)寫入所述手機存儲器的指定地址。作為一實施例，所述手機存儲器為手機閃存，所述寫入的校準參數(shù)包括射頻校準參數(shù)。

1.2、再將預設的約定值寫入所述存儲器的指定地址；

1.3、啟動經(jīng)過上述兩步驟處理的手機并讀取其存儲器存儲的所述約定值；

1.4、判斷所述步驟1.3讀取的約定值是否等于所述步驟1.2中預設的約定值，若等于則所述手機已經(jīng)校驗，向所述手機顯示屏輸出正常的待機界面；若不等于則所述手機未經(jīng)校驗，則向所述手機顯示屏輸出異常的待機界面。作為一實施例，所述異常的待機界面是指待機界面非等間距顯示時間信息，所述正常的待機界面是指待機界面等間距顯示時間信息。

參照圖1，CMU200是綜測儀，用來測試手機的各項射頻指標；校準工具軟件是采用一定的校準算法來完成各項射頻指標的校正；固定參數(shù)是不需要校準的參數(shù)，如時序，ramp等；校準參數(shù)是需要校準的參數(shù)，如電源參數(shù)等；NVRAM?editor(內(nèi)存編輯)是手機閃存的內(nèi)存的讀寫工具。

參照圖2，首先用校準工具軟件對手機進行校準，校準過程中，校準工具軟件通過NVRAM?editor讀取待測手機閃存里的信息，通過GPIB(通用接口總線)控制卡控制CMU200來測試并校準各項校準參數(shù)，然后連同固定參數(shù)一起寫入保存到待測手機flash(閃存)，即將校準參數(shù)寫入手機的指定flash地址并在flash的空閑地址寫入約定值；然后在開機時從flash的空閑地址讀出寫入的值進行比較；最后在手機的顯示界面上顯示出比較的結(jié)果。結(jié)合本發(fā)明具體來說，先確定手機flash的一塊連續(xù)地址，用來存放手機校準后的參數(shù)。校準參數(shù)中的txVrampMax[1][15]約定值為TRUE，如果讀取的結(jié)果為該值則說明已校準，為了反饋該結(jié)果，在界面上顯示是否校準過的差異。