[發(fā)明專利]電子部件特性檢查分類裝置

有效

• 申請?zhí)枺?/td>: 201010239528.6
• 申請日: 2010-07-27
• 公開（公告）號: CN101995526A
• 公開（公告）日: 2011-03-30
• 發(fā)明（設(shè)計）人: 中村正孝
• 申請（專利權(quán)）人: 慧萌高新科技有限公司
• 主分類號: G01R31/00
• 分類號: G01R31/00;G01R1/02;B07C5/344
• 代理公司: 中原信達知識產(chǎn)權(quán)代理有限責(zé)任公司 11219
• 代理人: 關(guān)兆輝;穆德駿

技術(shù)領(lǐng)域

本發(fā)明涉及一種將多個電子部件并列地傳送、檢查并分類的電子部件特性檢查分類裝置。詳細說明的話，涉及如下的電子部件特性檢查分類裝置：能夠向一個傳送用的旋轉(zhuǎn)的圓盤同時供給多個電子部件，檢查由上述圓盤依次傳送的電子部件的電氣特性，根據(jù)上述檢查的結(jié)果進行電子部件的分類。

背景技術(shù)

在現(xiàn)有的檢查電子部件的電氣特性并進行分類的裝置中，向收容電子部件并旋轉(zhuǎn)的圓盤逐個地供給并傳送電子部件，逐個進行檢查等的方式為通常使用的方式(專利文獻1)。

專利文獻1：日本特開2002-043194號公報

作為用于衰減或屏蔽電子設(shè)備的噪聲的電子部件，特別是，3端子電容器、LC濾波器等的復(fù)合元件的需求激增。以往，檢查所述電子部件的電氣特性并進行分類的裝置，通常使用向收容電子部件并旋轉(zhuǎn)的圓盤逐個地供給上述電子部件并傳送至檢查用電極的方法。因為上述的電子部件要全部進行檢查，強烈要求提高其處理速度。為使處理量增加，可考慮準備多個上述圓盤，并使其旋轉(zhuǎn)且并列地處理的方法。這樣不僅導(dǎo)致要準備多個圓盤及多組驅(qū)動機構(gòu)之類的裝置規(guī)模的擴大，而且還要求相應(yīng)的成本負擔。

發(fā)明內(nèi)容

本發(fā)明的主要目的在于提供一種電子部件特性檢查分類裝置，能夠沿用現(xiàn)有檢查方法的基本結(jié)構(gòu)，抑制硬件增大，擴大處理量。

本發(fā)明的另一具體目的在于提供一種電子部件特性檢查分類裝置，能夠向一個旋轉(zhuǎn)的圓盤同時并列地供給電子部件，并進行傳送、檢查、分類。

為了達成上述目的，本發(fā)明技術(shù)方案1的電子部件特性檢查分類裝置，向旋轉(zhuǎn)的圓盤依次供給電子部件，并保持、傳送上述電子部件，用檢查單元進行檢查，根據(jù)上述檢查的結(jié)果對電子部件進行分類，上述電子部件特性檢查分類裝置的特征在于，包括：圓盤，具有開口組，能夠以開口單位或開口對單位保持并傳送電子部件；圓盤驅(qū)動機構(gòu)，以開口對單位旋轉(zhuǎn)驅(qū)動上述圓盤；電子部件供給部，以開口對單位向上述開口組供給電子部件；檢查部，與檢查項目數(shù)對應(yīng)地被配置于上述圓盤的轉(zhuǎn)動區(qū)域，由具有與成對的電子部件對應(yīng)的電極單元的檢查單元組構(gòu)成，取得各電子部件的檢查數(shù)據(jù)；分類裝置，被配置于上述圓盤的轉(zhuǎn)動區(qū)域，根據(jù)按所取得的檢查數(shù)據(jù)分類電子部件的分類結(jié)果，對電子部件進行分類；和控制裝置，以能夠同時向上述圓盤供給2個電子部件并進行檢查的方式驅(qū)動，通過上述檢查部取得檢查數(shù)據(jù)，使上述分類裝置根據(jù)基于檢查結(jié)果的分類進行分類。

本發(fā)明技術(shù)方案2所述的電子部件特性檢查分類裝置的特征在于，在技術(shù)方案1所述的電子部件特性檢查分類裝置中，上述檢查部能夠按所檢查的電氣特性的各內(nèi)容分別同時檢查2個電子部件，上述分類裝置根據(jù)上述檢查的結(jié)果同時對2個電子部件按各自的分類進行分類。

本發(fā)明技術(shù)方案3所述的電子部件特性檢查分類裝置的特征在于，在技術(shù)方案1所述的電子部件特性檢查分類裝置中，上述電子部件供給部包括檢測能夠供給電子部件的狀態(tài)的部件傳感器，上述圓盤驅(qū)動機構(gòu)還包括以開口單位對上述圓盤進行旋轉(zhuǎn)驅(qū)動的機構(gòu)，上述控制裝置通過根據(jù)上述部件傳感器的輸出控制上述圓盤的旋轉(zhuǎn)，以開口對單位或開口單位供給電子部件。

根據(jù)本發(fā)明，能夠提供一種電子部件特性檢查分類裝置，供給電子部件，在旋轉(zhuǎn)的圓盤收容電子部件，檢查由上述圓盤依次傳送的電子部件的電氣特性，根據(jù)上述檢查的結(jié)果對電子部件進行分類，雖然圓盤及其圓盤驅(qū)動機構(gòu)為一組，但能夠獲得同時將2個電子部件向上述圓盤供給并傳送的并列處理的効果，能夠高速地進行處理。

附圖說明

圖1是表示將現(xiàn)有的逐個處理電子部件作為前提的典型設(shè)計的電子部件特性檢查分類裝置(比較對象裝置)的配置圖。

圖2是作為圖1的裝置的傳送用圓盤的具體例，表示具有50分割的開口的圓盤的俯視圖。

圖3是表示在本發(fā)明的電子部件特性檢查分類裝置中使用的圓盤的具體例的局部放大俯視圖，是表示可將兩個電子部件同時傳送、檢查的圓盤中的開口的組合的圖。

圖4是本發(fā)明的電子部件特性檢查分類裝置的結(jié)構(gòu)圖。

圖5是用于說明在圓盤的開口中收容的電子部件的姿態(tài)的透視圖。

圖6是表示用本發(fā)明的電子部件特性檢查分類裝置逐個供給電子部件時的供給步驟(A)、(B)、(C)的說明圖。

圖7是表示用本發(fā)明的電子部件特性檢查分類裝置逐個供給電子部件時的另一供給步驟(D)、(E)、(F)的說明圖。

具體實施方式