[發(fā)明專利]多色調(diào)光掩模、多色調(diào)光掩模的制造方法和圖案轉(zhuǎn)印方法無效
| 申請(qǐng)?zhí)枺?/td> | 201010238214.4 | 申請(qǐng)日: | 2010-07-23 | 
| 公開(公告)號(hào): | CN101963753A | 公開(公告)日: | 2011-02-02 | 
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 柳井涼一;三好將之 | 申請(qǐng)(專利權(quán))人: | HOYA株式會(huì)社 | 
| 主分類號(hào): | G03F1/14 | 分類號(hào): | G03F1/14;G03F1/08;G03F7/20 | 
| 代理公司: | 北京三友知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理有限公司 11127 | 代理人: | 丁香蘭;張志楠 | 
| 地址: | 日本*** | 國省代碼: | 日本;JP | 
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| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 多色 調(diào)光 制造 方法 圖案 | ||
1.一種多色調(diào)光掩模,其是在透明基板上形成有規(guī)定的轉(zhuǎn)印圖案的多色調(diào)光掩模,所述規(guī)定的轉(zhuǎn)印圖案含有遮光部、透光部和半透光部,
其特征在于,
所述遮光部是在所述透明基板上層積半透光膜和遮光膜而成的,
所述透光部是所述透明基板露出而成的,
所述半透光部是形成于所述透明基板上的所述半透光膜露出而成的,
所述半透光膜具有第1半透光層和層積于所述第1半透光層上的第2半透光層,
該多色調(diào)光掩模進(jìn)行了減膜以使構(gòu)成所述半透光部的所述第2半透光層的膜厚小于構(gòu)成所述遮光部的所述第2半透光層的膜厚。
2.如權(quán)利要求1所述的多色調(diào)光掩模,其特征在于,通過構(gòu)成所述半透光部的所述第1半透光層和經(jīng)減膜的所述第2半透光層,所述半透光部對(duì)波長在365nm~436nm范圍的光的透過率具有1%~10%的波長依賴性。
3.如權(quán)利要求1或2所述的多色調(diào)光掩模,其特征在于,對(duì)于波長在365nm~436nm范圍的光,構(gòu)成所述半透光部的所述第2半透光層的透過率的波長依賴性與構(gòu)成所述半透光部的所述第1半透光層的透過率的波長依賴性相互不同。
4.如權(quán)利要求1或2所述的多色調(diào)光掩模,其特征在于,使構(gòu)成所述半透光部的所述第2半透光層的減膜量為構(gòu)成所述遮光部的所述第2半透光層的膜厚的3%~95%。
5.如權(quán)利要求1或2所述的多色調(diào)光掩模,其特征在于,對(duì)于波長為365nm~436nm的光,構(gòu)成所述半透光部的所述第1半透光層與所述第2半透光層的層積層的透過率為3%~60%。
6.如權(quán)利要求1或2所述的多色調(diào)光掩模,其特征在于,所述多色調(diào)光掩模還具備高透過率半透光部,所述高透過率半透光部是形成于所述透明基板上的所述第1半透光層露出而成的。
7.如權(quán)利要求1或2所述的多色調(diào)光掩模,其特征在于,所述第2半透光層含有硅化鉬或其化合物。
8.如權(quán)利要求1或2所述的多色調(diào)光掩模,其特征在于,所述第1半透光層和所述第2半透光層彼此對(duì)對(duì)方的蝕刻條件具有耐性。
9.一種多色調(diào)光掩模的制造方法,其通過對(duì)形成于透明基板上的半透光膜和遮光膜分別進(jìn)行構(gòu)圖來形成含有遮光部、透光部和具有規(guī)定透過率的半透光部的轉(zhuǎn)印圖案,
其特征在于,所述多色調(diào)光掩模的制造方法包括:
準(zhǔn)備光掩模坯體的工序,該光掩模坯體在透明基板上形成有包含第1半透光層、第2半透光層的半透光膜并進(jìn)一步層積有遮光膜;以及
通過對(duì)所述半透光膜和所述遮光膜分別進(jìn)行構(gòu)圖來形成所述遮光部、所述透光部和所述半透光部的工序,
在形成所述半透光部時(shí),對(duì)形成于所述第1半透光層上的所述第2半透光層進(jìn)行規(guī)定量的減膜,從而通過所述第1半透光層與經(jīng)減膜的所述第2半透光層的層積來制成所述具有規(guī)定的透過率的半透光部。
10.如權(quán)利要求9所述的多色調(diào)光掩模的制造方法,其特征在于,在對(duì)所述第2半透光層膜進(jìn)行減膜的工序中,使由于所述遮光膜被蝕刻而露出的所述第2半透光層與化學(xué)藥劑接觸。
11.一種圖案轉(zhuǎn)印方法,其特征在于具有如下工序:隔著權(quán)利要求1或2所述的多色調(diào)光掩模或基于權(quán)利要求9或10的制造方法的多色調(diào)光掩模,向被轉(zhuǎn)印體照射包含i線~g線的光的曝光光,將所述轉(zhuǎn)印圖案轉(zhuǎn)印至在所述被轉(zhuǎn)印體上形成的抗蝕劑膜。
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G03F 圖紋面的照相制版工藝,例如,印刷工藝、半導(dǎo)體器件的加工工藝;其所用材料;其所用原版;其所用專用設(shè)備
G03F1-00 用于圖紋面的照相制版的原版,例如掩膜,光掩膜;其所用空白掩膜或其所用薄膜;其專門適用于此的容器;其制備
G03F1-20 .用于通過帶電粒子束(CPB)輻照成像的掩膜或空白掩膜,例如通過電子束;其制備
G03F1-22 .用于通過100nm或更短波長輻照成像的掩膜或空白掩膜,例如 X射線掩膜、深紫外
G03F1-26 .相移掩膜[PSM];PSM空白;其制備
G03F1-36 .具有臨近校正特征的掩膜;其制備,例如光學(xué)臨近校正(OPC)設(shè)計(jì)工藝
G03F1-38 .具有輔助特征的掩膜,例如用于校準(zhǔn)或測試的特殊涂層或標(biāo)記;其制備
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