[發(fā)明專利]磁共振成像方法及裝置無(wú)效
| 申請(qǐng)?zhí)枺?/td> | 201010255677.1 | 申請(qǐng)日: | 2010-08-17 |
| 公開(kāi)(公告)號(hào): | CN101915901A | 公開(kāi)(公告)日: | 2010-12-15 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 翁卓;謝國(guó)喜;鄒超;劉新;邱本勝;熊承義;鄭海榮 | 申請(qǐng)(專利權(quán))人: | 中國(guó)科學(xué)院深圳先進(jìn)技術(shù)研究院 |
| 主分類號(hào): | G01R33/48 | 分類號(hào): | G01R33/48;G01R33/565 |
| 代理公司: | 廣州華進(jìn)聯(lián)合專利商標(biāo)代理有限公司 44224 | 代理人: | 吳平 |
| 地址: | 518055 廣東省深圳*** | 國(guó)省代碼: | 廣東;44 |
| 權(quán)利要求書(shū): | 查看更多 | 說(shuō)明書(shū): | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 磁共振 成像 方法 裝置 | ||
1.一種磁共振成像方法,包括如下步驟:
對(duì)視野校準(zhǔn)掃描得到多個(gè)復(fù)合圖像,對(duì)多個(gè)復(fù)合圖像進(jìn)行絕對(duì)值求和得到求和圖像,并根據(jù)所述多個(gè)復(fù)合圖像及求和圖像計(jì)算得到靈敏度系數(shù);
校正所述靈敏度系數(shù),并生成重建圖像。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的磁共振成像方法,其特征在于,所述校正所述靈敏度系數(shù),并生成重建圖像的步驟之前還包括校正所述復(fù)合圖像偏差場(chǎng)的步驟。
3.根據(jù)權(quán)利要求2所述的磁共振成像方法,其特征在于,所述校正所述復(fù)合圖像中的偏差場(chǎng)的步驟是:
對(duì)復(fù)合圖像預(yù)處理,得到掩模;
將所述掩模作用于復(fù)合圖像中以抽取組織部分圖像,并對(duì)所述組織部分圖像進(jìn)行對(duì)數(shù)變換,得到加性偏差場(chǎng);
根據(jù)加性偏差場(chǎng)和掩模,通過(guò)高斯低通濾波器和歸一化卷積得到初步估計(jì)的偏差場(chǎng);
對(duì)初步估計(jì)的偏差場(chǎng)進(jìn)行B樣條擬合得到精確估計(jì)的偏差場(chǎng),并通過(guò)測(cè)量得到的圖像灰度與所述精確估計(jì)的偏差場(chǎng)之比得到校正的復(fù)合圖像。
4.根據(jù)權(quán)利要求3所述的磁共振成像方法,其特征在于,所述對(duì)復(fù)合圖像預(yù)處理,得到掩膜的步驟是:
在復(fù)合圖像中測(cè)量得到灰度圖像,通過(guò)所述灰度圖像得到所述灰度圖像中點(diǎn)的亮度最大值,設(shè)定閾值為最大亮度的百分比,低于閾值部分設(shè)為0,組織部分設(shè)為1,形成二值圖像,得到掩膜。
5.根據(jù)權(quán)利要求3所述的磁共振成像方法,其特征在于,所述校正所述靈敏度系數(shù),并生成重建圖像的步驟是:
通過(guò)參考圖像與在視野掃描中獲得的復(fù)合圖像的擬合得到殘差;
引入退火參數(shù),將所述殘差導(dǎo)入連接強(qiáng)度函數(shù)中,得到所述連接強(qiáng)度函數(shù)的值,所述連接強(qiáng)度函數(shù)的值作為對(duì)角矩陣對(duì)角線上的元素;
通過(guò)復(fù)數(shù)圖像、對(duì)角矩陣以及靈敏度系數(shù)得到無(wú)偽影復(fù)合圖像。
6.一種磁共振成像裝置,其特征在于,至少包括:
相控陣列線圈,用于對(duì)視野掃描得到多個(gè)復(fù)合圖像、以及相對(duì)應(yīng)的復(fù)數(shù)圖像;
計(jì)算裝置,用于根據(jù)所述多個(gè)復(fù)合圖像得到求和圖像,并根據(jù)所述多個(gè)復(fù)合圖像及求和圖像計(jì)算得到靈敏度系數(shù);
圖像重建裝置,用于校正所述靈敏度系數(shù),并生成重建圖像。
7.根據(jù)權(quán)利要求6所述的磁共振成像裝置,其特征在于,還包括:
亮度校正裝置,用于校正所述復(fù)合圖像中的偏差場(chǎng)。
8.根據(jù)權(quán)利要求7所述的磁共振成像裝置,其特征在于,所述亮度校正裝置至少包括:
掩模處理模塊,用于對(duì)復(fù)合圖像預(yù)處理,得到掩模;
組織變換模塊,用于將所述掩模作用于復(fù)合圖像中以抽取組織部分圖像,并對(duì)所述組織部分圖像進(jìn)行對(duì)數(shù)變換,得到加性偏差場(chǎng);
預(yù)校正模塊,用于根據(jù)加性偏差場(chǎng)和掩模,通過(guò)高斯低通濾波器和歸一化卷積得到初步估計(jì)的偏差場(chǎng);
平滑模塊,用于對(duì)初步估計(jì)的偏差場(chǎng)進(jìn)行B樣條平滑擬合得到精確估計(jì)的偏差場(chǎng),并通過(guò)測(cè)量得到的圖像灰度與所述精確估計(jì)的偏差場(chǎng)之比得到校正的復(fù)合圖像。
9.根據(jù)權(quán)利要求8所述的磁共振成像裝置,其特征在于,所述掩模處理模塊還用于在復(fù)合圖像中測(cè)量得到灰度圖像,通過(guò)所述灰度圖像得到所述灰度圖像中點(diǎn)的亮度最大值,設(shè)定閾值為最大亮度的百分比,低于閾值部分設(shè)為0,組織部分設(shè)為1,形成二值圖像,以得到掩模。
10.根據(jù)權(quán)利要求8所述的磁共振成像裝置,其特征在于,所述圖像重建裝置至少包括:
擬合模塊,用于通過(guò)參考圖像與所述復(fù)合圖像的擬合得到殘差;
估計(jì)模塊,用于引入退火參數(shù),將所述殘差導(dǎo)入連接強(qiáng)度函數(shù)中,得到所述連接強(qiáng)度函數(shù)的值,所述連接強(qiáng)度函數(shù)的值作為對(duì)角矩陣中對(duì)角線上的元素;
圖像生成模塊,用于通過(guò)復(fù)數(shù)圖像、對(duì)角矩陣以及靈敏度系數(shù)得到無(wú)偽影復(fù)合圖像。
該專利技術(shù)資料僅供研究查看技術(shù)是否侵權(quán)等信息,商用須獲得專利權(quán)人授權(quán)。該專利全部權(quán)利屬于中國(guó)科學(xué)院深圳先進(jìn)技術(shù)研究院,未經(jīng)中國(guó)科學(xué)院深圳先進(jìn)技術(shù)研究院許可,擅自商用是侵權(quán)行為。如果您想購(gòu)買(mǎi)此專利、獲得商業(yè)授權(quán)和技術(shù)合作,請(qǐng)聯(lián)系【客服】
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