[發明專利]陣列基板、液晶面板和液晶顯示器以及制造和檢測方法有效
| 申請號: | 201010239306.4 | 申請日: | 2010-07-27 |
| 公開(公告)號: | CN102338943A | 公開(公告)日: | 2012-02-01 |
| 發明(設計)人: | 秦緯;彭志龍;何祥飛 | 申請(專利權)人: | 北京京東方光電科技有限公司 |
| 主分類號: | G02F1/13 | 分類號: | G02F1/13;G02F1/1362;G02F1/1343;G02F1/1333;H01L27/02;H01L21/77 |
| 代理公司: | 北京同立鈞成知識產權代理有限公司 11205 | 代理人: | 劉芳 |
| 地址: | 100176 北*** | 國省代碼: | 北京;11 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 陣列 液晶面板 液晶顯示器 以及 制造 檢測 方法 | ||
技術領域
本發明涉及液晶顯示技術,尤其涉及一種陣列基板、液晶面板和液晶顯示器以及制造和檢測方法。
背景技術
液晶顯示器是目前常用的平板顯示器,其中薄膜晶體管液晶顯示器(Thin?Film?Transistor?Liquid?Crystal?Display,簡稱TFT-LCD)是液晶顯示器中的主流產品。液晶面板是液晶顯示器中的重要部件,主要包括對盒設置的陣列基板和彩膜基板,期間填充有液晶層。
在現有技術中,為了提高產品良率,液晶面板顯示畫面的檢查工序是必不可少的。圖1為現有技術中陣列基板上的檢測結構示意圖,圖2為現有技術中液晶面板的檢測結構示意圖,如圖1和2所示,陣列基板的第一襯底基板11上形成有橫縱交叉的多條數據線13和柵線12,圍設形成矩陣形式排列的多個像素單元。像素單元所在區域可稱為像素區域,陣列基板上除了像素區域以外的周邊區域可稱為外圍區域。數據線13和柵線12分別通過數據線引線131和柵線引線121延伸至外圍區域中,以便與驅動電路相連。陣列基板上還形成有多條公共電極線14,公共電極線14一般與柵線12同層形成且相互平行,公共電極線14延伸至外圍區域,以便與彩膜基板上的公共電極相連。公共電極線14一般通過匯聚線15連通至陣列基板的四角。彩膜基板的第二襯底基板上形成間隔設置的彩膜樹脂和黑矩陣,并形成有覆蓋整個第二襯底基板的公共電極。陣列基板和彩膜基板對盒后,公共電極線和公共電極之間通過封框膠內的導電球相導通。在對液晶盒進行檢測時,通過檢測設備上的金屬針16接觸液晶盒上的信號輸入點,也即數據線13、柵線12以及公共電極線14延伸至外圍區域的部分,給液晶盒上的陣列基板送入驅動信號,在驅動信號的驅動下檢測顯示畫面是否異常。
采用上述方案對液晶面板進行檢測的缺陷在于,無法檢測出陣列基板外圍區域的裂紋和破損。
發明內容
本發明提供一種陣列基板、液晶面板和液晶顯示器以及制造和檢測方法,以檢測液晶面板外圍區域的裂紋和破損。
本發明提供一種陣列基板,所述陣列基板上至少形成有柵線、數據線和公共電極線以及柵線引線和數據線引線,還包括:設置在所述陣列基板的外圍區域四周的第一測試線;
所述第一測試線具有兩個第一測試端,且所述兩個第一測試端上方均設有接觸過孔,所述接觸過孔中填充有接觸電極,所述接觸電極暴露在所述陣列基板的表面。
本發明提供一種液晶面板,包括對盒設置的陣列基板和彩膜基板,其間填充有液晶層,所述陣列基板采用上述的陣列基板。
本發明提供一種液晶顯示器,包括上述液晶面板。
本發明提供一種陣列基板的制造方法,至少包括形成柵線、數據線和公共電極線以及柵線引線和數據線引線的步驟,還包括:
在所述陣列基板的外圍區域四周形成第一測試線,且所述第一測試線具有兩個第一測試端;
在所述兩個第一測試端上方形成接觸過孔,并在所述接觸過孔中填充接觸電極,所述接觸電極暴露在所述陣列基板的表面。
本發明提供一種液晶面板的制造方法,包括分別制作陣列基板和彩膜基板,且將所述陣列基板和彩膜基板對盒并填充液晶層的流程,制作陣列基板的流程還包括:上述的陣列基板的制造方法。
本發明提供一種如上述的液晶面板的檢測方法,包括:
將測試探針分別與設置在陣列基板的外圍區域四周的第一測試線的兩個測試端連接,獲取所述測試探針之間的電特性參數值;
根據所述電特性參數值,確定所述液晶面板存在破損。
本發明提供的陣列基板、液晶面板和液晶顯示器以及制造和檢測方法,通過采用測試探針在第一測試線的兩個第一測試端上測試第一測試線的電阻或者電流,確定陣列基板外圍區域是否存在破損和裂紋,提高了液晶面板檢測的可靠性。
附圖說明
圖1為現有技術中陣列基板上的檢測結構示意圖;
圖2為現有技術中液晶面板的檢測結構示意圖;
圖3為本發明陣列基板實施例一的俯視結構示意圖;
圖4為本發明陣列基板實施例二中數據線測試線的結構示意圖;
圖5為圖4所示陣列基板沿A-A向的剖面結構示意圖;
圖6為本發明陣列基板實施例二中柵線測試線的局部結構示意圖;
圖7為圖6所示陣列基板沿B-B向的剖面結構示意圖;
圖8為圖4所示陣列基板實施例一中第一測試端的局部結構示意圖;
圖9為本發明陣列基板實施例三的結構示意圖;
圖10為與本發明陣列基板實施例三對應的彩膜基板的結構示意圖;
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