[發(fā)明專利]長跨度微孔陣列通孔檢測儀無效
| 申請?zhí)枺?/td> | 201010247442.8 | 申請日： | 2010-08-06 |
| 公開（公告）號： | CN101915544A | 公開（公告）日： | 2010-12-15 |
| 發(fā)明（設(shè)計）人： | 翁希明;紀(jì)成綢;翁夏翔;何承安 | 申請（專利權(quán)）人： | 翁希明 |
| 主分類號： | G01B11/00 | 分類號： | G01B11/00;F01N3/20 |
| 代理公司： | 深圳市博銳專利事務(wù)所 44275 | 代理人： | 張明 |
| 地址： | 350003 福建省福州市工*** | 國省代碼： | 福建;35 |
| 權(quán)利要求書： | 查看更多 | 說明書： | 查看更多 |
| 摘要： | |||
| 搜索關(guān)鍵詞： | 跨度 微孔 陣列 檢測 | ||
1.一種長跨度微孔陣列通孔檢測儀，其特征在于：包括基座、第一殼體、第二殼體、用于產(chǎn)生定向光源的射光儀、凸透鏡、用于固定待測物的定位座、和用于與計算機(jī)連接并采集通孔狀態(tài)的攝像儀，所述第一殼體、定位座和第二殼體固定在基座上，所述射光儀固定在第一殼體內(nèi)，所述攝像儀固定在第二殼體內(nèi)，所述用于將射光儀射出的光線轉(zhuǎn)換為平行光的凸透鏡、定位座依次位于射光儀和攝像儀之間。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的長跨度微孔陣列通孔檢測儀，其特征在于：所述檢測儀還包括磨砂成像透鏡，所述磨砂成像透鏡位于定位座和攝像儀之間。
3.根據(jù)權(quán)利要求2所述的長跨度微孔陣列通孔檢測儀，其特征在于：所述磨砂成像透鏡的透光率為20％～60％。
4.根據(jù)權(quán)利要求1或2所述的長跨度微孔陣列通孔檢測儀，其特征在于：所述定位座包括用于調(diào)節(jié)待測物上下方向的調(diào)節(jié)機(jī)構(gòu)、用于調(diào)節(jié)待測物左右方向的調(diào)節(jié)機(jī)構(gòu)和用于調(diào)節(jié)待測物前后方向的調(diào)節(jié)機(jī)構(gòu)。
5.根據(jù)權(quán)利要求1所述的長跨度微孔陣列通孔檢測儀，其特征在于：所述凸透鏡為高倍凸透鏡。
6.一種長跨度微孔陣列通孔檢測儀，其特征在于：所述包括基座、第一殼體、第二殼體、射光儀、定位座和攝像儀，所述第一殼體、定位座和第二殼體固定在基座上，所述射光儀固定在第一殼體內(nèi)，所述攝像儀固定在第二殼體內(nèi)，所述用于固定待測物的定位座位于用于產(chǎn)生定向平行光源的射光儀和用于與計算機(jī)連接并采集通孔狀態(tài)的攝像儀之間。
7.根據(jù)權(quán)利要求6所述的長跨度微孔陣列通孔檢測儀，其特征在于：所述檢測儀還包括磨砂成像透鏡，所述磨砂成像透鏡位于定位座和攝像儀之間。
8.根據(jù)權(quán)利要求7所述的長跨度微孔陣列通孔檢測儀，其特征在于：所述磨砂成像透鏡的透光率為20％～60％。
9.根據(jù)權(quán)利要求6或7所述的長跨度微孔陣列通孔檢測儀，其特征在于：所述定位座包括用于調(diào)節(jié)待測物上下方向的調(diào)節(jié)機(jī)構(gòu)、用于調(diào)節(jié)待測物左右方向的調(diào)節(jié)機(jī)構(gòu)和用于調(diào)節(jié)待測物前后方向的調(diào)節(jié)機(jī)構(gòu)。
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