[發(fā)明專利]PI線選取和采樣方法和裝置以及CT圖像重建方法和裝置

有效

• 申請?zhí)枺?/td>: 201010257010.5
• 申請日: 2010-08-18
• 公開（公告）號: CN102376096A
• 公開（公告）日: 2012-03-14
• 發(fā)明（設(shè)計）人: 刑宇翔;張麗;陳志強(qiáng);張文宇;趙自然;肖永順;李亮;黃志峰
• 申請（專利權(quán)）人: 清華大學(xué);同方威視技術(shù)股份有限公司
• 主分類號: G06T11/00
• 分類號: G06T11/00;A61B6/03;G01N23/04
• 代理公司: 中國專利代理(香港)有限公司 72001
• 代理人: 張曉冬;李家麟

1.一種PI線選取和采樣方法，其特征在于，包括步驟：

在螺旋軌道上選取在XY平面上投影互相平行且等間距分布的PI線；

在所述PI線上等距離選取采樣點。

2.如權(quán)利要求1所述的PI線選取和采樣方法，其特征在于，所述步驟在螺旋軌道上選取在XY平面上投影互相平行且等間距分布的PI線進(jìn)一步包括：

選取與重建區(qū)域相切的PI線，其中，λ₁^E＝λ₁^B+2π-2cos^-1(r/R)，λ₁^B表示該P(yáng)I線起始點的光源角度，λ₁^E表示該P(yáng)I線終止點的光源角度，R表示射線源旋轉(zhuǎn)半徑，r表示重建區(qū)域在XY平面上投影的半徑；

選取下一條PI線使其在X-Y平面的投影與前面所選PI線在X-Y平面的投影平行且相距一距離，直到這些PI線所形成的PI曲面在XY平面的投影覆蓋重建區(qū)域在XY平面的投影且各相鄰PI線間距離相等；

按照上述步驟選取下一PI曲面上的PI線直到這些PI曲面覆蓋了需重建的物體高度，其中，是該P(yáng)I曲面的第一條PI線起始點的光源角度，Δ_Z表示兩個相鄰PI曲面與Z軸交點的距離之差。

3.一種CT圖像重建方法，其特征在于，包括步驟：

在螺旋軌道上選取在XY平面上投影相互平行且等間距分布的PI線；

在所述PI線上等距離選取采樣點；

根據(jù)PI線所相關(guān)的投影數(shù)據(jù)重建所述采樣點；

把上述重建結(jié)果采樣成直角坐標(biāo)系下的均勻像素。

4.如權(quán)利要求3所述的CT圖像重建方法，其特征在于，所述步驟在螺旋軌道上選取在XY平面上投影互相平行且等間距分布的PI線進(jìn)一步包括：

選取與重建區(qū)域相切的PI線，其中，λ₁^E＝λ₁^B+2π-2cos^-1(r/R)，λ₁^B表示PI線起始點的光源角度，λ₁^E表示PI線終止點的光源角度，R為射線源旋轉(zhuǎn)半徑，r表示重建區(qū)域在XY平面投影的半徑；

選取下一條PI線使其在X-Y平面的投影與前面所選PI線在X-Y平面的投影平行且相距一距離，直到這些PI線所形成的PI曲面在XY平面的投影覆蓋重建區(qū)域在XY平面的投影且各相鄰PI線間距離相等；

按照上述步驟選取下一PI曲面上的PI線直到這些PI曲面覆蓋了需重建的物體高度，其中，表示該P(yáng)I曲面的第一條PI線起始點的光源角度，Δ_Z表示兩個相鄰PI曲面與Z軸交點的距離之差。

5.如權(quán)利要求3或者4所述的CT圖像重建方法，其特征在于，所述步驟根據(jù)PI線所相關(guān)的投影數(shù)據(jù)重建所述采樣點進(jìn)一步包括：

對PI線所相關(guān)的投影數(shù)據(jù)進(jìn)行微分加權(quán)反投影；

對加權(quán)反投影后的結(jié)果進(jìn)行有限希爾伯特濾波。

6.一種PI線選取和采樣裝置，其特征在于，包括：

PI線選取單元，用于在螺旋軌道上選取在XY平面上投影互相平行且等間距分布的PI線；

采樣點選取單元，用于在所述PI線上等距離選取采樣點。