[發明專利]數碼產品故障檢測方法

無效

• 申請號: 201010253338.X
• 申請日: 2010-08-13
• 公開（公告）號: CN101915891A
• 公開（公告）日: 2010-12-15
• 發明（設計）人: 李前富
• 申請（專利權）人: 四川長虹電器股份有限公司
• 主分類號: G01R31/28
• 分類號: G01R31/28;G06F11/22
• 代理公司: 成都虹橋專利事務所 51124
• 代理人: 李順德

1.數碼產品故障檢測方法，其特征在于：包括以下步驟：

a.主芯片檢測：主芯片上電，系統初始化，通過控制鎖相環寄存器，校準鎖相環檢測函數來判斷主芯片時鐘是否正常工作，并輸出測試結果；向RAM寄存器中某個地址寫入數據，再從該地址讀出相應數據，判斷寫入數據與讀出數據是否相同，并輸出測試結果，以上兩項測試如果均正常則主芯片無故障，否則主芯片有故障；

b.內存檢測：數據口測試，包括：

b1.數據口第1位測試：在地址0X000000寫入數據0X00，再從該地址讀取數據，將讀取的數據與0X00異或運算，運算結果賦值變量RDATA0；在地址0X000000寫入數據0X01，再從該地址讀取數據，將讀取的數據與0X01異或運算，運算結果賦值變量RDATA1中；將RDATA0與RDATA1異或運算，判斷運算結果是否為0，如果是，則數據口第1位無故障，否則第1位有故障；

b2.數據口第2位測試，在地址0X000000寫入數據0X00，再從該地址讀取數據，將讀取的數據與0X00異或運算，運算結果賦值變量RDATA0；在地址0X000000寫入數據0X02，再從該地址讀取數據，將讀取的數據與0X02異或運算，運算結果賦值變量RDATA1中；將RDATA0與RDATA1異或運算，判斷運算結果是否為0，如果是，則數據口第2位無故障，否則第2位有故障；

b3.數據口第3位測試，在地址0X000000寫入數據0X00，再從該地址讀取數據，將讀取的數據與0X00異或運算，運算結果賦值變量RDATA0；在地址0X000000寫入數據0X03，再從該地址讀取數據，將讀取的數據與0X03異或運算，運算結果賦值變量RDATA1中；將RDATA0與RDATA1異或運算，判斷運算結果是否為0，如果是，則數據口第3位無故障，否則第3位有故障；

b4.數據口第4位測試，在地址0X000000寫入數據0X00，再從該地址讀取數據，將讀取的數據與0X00異或運算，運算結果賦值變量RDATA0；在地址0X000000寫入數據0X04，再從該地址讀取數據，將讀取的數據與0X04異或運算，運算結果賦值變量RDATA1中；將RDATA0與RDATA1異或運算，判斷運算結果是否為0，如果是，則數據口第4位無故障，否則第4位有故障；

b5.數據口第5位測試，在地址0X000000寫入數據0X00，再從該地址讀取數據，將讀取的數據與0X00異或運算，運算結果賦值變量RDATA0；在地址0X000000寫入數據0X05，再從該地址讀取數據，將讀取的數據與0X05異或運算，運算結果賦值變量RDATA1中；將RDATA0與RDATA1異或運算，判斷運算結果是否為0，如果是，則數據口第5位無故障，否則第5位有故障；

b6.數據口第6位測試，在地址0X000000寫入數據0X00，再從該地址讀取數據，將讀取的數據與0X00異或運算，運算結果賦值變量RDATA0；在地址0X000000寫入數據0X06，再從該地址讀取數據，將讀取的數據與0X06異或運算，運算結果賦值變量RDATA1中；將RDATA0與RDATA1異或運算，判斷運算結果是否為0，如果是，則數據口第6位無故障，否則第6位有故障；

b7.數據口第7位測試，在地址0X000000寫入數據0X00，再從該地址讀取數據，將讀取的數據與0X00異或運算，運算結果賦值變量RDATA0；在地址0X000000寫入數據0X07，再從該地址讀取數據，將讀取的數據與0X07異或運算，運算結果賦值變量RDATA1中；將RDATA0與RDATA1異或運算，判斷運算結果是否為0，如果是，則數據口第7位無故障，否則第7位有故障；

b8.數據口第8位測試，在地址0X000000寫入數據0X00，再從該地址讀取數據，將讀取的數據與0X00異或運算，運算結果賦值變量RDATA0；在地址0X000000寫入數據0X08，再從該地址讀取數據，將讀取的數據與0X08異或運算，運算結果賦值變量RDATA1中；將RDATA0與RDATA1異或運算，判斷運算結果是否為0，如果是，則數據口第8位無故障，否則第8位有故障；

地址線測試：對每一根地址線電平為1時的地址對應存儲單元寫入1的增量數據，從該地址讀出數據，將讀出數據與1的增量數據進行異或運算，判斷運算結果是否為0，如果為0，則該地址線無故障，如果不為0，且該地址線對應的數據口無故障，則該地址線有故障；

c.FLASH檢測：數據口測試，包括：c1.在內存中分配用以存儲FLASH中的SECTOR數據的臨時空間；

c2.將FLASH中的SECTOR數據讀取至臨時空間；

c3.將臨時空間中的前16個字節的數據分別修改為0X00、0X01、0X00、0X02、0X00、0X04、0X00、0X08、0X00、0X10、0X00、0X20、0X00、0X40、0X00、0X80，并擦除FLASH中的原始SECTOR數據；

c4.將臨時空間中經過修改后的SECTOR數據寫入FLASH；

c5.從FLASH中讀取前16個字節的數據，分別賦值變量RDATA1、RDATA2、RDATA3、RDATA4、RDATA5、RDATA6、RDATA7、RDATA8、RDATA9、RDATA10、RDATA11、RDATA12、RDATA13、RDATA14、RDATA15、RDATA16。

c6.將0X00與RDATA1異或運算，運算結果重新賦值RDATA1，將0X01與RDATA2異或運算，運算結果重新賦值RDATA2，將RDATA1與RDATA2異或運算，判斷運算結果是否為0，如果為0，則數據口第1位無故障，否則第1位有故障；

將0X00與RDATA3異或運算，運算結果重新賦值RDATA3，將0X02與RDATA4異或運算，運算結果重新賦值RDATA4，將RDATA3與RDATA4異或運算，判斷運算結果是否為0，如果為0，則數據口第2位無故障，否則第2位有故障；

將0X00與RDATA5異或運算，運算結果重新賦值RDATA5，將0X04與RDATA6異或運算，運算結果重新賦值RDATA6，將RDATA5與RDATA6異或運算，判斷運算結果是否為0，如果為0，則數據口第3位無故障，否則第3位有故障；

將0X00與RDATA7異或運算，運算結果重新賦值RDATA7，將0X08與RDATA8異或運算，運算結果重新賦值RDATA8，將RDATA7與RDATA8異或運算，判斷運算結果是否為0，如果為0，則數據口第4位無故障，否則第4位有故障；

將0X00與RDATA9異或運算，運算結果重新賦值RDATA9，將0X10與RDATA10異或運算，運算結果重新賦值RDATA10，將RDATA9與RDATA10異或運算，判斷運算結果是否為0，如果為0，則數據口第5位無故障，否則第5位有故障；

將0X00與RDATA11異或運算，運算結果重新賦值RDATA11，將0X20與RDATA12異或運算，運算結果重新賦值RDATA12，將RDATA11與RDATA12異或運算，判斷運算結果是否為0，如果為0，則數據口第6位無故障，否則第6位有故障；

將0X00與RDATA13異或運算，運算結果重新賦值RDATA13，將0X40與RDATA14異或運算，運算結果重新賦值RDATA14，將RDATA13與RDATA14異或運算，判斷運算結果是否為0，如果為0，則數據口第7位無故障，否則第7位有故障；

將0X00與RDATA15異或運算，運算結果重新賦值RDATA15，將0X80與RDATA16異或運算，運算結果重新賦值RDATA16，將RDATA15與RDATA16異或運算，判斷運算結果是否為0，如果為0，則數據口第8位無故障，否則第8位有故障；

d.IIC器件檢測：根據IIC器件的通信控制協議，對IIC器件發送控制命令，判斷在響應位有無SDA低電平，如果有，則IIC器件無故障，否則IIC器件有故障；

e.三總線器件檢測：根據三總線器件的通信控制協議，對三總線器件寫入初始數據，再從輸出端讀出數據，判斷寫入數據與讀出數據是否相同，如果相同，則三總線器件無故障，否則，三總線器件有故障。