[發明專利]參考單元閾值電壓的調整方法、裝置和測試系統

有效

• 申請號: 201010244481.2
• 申請日: 2010-08-03
• 公開（公告）號: CN102347084A
• 公開（公告）日: 2012-02-08
• 發明（設計）人: 蘇志強;舒清明
• 申請（專利權）人: 北京兆易創新科技有限公司
• 主分類號: G11C29/56
• 分類號: G11C29/56
• 代理公司: 北京潤澤恒知識產權代理有限公司 11319
• 代理人: 蘇培華

1.一種參考單元閾值電壓的調整裝置，其特征在于，包括位于非易失存儲器芯片內部的控制狀態機、編程裝置和校驗裝置；其中，

所述控制狀態機，包括：

接收模塊，用于接收來自測試機臺的參考單元信息；及

控制模塊，用于根據所述參考單元信息，控制所述編程裝置和校驗裝置工作；

所述編程裝置，用于對當前參考單元進行編程操作；

所述校驗裝置，用于對當前參考單元進行校驗操作，并將校驗結果反饋給所述控制狀態機；

所述控制狀態機還包括：

判斷模塊，用于判斷所述校驗結果是否符合預置條件，若是，則結束當前參考單元的調整，否則，通知所述控制模塊，對當前參考單元繼續執行控制操作。

2.如權利要求1所述的裝置，其特征在于，所述編程裝置包括多個第一使能端，所述校驗裝置包括多個第二使能端；

所述控制模塊，用于根據所述參考單元信息，通過所述第一使能端控制所述編程裝置工作，以及，通過所述第二使能端控制所述校驗裝置工作。

3.如權利要求1或2所述的裝置，還包括：外部參考輸入通路，用于產生目標電流；

所述校驗裝置，用于測量當前參考單元的電流，判斷該測量電流是否小于所述目標電流，并將判斷結果作為校驗結果反饋給所述控制狀態機；

所述預置條件為，所述校驗結果為真。

4.如權利要求1或2所述的裝置，其特征在于，所述接收模塊，還用于接收來自測試機臺的參考單元狀態查詢信息；

所述控制狀態機還包括：

狀態輸出模塊，用于根據參考單元狀態查詢信息，輸出相應參考單元的調整狀態。

5.如權利要求4所述的裝置，其特征在于，所述調整狀態包括：正在操作、操作結束和操作失敗。

6.一種測試系統，其特征在于，包括測試機臺，以及前述1至2中任一項所述的參考單元閾值電壓的調整裝置；

其中，所述測試機臺，用于將非易失存儲器芯片的參考單元信息發送至所述接收模塊。

7.一種參考單元閾值電壓的調整方法，其特征在于，所述方法在非易失存儲器芯片內部執行，包括：

接收來自測試機臺的參考單元信息；

根據所述參考單元信息，產生第一控制信號和第二控制信號；

依據所述第一控制信號，對當前參考單元進行編程操作；

依據所述第二控制信號，對當前參考單元進行校驗操作，得到校驗結果；

判斷所述校驗結果是否符合預置條件，若是，則當前參考單元調整完畢，否則，對當前參考單元繼續執行編程操作。

8.如權利要求7所述的方法，其特征在于，所述第一控制信號為第一使能信號，以及，所述第二控制信號為第二使能信號。

9.如權利要求7或8所述的方法，其特征在于，還包括：

接收外部輸入的目標電流；

所述校驗步驟為，測量當前參考單元的電流，判斷該測量電流是否小于所述目標電流，以該判斷結果作為校驗結果；

所述預置條件為，所述校驗結果為真。

10.如權利要求7或8所述的方法，其特征在于，還包括：

接收來自測試機臺的參考單元狀態查詢信息；

根據參考單元狀態查詢信息，輸出相應參考單元的調整狀態。

11.如權利要求10所述的方法，其特征在于，所述調整狀態包括：正在操作、操作結束和操作失敗。