[發(fā)明專利]印刷電路板的制造方法有效
| 申請(qǐng)?zhí)枺?/td> | 201010239116.2 | 申請(qǐng)日: | 2010-07-26 |
| 公開(公告)號(hào): | CN101965106A | 公開(公告)日: | 2011-02-02 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 水谷秀夫;松井俊幸;出口篤 | 申請(qǐng)(專利權(quán))人: | 揖斐電株式會(huì)社 |
| 主分類號(hào): | H05K3/06 | 分類號(hào): | H05K3/06;H05K3/28 |
| 代理公司: | 北京林達(dá)劉知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理事務(wù)所(普通合伙) 11277 | 代理人: | 劉新宇 |
| 地址: | 日本*** | 國(guó)省代碼: | 日本;JP |
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| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 印刷 電路板 制造 方法 | ||
技術(shù)領(lǐng)域
本發(fā)明涉及一種在無(wú)電解鍍膜上形成電解鍍膜的印刷電路板的制造方法。
背景技術(shù)
在專利文獻(xiàn)1中公開了一種通過(guò)半添加法(SAP)來(lái)形成布線的方法。在該方法中,在絕緣層上形成無(wú)電解銅鍍膜。接著,在無(wú)電解銅鍍膜上形成抗鍍層,該抗鍍層具有使上述無(wú)電解銅鍍膜的一部分露出的開口。接著,在從該開口露出的無(wú)電解銅鍍膜上形成電解銅鍍膜。接著,在使用抗蝕劑剝離液去除抗鍍層之后,使用蝕刻液來(lái)去除無(wú)電解銅鍍膜。由此,形成由無(wú)電解銅鍍膜和電解銅鍍膜構(gòu)成的導(dǎo)體圖案(布線)。
專利文獻(xiàn)1:國(guó)際公開第01/13686號(hào)
發(fā)明內(nèi)容
發(fā)明要解決的問(wèn)題
近年來(lái),布線不斷細(xì)間距化,有要求更小L(線寬)/S(線距)的趨勢(shì)。但是,在上述專利文獻(xiàn)1所記載的制造方法中,在對(duì)無(wú)電解銅鍍膜進(jìn)行蝕刻時(shí),認(rèn)為由與該無(wú)電解銅鍍膜相同的材料構(gòu)成的電解銅鍍膜也被蝕刻。并且,擔(dān)心其結(jié)果是使布線變細(xì)。因此,還考慮預(yù)先考慮被蝕刻的量而在抗鍍層的開口內(nèi)將電解銅鍍膜形成得較厚。但是,在這種情況下,認(rèn)為由于抗鍍層的寬度變小(相反縱橫比變大)而抗蝕劑的密合性降低。因此,有可能導(dǎo)致例如在顯影后的水洗工序、基板的處理中抗鍍層剝離。
本發(fā)明的目的在于提供一種能夠抑制形成布線時(shí)布線變細(xì)的印刷電路板的制造方法。
用于解決問(wèn)題的方案
本發(fā)明的一個(gè)觀點(diǎn)所涉及的印刷電路板的制造方法包含以下步驟:在層間樹脂絕緣層上形成無(wú)電解鍍膜;在上述無(wú)電解鍍膜上形成抗鍍層,該抗鍍層具有使該無(wú)電解鍍膜的一部分露出的開口;在從上述開口露出的上述無(wú)電解鍍膜上形成電解鍍膜;利用含有胺的抗蝕劑剝離液來(lái)去除上述抗鍍層;利用上述抗蝕劑剝離液來(lái)使存在于相鄰的上述電解鍍膜之間的上述無(wú)電解鍍膜的厚度變薄;以及通過(guò)使用蝕刻液去除存在于上述電解鍍膜之間的上述無(wú)電解鍍膜來(lái)形成導(dǎo)體圖案。
發(fā)明的效果
根據(jù)本發(fā)明,能夠抑制形成布線時(shí)布線變細(xì)。
附圖說(shuō)明
圖1是用于說(shuō)明在本發(fā)明的實(shí)施方式1所涉及的印刷電路板的制造方法中形成無(wú)電解鍍膜的工序的圖。
圖2是用于說(shuō)明在實(shí)施方式1中形成抗鍍層的工序的圖。
圖3是用于說(shuō)明在實(shí)施方式1中形成電解鍍膜的工序的圖。
圖4是用于說(shuō)明在實(shí)施方式1中去除抗鍍層的工序的圖。
圖5是圖4的局部放大圖。
圖6是表示由于與蝕刻液起反應(yīng)而在電解鍍膜的表面形成了絡(luò)合物的樣子的圖。
圖7是用于說(shuō)明在實(shí)施方式1中通過(guò)蝕刻來(lái)去除無(wú)電解鍍膜的工序的圖。
圖8是通過(guò)實(shí)施方式1的制造方法形成的布線的放大圖。
圖9是表示在本發(fā)明的實(shí)施方式2中制造的印刷電路板的圖。
圖10是表示實(shí)施方式2所涉及的印刷電路板的制造方法中的芯基板的圖。
圖11是用于說(shuō)明在實(shí)施方式2中使導(dǎo)體圖案粗糙化的工序的圖。
圖12是用于說(shuō)明在實(shí)施方式2中形成絕緣層的工序的圖。
圖13是用于說(shuō)明在實(shí)施方式2中在絕緣層內(nèi)形成通路孔的工序的圖。
圖14是用于說(shuō)明在實(shí)施方式2中使絕緣層的表面粗糙化的工序的圖。
圖15是用于說(shuō)明在實(shí)施方式2中形成無(wú)電解鍍膜的工序的圖。
圖16是用于說(shuō)明在實(shí)施方式2中形成抗鍍層的工序的圖。
圖17是用于說(shuō)明在實(shí)施方式2中在抗蝕劑上形成開口的工序的圖。
圖18是用于說(shuō)明在實(shí)施方式2中形成電解鍍膜的工序的圖。
圖19是用于說(shuō)明在實(shí)施方式2中去除抗蝕劑的工序的圖。
圖20是用于說(shuō)明在實(shí)施方式2中使無(wú)電解鍍膜的厚度變薄的工序的圖。
圖21是表示由于與蝕刻液起反應(yīng)而在電解鍍膜的表面形成了絡(luò)合物的樣子的圖。
圖22是用于說(shuō)明在實(shí)施方式2中通過(guò)蝕刻來(lái)去除無(wú)電解鍍膜的工序的圖。
附圖標(biāo)記說(shuō)明
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