[發(fā)明專利]一種金標試條的檢測暗室及其應用方法

無效

• 申請?zhí)枺?/td>: 201010252356.6
• 申請日: 2010-08-13
• 公開（公告）號: CN101915839A
• 公開（公告）日: 2010-12-15
• 發(fā)明（設計）人: 陳真誠;朱健銘;方成
• 申請（專利權）人: 中南大學
• 主分類號: G01N33/574
• 分類號: G01N33/574;G01N33/52;G01N21/31
• 代理公司: 長沙市融智專利事務所 43114
• 代理人: 顏勇

1.一種金標試條的檢測暗室，其特征在于，包括由遮光板所制成的封閉的遮光盒、發(fā)光二極管、光電二極管，所述的遮光盒的一側壁上開有用于插入試條的側壁開口，所述的遮光盒內(nèi)有多個與遮光盒開有側壁開口的側壁平行設置的且大小相同的遮光隔板，所述的遮光隔板將遮光盒內(nèi)部分隔成相互獨立的隔間，所述的遮光隔板均開有遮光隔板開口，且遮光隔板開口的位置與側壁開口的位置相對應，以使試條能水平插入遮光盒，所述的發(fā)光二極管和光電二極管在遮光盒內(nèi)部的各個隔間內(nèi)各安裝有一個。

2.根據(jù)權利要求1所述的一種金標試條的檢測暗室，其特征在于，所述的遮光隔板為四個，并將遮光盒內(nèi)部分隔成五個相互獨立的隔間，在處于遮光盒中間的三個隔間內(nèi)均各安裝有一個發(fā)光二極管和光電二極管。

3.根據(jù)權利要求2所述的一種金標試條的檢測暗室，其特征在于，所述的處于遮光盒中間的三個隔間長度以金標試條插入方向為順序依次與金標試條的C線區(qū)、T線區(qū)和空白區(qū)的長度對應。

4.根據(jù)權利要求1或2或3所述的一種金標試條的檢測暗室，其特征在于，所述的遮光盒與遮光隔板是由黑色PVC材料制成。

5.根據(jù)權利要求1或2或3所述的一種金標試條的檢測暗室，其特征在于，所述的側壁開口和遮光隔板開口上均設有用于阻擋光線的黑色呢絨絲。

6.根據(jù)權利要求1或2或3所述的一種金標試條的檢測暗室，其特征在于，所述的發(fā)光二極管和光電二極管分別安裝于遮光盒的底部。

7.根據(jù)權利要求6所述的一種金標試條的檢測暗室，其特征在于，所述的金標試條上膠體金顆粒的粒徑范圍為24.5nm-71.5nm時，檢測暗室中發(fā)光二極管型號為19-217/GHC-RS/3T，其發(fā)射光譜范圍為500nm-550nm，波峰為523nm，所述的光電二極管型號為CLS12-22C/L213G/TR8，其敏感波峰為550nm，在520nm處的光靈敏度為0.18A/W。

8.權利要求1或2或3所述的金標試條的檢測暗室應用于金標試條上的特異性抗原的濃度檢測。