[發明專利]測試裝置與其相關測試方法

有效

• 申請號: 201010256936.2
• 申請日: 2010-08-17
• 公開（公告）號: CN102375100A
• 公開（公告）日: 2012-03-14
• 發明（設計）人: 陳東旸;駱宏明
• 申請（專利權）人: 奇景光電股份有限公司
• 主分類號: G01R31/00
• 分類號: G01R31/00;G01R31/12
• 代理公司: 永新專利商標代理有限公司 72002
• 代理人: 陳松濤;韓宏

技術領域

本發明涉及一種電子產品的測試裝置與其相關測試方法，尤其涉及一種測試電子產品的過度電性應力的裝置與其相關方法。

背景技術

在當前電子產業的生態下，通常電子產品并不是完全由一間公司在同一間工廠內所生產的。換句話說，當該電子產品可能由一工廠完成到半成品狀態，而接著由另一間工廠來將該半成品(例如一集成電路)完成為該電子產品。然而，大部分的工廠在對半成品進行靜電放電(Electrostatic?discharge，ESD)測試與過度電性應力(Electrical?Overstress，EOS)測試時都無法模擬出該半成品在下一間工廠所面對到真正的過度電性應力現象。此外，當該半成品在一工廠內發生該過度電性應力損毀時，該半成品的集成電路芯片內所呈現出來的金屬線燒毀現象會比發生該靜電放電損毀時所呈現出來的金屬線燒毀現象來得嚴重，且該過度電性應力所造成的損毀又與電源端短路所造成的損毀不太一樣。因此，當該半成品發生該過度電性應力損毀時，一般上很難通過實驗的方式來測試該半成品并復制出一模一樣的損壞。如此一來，當該半成品發生該過度電性應力損毀時，工廠端與工廠端之間就很難厘清到底誰應該對該過度電性應力的損毀責任。因此，如何精確的對電子產品進行過度電性應力測試以量化該電子產品所能承受的過度電性應力已成為此領域亟需解決的問題。

發明內容

因此，本發明的目的在于提供一種測試電子產品的過度電性應力的裝置與其相關方法，以解決現有技術所面臨的問題。

依據本發明的第一實施例，其提供一種測試方法，用來測試待測裝置。該測試方法包含有下列步驟：將該待測裝置放置于電場內；提供供應電源來啟動該待測裝置；以及對已啟動且放置于該電場內的該待測裝置的至少一個金屬測點輸入測試信號，來對該待測裝置進行測試。

依據本發明的第二實施例，其提供一種測試裝置，用來測試待測裝置，該測試裝置包含有電場產生裝置、電源供應器以及信號產生裝置。該電場產生裝置用于在第一金屬板與第二金屬板之間產生電場，其中該待測裝置放置于該第一金屬板與該第二金屬板之間。該電源供應器耦接于該待測裝置，用來提供供應電源來啟動該待測裝置。該信號產生裝置耦接于該待測裝置，用來對已啟動且放置于該電場內的該待測裝置的至少一個金屬測點輸入測試信號，來對該待測裝置進行測試。

附圖說明

圖1為本發明一種測試裝置的實施例示意圖。

圖2為本發明測試方法的實施例流程圖。

【主要元件符號說明】

100測試裝置

102待測裝置

104電場產生裝置

106電源供應器

108信號產生裝置

1022金屬測點

1024集成電路芯片

1026電路板

1042第一金屬板

1044第二金屬板

1082脈沖產生器

1084電容器

1086開關

具體實施方式

在說明書及權利要求書中使用了某些詞匯來指稱特定的元件。所屬領域中普通技術人員應可理解，硬件制造商可能會用不同的名詞來稱呼同一個元件。本說明書及后續的權利要求書并不以名稱的差異來作為區分元件的方式，而是以元件在功能上的差異來作為區分的準則。在通篇說明書及權利要求書中所提及的「包含」為開放式的用語，故應解釋成「包含但不限定于」。此外，「耦接」一詞在此包含任何直接及間接的電氣連接手段，因此，若文中描述第一裝置耦接于第二裝置，則代表該第一裝置可直接電氣連接于該第二裝置，或者通過其它裝置或連接手段間接地電氣連接至該第二裝置。