[發(fā)明專(zhuān)利]雙軸共焦高空間分辨乘積處理方法無(wú)效
| 申請(qǐng)?zhí)枺?/td> | 201010239830.1 | 申請(qǐng)日: | 2010-07-29 |
| 公開(kāi)(公告)號(hào): | CN101936717A | 公開(kāi)(公告)日: | 2011-01-05 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 趙維謙;邱麗榮;江琴;劉大禮 | 申請(qǐng)(專(zhuān)利權(quán))人: | 北京理工大學(xué) |
| 主分類(lèi)號(hào): | G01B11/24 | 分類(lèi)號(hào): | G01B11/24;G01B11/00 |
| 代理公司: | 暫無(wú)信息 | 代理人: | 暫無(wú)信息 |
| 地址: | 100081 *** | 國(guó)省代碼: | 北京;11 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 雙軸共焦高 空間 分辨 乘積 處理 方法 | ||
1.雙軸共焦高空間分辨乘積處理方法,采用雙軸差動(dòng)共焦顯微術(shù)的橫向分割探測(cè)方式和兩探測(cè)器信號(hào)乘積探測(cè)實(shí)現(xiàn)對(duì)被測(cè)樣品的高空間分辨測(cè)量;該處理方法的裝置以測(cè)量面法線方向?yàn)闇y(cè)量軸線,建立雙軸共焦系統(tǒng)坐標(biāo)系(x,y,z),入射光束的光軸與系統(tǒng)z軸夾角為θ,入射光束以入射角θ經(jīng)測(cè)量透鏡入射到被測(cè)樣品上,經(jīng)被測(cè)樣品以θ角反射后,進(jìn)入采集透鏡;經(jīng)過(guò)采集透鏡出射的測(cè)量光束,經(jīng)成像透鏡成像于其焦平面上,經(jīng)放大透鏡將成像透鏡焦平面上的聚焦光斑放大并成像在探測(cè)器上;以聚焦光斑的中心為原點(diǎn),建立與接收光軸垂直的像面坐標(biāo)系(xd′yd′),同時(shí)在點(diǎn)(-M,0)和(+M,0)處設(shè)置兩個(gè)相同的針孔,形成兩個(gè)點(diǎn)探測(cè)器,M為點(diǎn)探測(cè)器相對(duì)原點(diǎn)的橫向偏離量,M對(duì)應(yīng)的橫向歸一化偏移為vxM,其特征在于:
1)優(yōu)化入射角θ和針孔的橫向歸一化偏移量vxM,減小雙軸乘積共焦響應(yīng)曲線的半高寬和兩點(diǎn)可分辨距離,使共焦顯微技術(shù)的空間分辨力最優(yōu);
2)利用上述裝置對(duì)被測(cè)樣品沿x、y、z方向掃描,兩個(gè)點(diǎn)探測(cè)器測(cè)得反應(yīng)被測(cè)樣品凸凹變化的強(qiáng)度信號(hào)IA(x,y,z,-vxM)和IB(x,y,z,+vxM),將信號(hào)IA(x,y,z,+vxM)和IB(x,y,z,-vxM)相乘并進(jìn)行歸一化處理,得到對(duì)應(yīng)被測(cè)樣品凸凹變化的強(qiáng)度曲線IDM(x,y,z,vxM);
3)依據(jù)強(qiáng)度曲線IDM(x,y,z,vxM)線性區(qū)間的大小,或依據(jù)強(qiáng)度曲線IDM(x,y,z,vxM)最大值的位置,重構(gòu)出被測(cè)樣品的表面形貌和微觀尺度。
2.依據(jù)權(quán)利1所述的雙軸共焦高空間分辨乘積處理方法,其特征在于:為了進(jìn)一步改善橫向分辨力,可在測(cè)量透鏡前面或收集透鏡后面加入光學(xué)超分辨器件,或者在測(cè)量透鏡前面和收集透鏡后面都加入光學(xué)超分辨器件。
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