[發明專利]噴墨記錄裝置

有效

• 申請號: 201010237855.8
• 申請日: 2010-07-23
• 公開（公告）號: CN102001223A
• 公開（公告）日: 2011-04-06
• 發明（設計）人: 巖崎芳生;原田信浩;櫻場正彥
• 申請（專利權）人: 株式會社日立產機系統
• 主分類號: B41J2/115
• 分類號: B41J2/115;B41J2/01
• 代理公司: 北京尚誠知識產權代理有限公司 11322
• 代理人: 龍淳

技術領域

本發明涉及噴墨記錄裝置，通過由使用者選擇是否實施在非印字期間進行的最佳帶電相位檢測處理，能夠進行高頻率印字，并且，對墨噴出壓力、周圍溫度或其兩者進行監視，在帶電相位可能從最佳帶電相位偏離的情況下通知使用者，從而防止印字品質紊亂。

背景技術

在噴墨記錄裝置中，將從噴嘴噴出的墨以一定周期顆粒化，在該顆粒化的瞬間的最佳時刻(タィミング)使其帶上與印字信息相應的電荷從而發生偏轉，由此進行印字。此時，若進行帶電的時刻偏離則會造成印字品質劣化，所以為了檢測出進行帶電的最佳時刻，將顆粒化周期分為N相，按每1/N相使帶電相位偏移并使墨顆粒帶上不會發生偏轉的程度的電，根據各個帶電量進行最佳的帶電相位的檢測。因為最佳帶電相位的偏離受到墨噴出壓力、周圍溫度等變化的影響，所以該最佳帶電相位的檢測在印字與印字之間的非印字期間進行。

此處，印字速度即高頻率印字性能是表示噴墨記錄裝置的性能的一個指標，作為用于提高印字速度的一個方法存在縮短印字與印字之間的非印字期間的方法。在印字與印字之間的非印字期間，如之前所述進行最佳帶電相位的檢測和對墨顆粒施加的與印字信息相應的電荷量的計算等處理，最佳帶電相位的檢測處理占用印字與印字之間的非印字期間的大約一半的時間。

作為在印字與印字之間的非印字期間進行最佳帶電相位的檢測處理的噴墨記錄裝置的示例，如專利文獻1所示。

專利文獻1：日本特開2003-220707

發明內容

在上述的現有技術中，由于在噴墨記錄裝置的印字與印字之間的非印字期間進行的最佳帶電相位檢測處理的處理時間，限制了印字速度。

對此，本發明的目的在于，使噴墨記錄裝置的使用者能夠選擇是否實施墨顆粒的最佳帶電相位檢測處理，當噴墨記錄裝置的使用者選擇不實施墨顆粒的最佳帶電相位檢測處理的情況下，不實施最佳帶電相位的檢測處理，以事前設定好的帶電相位進行印字動作，由此來縮短印字與印字之間的非印字期間。

此外，目的還在于，在不進行最佳帶電相位的檢測處理的情況下，監視墨噴出壓力和周圍溫度，當帶電相位可能從最佳帶電相位偏離的情況下，通知噴墨記錄裝置的使用者，由此來防止印字品質的紊亂。

為了解決上述問題，本發明的噴墨記錄裝置能夠使墨顆粒的帶電相位變為最佳相位，該噴墨記錄裝置包括：噴嘴；使從噴嘴噴出的墨以任意的周期成為顆粒狀的墨顆粒生成機構；從噴嘴噴出的墨噴出的壓力檢測機構；使墨顆粒帶有基于印字信息的電荷和任意的電荷的機構；相對墨顆粒生成周期按每1/N相使帶電相位偏移的機構；檢測各相位的帶電量的機構；根據帶電電荷量使帶電的墨顆粒偏轉的機構；最佳帶電相位檢測機構，其在不進行印字的期間相對墨顆粒生成周期按每1/N相使墨顆粒帶上任意的電荷量，檢測各相位的帶電量，由此檢測墨顆粒的最佳帶電相位；和周圍溫度檢測機構，該噴墨記錄裝置能夠選擇是否實施墨顆粒的最佳帶電相位檢測動作。

根據本發明，在噴墨記錄裝置的使用者選擇不實施墨顆粒的最佳帶電相位檢測處理的情況下，能夠縮短噴墨記錄裝置的印字與印字之間的非印字間隔，與進行最佳帶電相位檢測處理的情況相比能夠實施更加高速的印字動作。

附圖說明

圖1是表示本發明的噴墨記錄裝置的結構例的框圖。

圖2是表示對墨顆粒施加帶電電壓的時刻與印字文字的印字品質的關系的圖。

圖3是表示相位傳感器檢測到的帶電電壓的波形與相位判定裝置檢測到的最佳帶電相位的關系的圖。

圖4是表示用于噴墨記錄裝置的使用者進行最佳帶電相位檢測的設定的環境設定畫面的示例的圖。

圖5是表示在本發明的噴墨記錄裝置中使用者選擇實施最佳帶電相位檢測處理的情況的動作例的流程圖。

圖6是表示在本發明的噴墨記錄裝置中使用者選擇不實施最佳帶電相位檢測處理的情況的動作例的流程圖。

附圖標記的說明

100……噴墨記錄裝置，101……控制裝置，101a……最佳帶電相位檢測實施存儲器，101b……最佳帶電相位存儲器，101c……初始墨壓力存儲器，101d……初始周圍溫度存儲器，101e……墨壓力存儲器，101f……周圍溫度存儲器，102……程序存儲裝置，103……存儲器，104……顯示裝置，105……觸摸面板，106……輸入裝置，107……被印字物檢測裝置，108……相位判定裝置