[發明專利]一種基于雙目三維視覺的深度測量方法

無效

• 申請號: 201010237096.5
• 申請日: 2010-07-23
• 公開（公告）號: CN101907448A
• 公開（公告）日: 2010-12-08
• 發明（設計）人: 洪啟松;張平;湯峰
• 申請（專利權）人: 華南理工大學
• 主分類號: G01B11/22
• 分類號: G01B11/22;G06N3/08
• 代理公司: 廣州市華學知識產權代理有限公司 44245
• 代理人: 黃磊;李衛東

1.一種基于雙目三維視覺的深度測量方法，其特征在于，包括如下步驟：

(1)由兩個攝像機分別獲取物體的左圖像和右圖像，物體各點在左圖像和右圖像中對應有左圖像坐標和右圖像坐標，且均為二維坐標；獲取若干個物體的特征點；

(2)建立BP神經網絡模型；

(3)根據所述步驟(1)獲取的左圖像和右圖像，提取物體底部平面特征點的左圖像坐標和右圖像坐標；通過所述步驟(2)所得的BP神經網絡模型對所述特征點進行訓練，將各特征點的左圖像坐標和右圖像坐標均映射到三維世界坐標，并將所有三維世界坐標擬合成三維世界坐標點集，建立物體底部表面的三維平面函數，所述三維平面函數滿足：Z＝aX+bY+c，其中，X、Y、Z分別為底部表面各點的三個世界坐標值，a、b、c分別為函數參數；

(4)根據所述步驟(1)獲取的左圖像和右圖像，提取物體頂部平面一個特征點的左圖像坐標和右圖像坐標；通過所述步驟(2)所得的BP神經網絡模型訓練，所述特征點的左圖像坐標和右圖像坐標映射到三維世界坐標，設為P(P_x，P_y，P_z)；

(5)求取物體的深度值，所述深度值滿足：其中Dist為所求的深度值，P_x、P_y、P_z分別為步驟(4)特征點三維世界坐標對應的三個坐標值，a、b、c分別為所述步驟(3)物體底部表面的三維平面函數的三個參數值。

2.根據權利要求1所述的基于雙目三維視覺的深度測量方法，其特征在于，所述步驟(1)中，特征點的獲取步驟如下：在物體的特征位置打上激光，通過用圖像處理獲取激光所在的位置點，這些位置點就是所述的特征點。

3.根據權利要求1所述的基于雙目三維視覺的深度測量方法，其特征在于，所述步驟(2)中，BP神經網絡模型包括三層前饋網絡，分別為輸入層、隱含層和輸出層，所述輸入層包括四個神經元，分別對應特征點左圖像坐標的兩個坐標值和右圖像坐標的兩個坐標值；所述隱含層包括八個神經元；所述輸出層包括三個神經元，分別對應特征點的世界坐標的三個坐標值；所述輸入層的各神經元與隱含層的各神經元一一映射連接，所述隱含層的各神經元與輸出層的各神經元一一映射連接。