[發明專利]跌落測試裝置

無效

• 申請號: 201010240072.5
• 申請日: 2010-07-29
• 公開（公告）號: CN102346092A
• 公開（公告）日: 2012-02-08
• 發明（設計）人: 殷樂;劉玉林;張強
• 申請（專利權）人: 鴻富錦精密工業（深圳）有限公司;鴻海精密工業股份有限公司
• 主分類號: G01M7/08
• 分類號: G01M7/08
• 代理公司: 暫無信息
• 代理人: 暫無信息

1.一種跌落測試裝置，包括一支撐桿和一沖擊平臺，一待測試件固定裝置固定在該支撐桿上用來固定一待測試的工件于其上，其特征在于：所述待測試件固定裝置包括一支撐件，所述支撐件包括一個三角形的底面，所述底面的一個頂點或一個邊將所述待測試的工件支撐其上而使所述待測試的工件的一個角朝向所述沖擊平臺。

2.如權利要求1所述的測試裝置，其特征在于：所述待測試件固定裝置還包括一水平的第一固定桿，所述第一固定桿固定在所述支撐桿上，并位于所述沖擊平臺上側。

3.如權利要求2所述的測試裝置，其特征在于：所述待測試固定裝置包括一豎直的第二固定桿，所述第二固定桿上固定了一方形的固定塊，該固定塊上設有一水平的通孔，所述第一固定桿固定在所述通孔中。

4.如權利要求3所述的測試裝置，其特征在于：所述第二固定桿的下端設有一第一樞轉連接部，所述第一樞轉連接部包括相對且相互平行的一第一側面和一第二側面，一第一樞轉孔開設在所述第一側面和第二側面之間，所述待測試固定裝置包括一連接桿，所述連接桿的一端設有一第二樞轉連接部，所述第二樞轉連接部包括相對且相互平行的一第三側面和一第四側面，所述第三側面與第一側面平行，一第二樞轉孔開設在所述第三側面和第四側面之間，所述第一樞轉孔與第二樞轉孔對齊，一轉軸樞轉固定到所述第一樞轉孔和第二樞轉孔中。

5.如權利要求4所述的測試裝置，其特征在于：所述連接桿的另一端設有一第三樞轉連接部，所述第三樞轉連接部包括相對且相互平行的一第五側面和一第六側面，所述第五側面與所述第三側面相互垂直。

6.如權利要求5所述的測試裝置，其特征在于：一第三樞轉孔開設在所述第五側面和第六側面之間，所述待測試件固定裝置還包括一固定件，所述固定件包括一第四樞轉連接部，所述第四樞轉連接部包括相對且相互平行的一第七側面和一第八側面，所述第七側面與所述第五側面相互平行，一第四樞轉孔開設在所述第七側面和第八側面之間，所述第三樞轉孔與第四樞轉孔對齊，一轉軸樞轉固定到所述第三樞轉孔和第四樞轉孔中。

7.如權利要求6所述的測試裝置，其特征在于：所述第四樞轉連接部的一端設有一桿狀的第一連接部，所述第一連接部上設有外螺紋；所述支撐件為一三棱錐，其包括一頂角，所述頂角上設有一第二連接部，所述第二連接部設有一中空的固定孔，所述固定孔中設有內螺紋，所述第一連接部固定在所述固定孔中。