[發明專利]基于數字圖像處理的平墊圈直徑測量方法無效
| 申請號: | 201010240751.2 | 申請日: | 2010-07-30 |
| 公開(公告)號: | CN101907447A | 公開(公告)日: | 2010-12-08 |
| 發明(設計)人: | 胡眾義 | 申請(專利權)人: | 胡眾義 |
| 主分類號: | G01B11/08 | 分類號: | G01B11/08;G01B11/12 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 基于 數字圖像 處理 墊圈 直徑 測量方法 | ||
技術領域
本發明屬于一種無損的平墊圈直徑測量方法,無論被測量的平墊圈的生產材料是鋼性,還是柔性的,或是易損的,特別適用于那些在受力情況下會發生形變或損壞平墊圈。
背景技術
平墊圈一般用在連接件中一個是軟質地的,一個是硬質地較脆的,其主要作用是增大接觸面積,分散壓力,防止把質地軟的壓壞。平墊圈在被連接件與堅固之間的零件,一般為扁平形的金屬環,用來保護被連接件的表面不受堅固件擦傷,分散堅固件對被連接件的壓力,因此平墊圈的內徑和外徑(簡稱直徑,下同)大小直接影響堅固件表面接觸面積。
平墊圈傳統直徑測量,人們往往采用游標卡尺、千分尺等工具進行手工測量,這種測量方法由于平墊圈的生產材料原因、本身的毛刺原因或形狀不均勻原因等影響測量結果,造成測量結果誤差較大。
發明內容
本發明的目的是提供一種可以快速測量平墊圈直徑的方法,且測量結果精度高,不會受平墊圈生產材料、本身的毛刺及形狀不均勻等原因影響。
為了實現上述目的,本發明由一臺光學顯微鏡、數字圖像采集器和一臺數據處理器組成,利用程序處理功能自動測量平墊圈內徑和外徑(簡稱直徑,下同)。該發明的特點是:利用光學顯微鏡放大平墊圈,獲得較高精度的原始光學放大圖像,然后由數字圖像采集器將光學圖像轉換為數字圖像,最后經過數據處理器中的程序自動處理,顯示測量結果,并將測量結果數據和標注過的圖片生成記錄報告。
上述具體的方法是:
1)根據平墊圈的尺寸范圍,設定光學顯微鏡的放大倍數Z;
2)將平墊圈放到光學顯微鏡測量平臺上;
3)啟動數字圖像采集器,設定分辨率為r,單位(像素/毫米);
4)打開數據處理器,輸入所測量樣品的編號、名稱和其他必要的信息;
5)將獲得的數字圖像進行二值化處理,然后進行邊緣檢測,識別并提取平墊圈直徑輪廓;
6)由數據處理器在平墊圈內徑輪廓上任意取n個測量點,計算每一點至該輪廓上最遠點的距離分別為,…………,則自動測量平墊圈內徑的尺寸為,
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其中為平墊圈的內徑,n為測量次數,Z為光學顯微鏡放大倍數,r為數字圖像采集器分辨率。
7)由數據處理器在平墊圈外徑輪廓上任意取m個測量點,計算每一點至該輪廓上最遠點的距離分別為,…………,則自動測量平墊圈內徑的尺寸為,
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其中為平墊圈的外徑,m為測量次數,Z為光學顯微鏡放大倍數,r為數字圖像采集器分辨率。
8)將測量結果數據和標注過的圖片生成記錄報告。
附圖說明
圖1是平墊圈直徑圖示
圖2是平墊圈輪廓圖示
圖3是本發明流程圖
具體實施方式
下方結合說明書附圖和實施步驟對本發明作進一步詳細闡述,但以下敘述不能理解為對本發明的限制。
本發明根據平墊圈的大小以及測量精度要求,設定光學顯微鏡的放大倍數Z,然后將被測樣品放置至光學顯微鏡測量平臺上,啟動數字圖像采集器,并根據顯微鏡放大后光學圖像大小設定數字圖像采集器分辨率r,同時打開數據處理器,輸入所測量樣品的編號、名稱和其他必要的信息即可,本發明的方法自動對樣品進行測量并得出結果數據,經系統專家軟件分析數字圖像采集器所獲得的數字圖像,然后對數字圖像進行二值化處理,邊緣檢測,識別并提取平墊圈直徑輪廓,最后經過數據分析處理后自動生成測量記錄報告,即測得如附圖1所示平墊圈的內徑和外徑。
本發明的具體實施步驟如附圖3所示,描述如下:
1)打開光學顯微鏡,若有必要可對光學顯微鏡進行自檢;
2)根據被測量樣品規格設定光學顯微鏡的放大倍數Z,該參數亦可在打開數據處理器后由其通過系統專家軟件分析,提供放大倍數參考值進行設定;
3)將平墊圈放置于顯微鏡測量平臺適當位置,具體位置以成像居中為宜,一般選擇放在測量平臺中央位置;
4)啟動數字圖像采集器;
5)設定數字圖像采集器分辨率為r,r的值可根據Z的大小、被測量樣品規格來設定,亦可在打開數據處理器后由其通過系統專家軟件分析,提供分辨率參考值進行設定;
6)啟動數據處理器;
7)輸入測量樣的編號、名稱,系統專家軟件自動檢測手動設定光學顯微鏡放大倍數Z和數字圖像采集器分辨率r是否合理,若不合理則提示并給出參考值;
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