[發明專利]掃描檢測頭檢測精度的校驗方法與系統、計算處理裝置有效
| 申請號: | 201010240079.7 | 申請日: | 2010-07-29 |
| 公開(公告)號: | CN102342582A | 公開(公告)日: | 2012-02-08 |
| 發明(設計)人: | 鄧春寧;吳雯華;蔣景強;陳文欽;張益蘭;賴大斌 | 申請(專利權)人: | 龍巖煙草工業有限責任公司 |
| 主分類號: | A24C5/34 | 分類號: | A24C5/34 |
| 代理公司: | 中國國際貿易促進委員會專利商標事務所 11038 | 代理人: | 孫寶海 |
| 地址: | 364021 福建*** | 國省代碼: | 福建;35 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 掃描 檢測 精度 校驗 方法 系統 計算 處理 裝置 | ||
技術領域
本發明涉及計量技術,尤其是一種掃描檢測頭檢測精度的校驗方法與系統、計算處理裝置。
背景技術
隨著卷煙市場競爭的日趨劇烈,卷煙市場及消費者對卷煙產品的質量要求越來越高,卷煙市場的競爭已演變為卷煙產品質量的競爭。煙支重量作為卷煙產品質量中的重要組成部分,顯得尤為重要。在卷煙機中,煙支重量控制系統主要由掃描檢測頭、重量控制單元及執行機構等組成,其中,掃描檢測頭的檢測精度直接影響到煙支重量控制的效果及重量缺陷煙支剔除的準確性。因此,對掃描檢測頭的檢測精度進行在線校驗對于確保其工作質量將至關重要。
在實現本發明的過程中,發明人發現,現有的卷煙機僅僅配備了目標重量取樣功能,從在線生產的卷煙機中取出目標重量煙支,但無法精確判斷掃描檢測頭的檢測精度并據此實現對掃描檢測頭的校準。
發明內容
本發明實施例所要解決的技術問題是:提供一種掃描檢測頭檢測精度的校驗方法與系統、計算處理裝置,以精確判斷掃描檢測頭的檢測精度并據此實現對掃描檢測頭的校準。
為解決上述技術問題,本發明實施例提供的一種掃描檢測頭檢測精度的校驗方法,包括:
基于掃描檢測頭獲取預設數量的目標重量煙支;
由所述預設數量的目標重量煙支獲取所述掃描檢測頭的實際過程能力指數Cpk值;
根據所述Cpk值判斷所述掃描檢測頭的檢測精度是否合格;
在所述掃描檢測頭的檢測精度不合格時,對所述掃描檢測頭進行校準。
本發明實施例提供的一種計算處理裝置,包括:
接收模塊,用于接收目標重量煙支的實際重量值;
第一計算模塊,用于根據預設數量的目標重量煙支的實際重量值,計算得到目標重量煙支的平均重量值μ;
第二計算模塊,用于根據預設數量的目標重量煙支的實際重量值與所述平均重量值μ,計算得到重量標準偏差σ;
第三計算模塊,用于根據公式Cpk=(1-k)Cp=(1-k)T/6σ,獲取Cpk值;其中,k為偏離度,k=2|M-μ|/T,M為煙支重量預設值,T為掃描檢測頭檢測精度的允許公差范圍,T=T0/2.6,T0為煙支單重的允許誤差范圍預設值;
輸出模塊,用于輸出所述Cpk值。
本發明實施例提供的一種掃描檢測頭檢測精度的校驗系統,包括:
取樣設備,用于從卷煙機中掃描檢測頭采集當前煙支的密度信號,根據該密度信號計算當前煙支重量;在所述當前煙支重量與目標重量相等時,控制所述卷煙機的剔除門,將當前煙支作為目標重量煙支進行剔除采樣,直到剔除采樣預設數量的目標重量煙支;
測量設備,用于分別對所述取樣設備采樣的目標重量煙支進行實際重量測量,得到預設數量的目標重量煙支的實際重量值;
計算處理裝置,用于根據所述測量設備得到的預設數量的目標重量煙支的實際重量值,計算得到目標重量煙支的平均重量值μ;根據預設數量的目標重量煙支的實際重量值與所述平均重量值μ,計算得到重量標準偏差σ;根據公式Cpk=(1-k)Cp=(1-k)T/6σ,獲取Cpk值并輸出;其中,k為偏離度,k=2|M-μ|/T,M為煙支重量預設值,T為掃描檢測頭檢測精度的允許公差范圍,T=T0/2.6,T0為煙支單重的允許誤差范圍預設值。
基于本發明上述實施例提供的掃描檢測頭檢測精度的校驗方法與系統、計算處理裝置,可以基于掃描檢測頭獲取預設數量的目標重量煙支,并據此獲取掃描檢測頭的實際過程能力指數Cpk值,通過Cpk值來定量的判斷掃描檢測頭的檢測精度,并在掃描檢測頭的檢測精度不合格時,對其進行校準,與現有技術相比,實現了掃描檢測頭檢測精度高度的定量判斷并據此實現了對掃描檢測頭的校準,從而保證掃描檢測頭工作在合格狀態,保證煙支重量控制系統的正常運行,保證煙支產品的質量。
下面通過附圖和實施例,對本發明的技術方案做進一步的詳細描述。
附圖說明
為了更清楚地說明本發明實施例或現有技術中的技術方案,下面將對實施例或現有技術描述中所需要使用的附圖作簡單地介紹,顯而易見地,下面描述中的附圖僅僅是本發明的一些實施例,對于本領域普通技術人員來講,在不付出創造性勞動性的前提下,還可以根據這些附圖獲得其他的附圖。
圖1為本發明掃描檢測頭檢測精度的校驗方法一個實施例的流程圖;
圖2為本發明計算處理裝置一個實施例的結構示意圖;
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