[發明專利]校正定位結構及其所適用的多功能事務機有效
| 申請號: | 201010239363.2 | 申請日: | 2010-07-27 |
| 公開(公告)號: | CN102340612A | 公開(公告)日: | 2012-02-01 |
| 發明(設計)人: | 彭德成;黃麗如 | 申請(專利權)人: | 東友科技股份有限公司 |
| 主分類號: | H04N1/00 | 分類號: | H04N1/00;H04N1/04;H04N1/047 |
| 代理公司: | 隆天國際知識產權代理有限公司 72003 | 代理人: | 鄭小軍;馮志云 |
| 地址: | 中國臺*** | 國省代碼: | 中國臺灣;71 |
| 權利要求書: | 查看更多 | 說明書: | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 校正 定位 結構 及其 適用 多功能 事務 | ||
1.一種校正定位結構,適用于一掃描模塊,其中該掃描模塊具有一掃描平臺及一掃描窗口,而該掃描窗口具有一掃描寬度,該校正定位結構至少包括:
一校正結構,其設置于該掃描平臺上,且相對于該掃描寬度設置;以及
至少一定位結構,其重疊設置于部分該校正結構,并設置于該掃描寬度之外。
2.如權利要求1所述的校正定位結構,其中該掃描模塊具有一掃描裝置,用以掃描該掃描窗口上的一待掃描文件。
3.如權利要求2所述的校正定位結構,其中該掃描裝置還具有一影像讀取器及一發光元件,該影像讀讀取器為接觸型影像傳感器或電荷耦合元件其中之一。
4.如權利要求2所述的校正定位結構,其中所述校正定位結構設置于該掃描裝置與該掃描窗口之間。
5.如權利要求1所述的校正定位結構,其中該校正結構與所述至少一定位結構為一組顏色對比強烈的色片,且具有一交接處,用以根據該交接處所感應電壓的變化來判斷該掃描裝置的掃描范圍的起點位置。
6.如權利要求1所述的校正定位結構,其中該定位結構的一側邊對齊于該校正結構的一側邊,并緊鄰于相對該掃描寬度之外的該校正結構上設置。
7.如權利要求1所述的校正定位結構,其中所述至少一定位結構包含兩個定位結構,兩者間的距離實質上相當于該掃描寬度。
8.一種多功能事務機,至少包括:
一掃描模塊,包含:
一掃描平臺;
一掃描窗口,具有一掃描寬度;以及
一校正定位結構,其具有一校正結構及至少一定位結構,其中該校正結構設置于該掃描平臺上,且相對于該掃描寬度設置,所述至少一定位結構重疊設置于部分該校正結構,并設置于該掃描寬度之外。
9.如權利要求8所述的多功能事務機,其中所述定位結構的一側邊對齊于該校正結構的一側邊,并緊鄰于相對該掃描寬度之外的該校正結構上設置。
10.如權利要求8所述的多功能事務機,其中該校正結構與所述至少一定位結構為一組顏色對比強烈的色片,且具有一交接處,用以根據該交接處所感應電壓的變化來判斷該掃描裝置的掃描范圍的起點位置。
該專利技術資料僅供研究查看技術是否侵權等信息,商用須獲得專利權人授權。該專利全部權利屬于東友科技股份有限公司,未經東友科技股份有限公司許可,擅自商用是侵權行為。如果您想購買此專利、獲得商業授權和技術合作,請聯系【客服】
本文鏈接:http://www.szxzyx.cn/pat/books/201010239363.2/1.html,轉載請聲明來源鉆瓜專利網。





