[發明專利]折線形離子源

無效

• 申請號: 201010244110.4
• 申請日: 2010-08-04
• 公開（公告）號: CN102347201A
• 公開（公告）日: 2012-02-08
• 發明（設計）人: 劉召貴;周春彗;潘翔
• 申請（專利權）人: 江蘇天瑞儀器股份有限公司
• 主分類號: H01J49/16
• 分類號: H01J49/16
• 代理公司: 南京經緯專利商標代理有限公司 32200
• 代理人: 樓高潮

技術領域

本發明涉及質譜儀領域，具體的涉及一種質譜儀離子源的微孔通道結構。

背景技術

質譜儀是一種用于檢測物質化學成分的高靈敏度、高分辨率的儀器，它首先將樣品轉換成氣態離子，然后通過電場或磁場將離子按照質荷比(m/z)的大小進行分離，再測量出離子的強度形成質譜圖，根據質譜圖可以定性或定量的得到物質化學成分。

電噴霧源(ESI)是質譜儀中離子源的一種，ESI由流動液體樣品的毛細管(噴霧針)、高壓電源、反向電極組成，通過高壓電場可以分離溶液中的正離子和負離子，例如在正離子模式下，電噴霧的噴霧針相對反向電極保持很高的正電位，負電荷離子被吸引到針的另一端，在半月形的液體表面聚集著大量的正電荷離子，它們之間相互排斥，并從針尖處的液體表面擴展出去，液體表面成錐形，稱為Taylor錐，隨著針尖處的液滴變小，電場強度逐漸增強，過剩的電荷克服表面張力形成纖細的小液滴，最終從Taylor錐的尖端濺射出來，小液滴的溶劑逐漸蒸發，電荷排斥力大于表面張力而發生裂解，經過多次裂解，產生了離子。電噴霧過程實質上是電泳過程。

在早期的電噴霧離子源設計中，樣品離子化之后，離子通過一個微孔進入到真空腔中，一般都是夾雜著離子的高溫氣流直線噴入。也就是說，離子是對著微孔直線噴的。然而在一般的樣品中或多或少的存在著鹽分，事實上，在某些情況下，為了增加導電性，會有目的的往溶液中加入不同種類的鹽。這些鹽在離子化過程中會隨著冷卻下來的溶液沉積下來，當溶液中的溶劑蒸發后，這些鹽分會附著在離子源與真空腔之間的部件表面。

所以，離子對著微孔噴射的同時，部分溶液會沉積在微孔及其附近，這樣當溶液蒸發后，析出的鹽分會慢慢的堵塞微孔。造成的后果就是儀器的性能，尤其是信號強度會變低。最嚴重的情況甚至會堵塞微孔，導致完全沒有信號，儀器不能正常工作。

而清洗微孔又需要儀器的使用者停止真空泵，清洗微孔，再重新啟動真空泵，最后還要重新調諧。這樣就導致儀器的使用效率大大降低。在這樣的一種情況下，如何避免鹽分堵塞微孔成了解決問題的關鍵。

發明內容

為了克服現有技術的不足，本發明的目的在于提供一種折線形離子源，該離子源可以有效避免微孔堵塞的問題。

為解決上述技術問題，實現上述技術效果，本發明采用如下技術方案：

一種折線形離子源，包括一離子源本體，所述離子源本體上開有離子微孔通道，所述離子微孔通道包括第一折彎部和第二折彎部。

優選的，所述離子微孔通道還包括第三折彎部。

進一步的，所述第一折彎部與所述第二折彎部之間的夾角為一銳角。

優選的，所述第一折彎部與所述第二折彎部之間的夾角為60°。

進一步的，所述離子源本體上開有兩個離子微孔通道2。

進一步的，所述第一折彎部與所述離子源本體之間的角度為一銳角。

優選的，所述第一折彎部與所述離子源本體之間的角度為30°。

進一步的，所述第二折彎部與所述第三折彎部之間的夾角為90°。

本發明具有如下優點：

本發明的機構制作簡易方便，成本低廉，被電離的氣體經過折彎的離子微孔通道傳輸后，鹽分的沉積就不會堵住微孔，從而有效的避免了臟物堵塞微孔。

附圖說明

圖1是本發明一實施例的結構示意圖。

圖2是本發明另一實施例的結構示意圖。

圖中標號說明：1.離子源本體，2.離子微孔通道，201.第一折彎部，202.第二折彎部，203.第三折彎部。

具體實施方式

下面結合附圖，對本發明的優選實施例進行詳細的介紹。

實施例1：

請參見圖1所示，一種折線形離子源，包括一離子源本體1，所述離子源本體1上開有離子微孔通道2，所述離子微孔通道2包括第一折彎部201和第二折彎部202。

進一步的，所述第一折彎部201與所述第二折彎部202之間的夾角為一銳角。

優選的，所述第一折彎部201與所述第二折彎部202之間的夾角為60°。

進一步的，所述離子源本體1上開有兩個離子微孔通道2。

實施例2：

參見圖2所示，一種折線形離子源，包括一離子源本體1，所述離子源本體1上開有離子微孔通道2，所述離子微孔通道2包括第一折彎部201和第二折彎部202。

優選的，所述離子微孔通道2還包括第三折彎部203。

進一步的，所述第一折彎部201與所述離子源本體1之間的角度為一銳角。