[發(fā)明專利]模塊化測試插頭有效
| 申請?zhí)枺?/td> | 201010242968.7 | 申請日: | 2010-07-28 |
| 公開(公告)號: | CN101988931A | 公開(公告)日: | 2011-03-23 |
| 發(fā)明(設(shè)計)人: | A·鮑爾;T·馬斯特斯;R·巴爾 | 申請(專利權(quán))人: | ABB技術(shù)有限公司 |
| 主分類號: | G01R1/04 | 分類號: | G01R1/04;G01R31/28 |
| 代理公司: | 北京市金杜律師事務(wù)所 11256 | 代理人: | 王茂華;龐淑敏 |
| 地址: | 瑞士*** | 國省代碼: | 瑞士;CH |
| 權(quán)利要求書: | 查看更多 | 說明書: | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 模塊化 測試 插頭 | ||
相關(guān)申請的交叉引用
本申請要求對于2009年7月29日提交的第61/229,352號美國臨時專利申請的優(yōu)先權(quán),其通過整體引用結(jié)合于此。
背景技術(shù)
可以在從工廠到電力公司的任何用電環(huán)境中發(fā)現(xiàn)保護繼電器。繼電保護應(yīng)用可以包括電機、發(fā)電機、變壓器、電站母線、線路和電路、系統(tǒng)接地、網(wǎng)絡(luò)系統(tǒng)、引示線、引示通道、輸電線、引示繼電器、備用電源、重新閉合、同步、甩負(fù)荷、頻率和許多更多應(yīng)用。
通常,繼電器與將高電流和電勢減少至可供繼電器、計量器和/或儀器使用水平的電流互感器和電壓互感器相結(jié)合進行操作。繼電器通過測試開關(guān)端子電連接到系統(tǒng)。每個測試開關(guān)可以與一個或者多個繼電器關(guān)聯(lián)。一般有必要在繼電器從它的殼中移開時或者在相鄰測試開關(guān)斷開時將線路和負(fù)載端子短路。測試開關(guān)提供這一必要短路或者旁路特征。如果未執(zhí)行這一短路/旁路功能,則可能出現(xiàn)安全危險和/或變壓器損壞。
在圖1中示出并且用標(biāo)號10大體上標(biāo)示一種示例性現(xiàn)有技術(shù)測試開關(guān)。廣泛多種可用測試開關(guān)允許許多類型的應(yīng)用。如本領(lǐng)域普通技術(shù)人員眾所周知,這些應(yīng)用可以包括具有所有電勢開關(guān)、所有電流開關(guān)或者其一些組合的測試開關(guān)。
測試開關(guān)10在它的前面上包括布置成五(5)組的10個開關(guān)12a至12j。在用于現(xiàn)有技術(shù)測試開關(guān)10的圖1中所示實施例中,有與相應(yīng)電流互感器(未示出)關(guān)聯(lián)的兩個開關(guān),即開關(guān)12a和12b。測試開關(guān)10還包括八(8)個電勢開關(guān),即開關(guān)12c和12d、12e和12f、12g和12h、12i和12j。
在圖2a和圖2b中示出了與電流互感器關(guān)聯(lián)的一對開關(guān)的一個例子。該成對開關(guān)包括比如具有短接刀片14的開關(guān)12a這樣的開關(guān)和比如無短接刀片的開關(guān)12b這樣的開關(guān)。具有短接刀片的開關(guān)12a在斷開時提供在該開關(guān)斷開時對線路和負(fù)載端子的所需短路。開關(guān)12b提供電流測試插口16。
在測試開關(guān)10的后面上提供用于連接到繼電器的二十個端子。當(dāng)測試開關(guān)10裝配于轉(zhuǎn)換板(未示出)中時,可從面板的前方接近開關(guān)12a至12j,并且僅可從板的后方接近后面上的端子。
與匹配測試開關(guān)配合的在用(in-service)測試插頭被設(shè)計成在繼電器在用之時使用,以便在外部測試電路的電勢、電流或者其它可能特性。測試插頭的使用并不影響電路本身或者結(jié)合電路起作用的任何關(guān)聯(lián)保護設(shè)備的操作。
現(xiàn)有技術(shù)的在用型測試插頭在它們的構(gòu)造上受約束并且被開發(fā)專用于與具體匹配開關(guān)配置一起使用。舊設(shè)備僅可能有數(shù)目有限的配置,這致使如果不引入新開關(guān)或者尺寸可變的開關(guān)則這些舊設(shè)備將來將毫無用處。
因此本領(lǐng)域需要一種能夠易于以多個配置來放置的在用測試插頭。
發(fā)明內(nèi)容
根據(jù)本發(fā)明的一個方面,提供一種用于與測試開關(guān)一起使用的測試插頭組件。該測試插頭組件包括定位于堆疊布置中的多個模塊,至少一個模塊具有用于容納在測試開關(guān)中的向外延伸導(dǎo)電刀片。刀片在模塊內(nèi)電連接到適合于容納外部電插頭的第一電連接器。每個模塊還包括第一通孔。端板定位于多個模塊的每端上。柄與多個模塊隔開,在端板之間延伸并且固定到端板。第一桿在端板之間延伸并且固定到端板上。每個模塊的第一通孔在處于堆疊布置中時對準(zhǔn)。在對準(zhǔn)的第一通孔中容納第一桿。
根據(jù)本發(fā)明的另一方面,公開一種用于與測試開關(guān)一起使用的測試插頭組件。該測試插頭組件包括定位于堆疊布置中的多個模塊,每個模塊具有用于容納在測試開關(guān)中的向外延伸導(dǎo)電刀片。刀片在每個模塊內(nèi)電連接到適合于容納外部電插頭的至少一個電連接器。端板定位于多個模塊的每端上。柄與多個模塊隔開,在端板之間延伸并且固定到端板。每個模塊在第一側(cè)上包括多個凹陷,而在與第一側(cè)相反的第二側(cè)上包括布置成在處于堆疊布置中時將容納在相鄰模塊的凹陷中的多個凸起特征部。
附圖說明
圖1是本發(fā)明的測試插頭插入到其中的示例性現(xiàn)有技術(shù)測試開關(guān)的等距圖;
圖2a是一對單獨現(xiàn)有技術(shù)開關(guān)的右側(cè)視圖;
圖2b是一對單獨現(xiàn)有技術(shù)開關(guān)的前視圖;
圖3是根據(jù)本發(fā)明的測試插頭組件的等距圖;
圖4是測試插頭組件的右側(cè)視圖;
圖5是測試插頭組件的頂視圖;
圖6是測試插頭組件的分解圖;
圖7是第一模塊類型的右前側(cè)立面視圖;
圖8是圖7的模塊的左后側(cè)立面視圖;
圖9是圖7的模塊的左后側(cè)立面視圖,其中殼的一半被移開;
圖10是第二模塊類型的右前側(cè)立面視圖;
圖11是圖10的模塊的左后側(cè)立面視圖;
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G01R 測量電變量;測量磁變量
G01R1-00 包含在G01R 5/00至G01R 13/00和G01R 31/00組中的各類儀器或裝置的零部件
G01R1-02 .一般結(jié)構(gòu)零部件
G01R1-20 .電測量儀器中所用的基本電氣元件的改進;這些元件和這類儀器的結(jié)構(gòu)組合
G01R1-28 .在測量儀器中提供基準(zhǔn)值的設(shè)備,例如提供標(biāo)準(zhǔn)電壓、標(biāo)準(zhǔn)波形
G01R1-30 .電測量儀器與基本電子線路的結(jié)構(gòu)組合,例如與放大器的結(jié)構(gòu)組合
G01R1-36 .電測量儀器的過負(fù)載保護裝置或電路





