[發(fā)明專利]板級測試系統(tǒng)

有效

• 申請?zhí)枺?/td>: 201010256321.X
• 申請日: 2010-08-17
• 公開（公告）號: CN101937222A
• 公開（公告）日: 2011-01-05
• 發(fā)明（設(shè)計(jì)）人: 郜春海;袁彬彬;馬連川;王悉
• 申請（專利權(quán)）人: 北京交通大學(xué)
• 主分類號: G05B19/418
• 分類號: G05B19/418;G01R31/28
• 代理公司: 北京路浩知識產(chǎn)權(quán)代理有限公司 11002
• 代理人: 王瑩

1.一種板級測試系統(tǒng)，其特征在于，包括：

測試上位機(jī)，配置數(shù)據(jù)采集卡、數(shù)據(jù)通信卡和板級測試軟件，通過數(shù)據(jù)采集卡與測試控制器連接，通過以太網(wǎng)、其本身的接口RS-232以及數(shù)據(jù)通信卡提供的RS-485接口、RS-422接口與待測電路板連接，通過運(yùn)行板級測試軟件完成對待測電路板的測試；

測試控制器，分別與測試上位機(jī)中的數(shù)據(jù)采集卡和測試插箱背板連接，用于對測試所需的測試激勵(lì)信號和測試輸出信號進(jìn)行電平變換，以及提供待測電路板和電平變換所需的受控電源；

測試插箱背板，分別與所述測試控制器和待測電路板連接，以及

測試插箱，用于容納待測電路板。

2.如權(quán)利要求1所述的板級測試系統(tǒng)，其特征在于，所述測試控制器包括：

數(shù)據(jù)采集卡輸出信號緩沖單元，用于對電源控制信號和測試激勵(lì)信號進(jìn)行電平緩沖；

數(shù)據(jù)采集卡輸入信號緩沖單元，用于對測試輸出信號進(jìn)行電平緩沖；

電源控制單元，用于對待測電路板所需要的電源進(jìn)行導(dǎo)通和斷開控制，確保只有測試時(shí)才向待測電路板提供電源。

3.如權(quán)利要求2所述的板級測試系統(tǒng)，其特征在于，所述數(shù)據(jù)采集卡輸入信號緩沖單元和數(shù)據(jù)采集卡輸出信號緩沖單元中均包括電平緩沖電路，所述電平緩沖電路采用滿足數(shù)據(jù)采集卡的性能指標(biāo)要求的緩沖器件，其電源采用數(shù)據(jù)采集卡的輸出電源。

4.如權(quán)利要求2所述的板級測試系統(tǒng)，其特征在于，所述電源控制單元包括AC-DC電源、電子開關(guān)和電源保護(hù)單元，所述電子開關(guān)使用光電繼電器或MOSFET或固態(tài)繼電器實(shí)現(xiàn)。

5.如權(quán)利要求2-4任一項(xiàng)所述的板級測試系統(tǒng)，其特征在于，當(dāng)所述待測電路板為通信板或總線主設(shè)備的核心控制板時(shí)，所述測試插箱背板為有源測試插箱背板，包括總線主設(shè)備測試單元，用于模擬總線的從設(shè)備，完成對待測電路板的功能測試，其核心控制邏輯使用可編程邏輯器件實(shí)現(xiàn)。

6.如權(quán)利要求2-4任一項(xiàng)所述的板級測試系統(tǒng)，其特征在于，當(dāng)所述待測電路板為電源板時(shí)，所述測試插箱背板為無源測試插箱背板，所述測試控制器還包括：

測試激勵(lì)信號控制單元，用于進(jìn)行信號隔離與電平轉(zhuǎn)換，并確保只有測試時(shí)才向待測電路板提供測試激勵(lì)信號，插拔待測電路板時(shí)不向待測電路板輸出測試激勵(lì)信號。

7.如權(quán)利要求6所述的板級測試系統(tǒng)，其特征在于，所述測試激勵(lì)信號控制單元包括光電隔離子單元以及電平緩沖與變換子單元，其電源為所述電源控制單元提供的受控電源，所述電源控制單元對測試激勵(lì)信號控制單元所需要的電源進(jìn)行導(dǎo)通和斷開控制，確保只有測試時(shí)才向待測電路板提供測試激勵(lì)信號，所述光電隔離子單元用于對所述電平緩沖與變換子單元輸出的激勵(lì)信號進(jìn)行隔離，所述電平緩沖與變換子單元用于對所述光電隔離子單元的輸出進(jìn)行電平緩沖和變換。

8.如權(quán)利要求7所述的板級測試系統(tǒng)，其特征在于，所述光電隔離子單元由光電耦合器或光電繼電器實(shí)現(xiàn)。

9.如權(quán)利要求2-4任一項(xiàng)所述的板級測試系統(tǒng)，其特征在于，當(dāng)所述待測電路板為輸入輸出板時(shí)，所述測試插箱背板為無源測試插箱背板，所述測試控制器還包括：

測試激勵(lì)信號控制單元，用于進(jìn)行信號隔離與電平轉(zhuǎn)換，并確保只有測試時(shí)才向待測電路板提供測試激勵(lì)信號，且插拔待測電路板時(shí)不向待測電路板輸出測試激勵(lì)信號；和

測試輸出信號控制單元，用于進(jìn)行電平轉(zhuǎn)換，使得插拔待測電路板時(shí)測試輸出信號的采集不影響待測電路板。

10.如權(quán)利要求2-4任一項(xiàng)所述的板級測試系統(tǒng)，其特征在于，當(dāng)所述待測電路板為輸入輸出終端板時(shí)，所述測試插箱背板為無源測試插箱背板，所述測試控制器還包括：

測試激勵(lì)信號控制單元，用于進(jìn)行信號隔離與電平轉(zhuǎn)換，并確保只有測試時(shí)才向待測電路板提供測試激勵(lì)信號，且插拔待測電路板時(shí)不向待測電路板輸出測試激勵(lì)信號；和

測試輸出信號控制單元，用于進(jìn)行電平轉(zhuǎn)換，使得插拔待測電路板時(shí)測試輸出信號的采集不影響待測電路板。