[發(fā)明專利]削弱光學(xué)傳感器上環(huán)境光影響的系統(tǒng)和方法無效
| 申請(qǐng)?zhí)枺?/td> | 201010243803.1 | 申請(qǐng)日: | 2004-04-14 |
| 公開(公告)號(hào): | CN101907569A | 公開(公告)日: | 2010-12-08 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 小阿瑟·厄爾·科爾文;保羅·塞繆爾·澤韋克;杰弗里·C.·萊紹;羅伯特·威廉·琳恩;卡麗·R.·洛倫茨;凱西·J.·奧康納;史蒂文·J.·沃爾特斯 | 申請(qǐng)(專利權(quán))人: | 醫(yī)藥及科學(xué)傳感器公司 |
| 主分類號(hào): | G01N21/64 | 分類號(hào): | G01N21/64;G01N21/01;G01J1/10 |
| 代理公司: | 永新專利商標(biāo)代理有限公司 72002 | 代理人: | 陳松濤;韓宏 |
| 地址: | 美國(guó)馬*** | 國(guó)省代碼: | 美國(guó);US |
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| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 削弱 光學(xué) 傳感器 環(huán)境 影響 系統(tǒng) 方法 | ||
本申請(qǐng)是申請(qǐng)?zhí)枮?00480016745.1(國(guó)際申請(qǐng)?zhí)枮镻CT/US2004/011392)的中國(guó)專利申請(qǐng)的分案申請(qǐng),該中國(guó)專利申請(qǐng)的申請(qǐng)日為2004年4月14日,發(fā)明名稱為“削弱光學(xué)傳感器上環(huán)境光影響的系統(tǒng)和方法”。
本申請(qǐng)要求享受2003年4月15日提交的第60/462,695號(hào)美國(guó)臨時(shí)專利申請(qǐng)的權(quán)利。
發(fā)明背景
1、發(fā)明領(lǐng)域
本發(fā)明涉及光學(xué)傳感器,更具體地說,涉及一種用來削弱光學(xué)傳感器上環(huán)境光影響的系統(tǒng)和方法。
2、背景技術(shù)
光學(xué)傳感器是可用來探測(cè)被分析物(如氧、葡萄糖或其它被分析物)的濃度的設(shè)備。美國(guó)專利第6,330,464號(hào)描述了一種光學(xué)傳感器,在這里將其引入作為參考。
存在這樣一些情形,即,在有大量環(huán)境光(如,陽光燦爛的戶外)存在的環(huán)境中,需要使用光學(xué)傳感器。在某些情形下,大量的環(huán)境光可能對(duì)光學(xué)傳感器的精度產(chǎn)出負(fù)面影響。因此,需要能夠削弱環(huán)境光對(duì)光學(xué)傳感器功能的負(fù)面影響并且/或者能夠定量地測(cè)量和補(bǔ)償環(huán)境光的系統(tǒng)和方法。
發(fā)明內(nèi)容
本發(fā)明提供了用來削弱光學(xué)傳感器上環(huán)境光影響并且定量地測(cè)量和補(bǔ)償該環(huán)境光的系統(tǒng)和方法。
一方面,本發(fā)明提供了一種光學(xué)傳感器,該光學(xué)傳感器具有能夠削弱到達(dá)光學(xué)傳感器的光電探測(cè)器的環(huán)境光量的特征。這些特征可被一起使用或單獨(dú)使用。例如,在一些實(shí)施例中,本發(fā)明提供了一種光學(xué)傳感器,其中用于連接該傳感器的電元件的電路板由一種不透明材料(如不透明鐵氧體)制成,這與通常的氧化鋁陶瓷電路板形成對(duì)比。在某些實(shí)施例中,光學(xué)傳感器的光電探測(cè)器被安裝在電路板的底側(cè),并且在電路板內(nèi)打孔,以便為指示分子發(fā)出的光線到達(dá)光電探測(cè)器提供路徑。
在另一方面,本發(fā)明提供了使用和植入光學(xué)傳感器的方法,這些方法可以一起使用或單獨(dú)使用,并且能夠減小光學(xué)傳感器上環(huán)境光的影響。
例如,在一方面,本發(fā)明提供了一種方法,該方法包括以下步驟:照射指示分子,從而使指示分子發(fā)光;在指示分子被照射時(shí)的一個(gè)時(shí)刻,確定在到達(dá)光電探測(cè)器的光量,從而確定環(huán)境光和指示分子發(fā)出的光到達(dá)光電探測(cè)器的總量;停止照射指示分子;停止照射指示分子之后,確定到達(dá)光電探測(cè)器的光量,從而確定環(huán)境光到達(dá)光電探測(cè)器的光量;以及通過從第一次確定的光量中減去第二次確定的光量來確定從指示分子發(fā)出的光到達(dá)光電探測(cè)器的光量。
在另一方面,本發(fā)明提供了一種改良的傳感器讀出器和操作該傳感器讀出器的方法。例如,在一方面,本發(fā)明提供了一種由傳感器讀出器執(zhí)行的方法,包括的步驟有:確定環(huán)境光的強(qiáng)度;確定環(huán)境光的強(qiáng)度是否大于一個(gè)預(yù)定的閾值強(qiáng)度;如果確定了環(huán)境光的強(qiáng)度大于該預(yù)定閾值強(qiáng)度,則向用戶發(fā)出警告。
下面參照附圖詳細(xì)闡述本發(fā)明的以上和其它特征和優(yōu)勢(shì)以及本發(fā)明的優(yōu)選實(shí)施例的結(jié)構(gòu)和操作。
附圖簡(jiǎn)述
并入在此并且成為說明書的一部分的附圖和文字描述一起,用于幫助闡明本發(fā)明的各種實(shí)施例,并且進(jìn)一步用于解釋發(fā)明的原理以及使相關(guān)領(lǐng)域的技術(shù)人員能夠?qū)崿F(xiàn)和使用本發(fā)明。圖中,相同的附圖標(biāo)記表示相同或功能上相似的元件。另外,附圖標(biāo)記最左端的數(shù)字表示該附圖標(biāo)記第一次出現(xiàn)時(shí)所在的圖。
圖1表示根據(jù)本發(fā)明一個(gè)實(shí)施例的光學(xué)傳感器。
圖2表示根據(jù)本發(fā)明另一個(gè)實(shí)施例的光學(xué)傳感器。
圖3表示根據(jù)本發(fā)明一個(gè)實(shí)施例的電路板的頂面。
圖4表示根據(jù)本發(fā)明一個(gè)實(shí)施例的光電探測(cè)器的視場(chǎng)。
圖5表示根據(jù)本發(fā)明一個(gè)實(shí)施例的已經(jīng)植入到患者體內(nèi)的傳感器。
圖6表示根據(jù)本發(fā)明一個(gè)實(shí)施例的帶有懸臂支架的傳感器。
圖7表示根據(jù)本發(fā)明一個(gè)實(shí)施例的傳感器讀出器的功能框圖。
圖8是一個(gè)流程圖,用于闡述根據(jù)本發(fā)明一個(gè)實(shí)施例的,可由傳感器讀出器完成的過程。
圖9是一個(gè)流程圖,用于闡述用來削弱環(huán)境光對(duì)由光學(xué)傳感器提供的讀出的影響的過程。
圖10是一個(gè)流程圖,用于闡述根據(jù)本發(fā)明一個(gè)實(shí)施例由傳感器執(zhí)行的過程。
優(yōu)選實(shí)施例的具體描述
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- 同類專利
- 專利分類
G01N 借助于測(cè)定材料的化學(xué)或物理性質(zhì)來測(cè)試或分析材料
G01N21-00 利用光學(xué)手段,即利用紅外光、可見光或紫外光來測(cè)試或分析材料
G01N21-01 .便于進(jìn)行光學(xué)測(cè)試的裝置或儀器
G01N21-17 .入射光根據(jù)所測(cè)試的材料性質(zhì)而改變的系統(tǒng)
G01N21-62 .所測(cè)試的材料在其中被激發(fā),因之引起材料發(fā)光或入射光的波長(zhǎng)發(fā)生變化的系統(tǒng)
G01N21-75 .材料在其中經(jīng)受化學(xué)反應(yīng)的系統(tǒng),測(cè)試反應(yīng)的進(jìn)行或結(jié)果
G01N21-84 .專用于特殊應(yīng)用的系統(tǒng)
- 環(huán)境服務(wù)系統(tǒng)以及環(huán)境服務(wù)事業(yè)
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