[發(fā)明專利]光檢測芯片和設(shè)置有光檢測芯片的光檢測裝置無效
| 申請?zhí)枺?/td> | 201010246435.6 | 申請日: | 2010-08-04 |
| 公開(公告)號: | CN101995397A | 公開(公告)日: | 2011-03-30 |
| 發(fā)明(設(shè)計)人: | 市村功;山本真伸;甲斐慎一 | 申請(專利權(quán))人: | 索尼公司 |
| 主分類號: | G01N21/64 | 分類號: | G01N21/64;G01N21/01 |
| 代理公司: | 北京康信知識產(chǎn)權(quán)代理有限責(zé)任公司 11240 | 代理人: | 余剛;吳孟秋 |
| 地址: | 日本*** | 國省代碼: | 日本;JP |
| 權(quán)利要求書: | 查看更多 | 說明書: | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 檢測 芯片 設(shè)置 有光 裝置 | ||
1.一種光檢測芯片,包括:
至少一個檢測區(qū)域,被配置為容納能夠發(fā)出熒光的樣本;
以及
光反射部,被配置為在朝著光檢測器的方向上反射從所述樣本發(fā)出的所述熒光的至少一部分。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的光檢測芯片,其中,所述檢測區(qū)域在通道或阱中。
3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的光檢測芯片,進一步包括位于通道中和多個阱中的多個所述檢測區(qū)域,所述通道和所述阱共同形成在基板中。
4.根據(jù)權(quán)利要求1所述的光檢測芯片,其中,所述光反射部從球面凹面鏡、非球面凹面鏡或平面鏡組成的組中選擇。
5.根據(jù)權(quán)利要求1所述的光檢測芯片,其中,所述光反射部透射從光源導(dǎo)向至所述樣本的激勵光的至少一部分。
6.根據(jù)權(quán)利要求1所述的光檢測芯片,進一步包括光透射控制部,用于阻擋從光源導(dǎo)向至所述樣本的激勵光的至少一部分,以防止其在朝著所述光檢測器的方向上散射。
7.根據(jù)權(quán)利要求6所述的光檢測芯片,其中,所述光透射控制部設(shè)置在所述檢測區(qū)域和所述光反射部之間,并且處于從所述檢測區(qū)域?qū)驘晒馕恢谩?/p>
8.根據(jù)權(quán)利要求1所述的光檢測芯片,進一步包括多個檢測區(qū)域和多個光反射部,其中,在朝著所述光檢測器的方向上,每個光反射部反射從與多個所述檢測區(qū)域相關(guān)的多個樣本發(fā)出的熒光的至少一部分。
9.一種光檢測裝置,包括:
光源,被配置為發(fā)出激勵光;
至少一個檢測區(qū)域,被配置為容納能夠發(fā)出熒光的樣本;
光反射部,被配置為在朝著光檢測器的方向上反射從樣本發(fā)出的熒光的至少一部分;以及
光檢測部,被配置為接收由所述光反射部反射的熒光的至少一部分。
10.根據(jù)權(quán)利要求9所述的光檢測裝置,其中,所述檢測區(qū)域在通道或阱中。
11.根據(jù)權(quán)利要求9所述的光檢測裝置,進一步包括位于通道和多個阱中的多個所述檢測區(qū)域,所述通道和所述阱共同形成在基板中。
12.根據(jù)權(quán)利要求9所述的光檢測裝置,其中,所述光反射部從球面凹面鏡、非球面凹面鏡或平面鏡組成的組中選擇。
13.根據(jù)權(quán)利要求9所述的光檢測裝置,其中,所述光反射部透射從光源導(dǎo)向至所述樣本的激勵光的至少一部分。
14.根據(jù)權(quán)利要求9所述的光檢測裝置,進一步包括光透射控制部,用于阻擋從光源導(dǎo)向至所述樣本的激勵光的至少一部分,以防止其在朝著光檢測器的方向上散射。
15.根據(jù)權(quán)利要求14所述的光檢測裝置,其中,所述光透射控制部設(shè)置在所述檢測區(qū)域和所述光反射部之間,并且處于從檢測區(qū)域?qū)驘晒馕恢谩?/p>
16.根據(jù)權(quán)利要求9所述的光檢測裝置,進一步包括多個檢測區(qū)域和多個光反射部,其中,在朝著所述光檢測器的方向上,每個光反射部反射從與多個所述檢測區(qū)域相關(guān)的多個樣本發(fā)出的熒光的至少一部分。
17.根據(jù)權(quán)利要求9所述的光檢測裝置,其中,至少一個濾光片位于所述光源和所述檢測區(qū)域之間,并且,被配置為過濾激勵光的至少一部分。
18.根據(jù)權(quán)利要求9所述的光檢測裝置,其中,所述檢測區(qū)域設(shè)置在所述光反射部和所述光檢測部之間。
19.根據(jù)權(quán)利要求9所述的光檢測裝置,其中,所述檢測區(qū)域設(shè)置在所述光反射部和所述光源之間。
20.根據(jù)權(quán)利要求9所述的光檢測裝置,其中,所述光反射部設(shè)置在所述光源和所述檢測區(qū)域之間。
21.根據(jù)權(quán)利要求9所述的光檢測裝置,進一步包括至少一個會聚激勵光的至少一部分的聚光透鏡。
22.根據(jù)權(quán)利要求9所述的光檢測裝置,進一步包括設(shè)置在所述光源與所述檢測區(qū)域之間的第一光圈和設(shè)置在所述檢測區(qū)域與所述光檢測部之間的第二光圈。
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